Inertgas-Rastersondenmikroskop

Technische Universität Ilmenau, Dezernat Planung und Haushalt, SG Beschaffung

Es wird ein Rastersondenmikroskop zur Untersuchung von elektrochemischen Phasengrenzen und Oberflächen mit hoher Ortsauflösung in inerter Argonatmosphäre (<1 ppm Sauerstoff und Wasser) benötigt.
Folgende Messtechniken müssen zwingend vorhanden sein:
— Atomic force microscopy (AFM) im contact und tapping mode;
— Conductive AFM;
— Kraft-Abstands-Kurven und colloidal probe spectroscopy;
— Magnetic force microscopy (MFM).

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-04-01. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2014-01-31.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• • Bruker AXS S.A.S.

Wer?

• • Technische Universität Ilmenau, Dezernat Planung und Haushalt, SG Beschaffung

Wie?

• • Elektronenmikroskope › Rasterelektronenmikroskope

Wo?

• • Deutschland