Lieferung eines Feldemissionstransmissionselektronenmikroskops

Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e. V.

Die Ausschreibung zielt auf die Produktion, Lieferung und betriebsfertige Installation eines 200kV Transmissionselektronenmikroskops mit Feldemissionsquelle, rasterndem Strahlsystem (STEM) und energiedispersivem Röntgenspektrometer (EDXS-System) sowie weiterem Zubehör mit folgenden Mindestanforderungen:
Elektronenquelle:
— Schottky-Feldemitter,
— Richtstrahlwert: ≥ 4-10(hoch)8 Acm(hoch)-2sr(hoch)-1 (bei 200 kV),
— Maximale Beschleunigungsspannung 200 kV,
— Beschleunigungsspannung ohne Umbau wahlweise einstellbar von 20 bis 200 kV,
— Alignierung des Mikroskops mind. für 200 kV,
— Sondenstrom ≥ 0.5 nA für einen Strahldurchmesser von 1 nm (200 kV),
— Energiebreite des Emitters ≤ 1 eV,
— Sondendrift (Spot drift) ≤ 1 nm min(hoch)-1.
Abbildungsparameter:
— TEM-Punktauflösung ≤ 0.25 nm,
— Informationslimit ≤ 0.12 nm,
— Rotationsfreie Abbildung und Beugung sowie orientierungskorrekte Zuordnung zwischen Abbildung und Beugung über einen weiten Vergrößerungsbereich.
Probenbühne/goniometer:
— Motorisiert und computergesteuert mit seitlicher Probenhaltereinführung und mit piezoelektrischem Getriebe für x und y,
— Drift: ≤ 1 nm/min,
— Kippwinkelbereich – Mit im Angebot enthaltenem Doppelkipp-Probenhalter und eingefahrener Objektivblende mindestens ± 25° für beide Achsen,
— Kontaktalarm (Pole Touch Alarm),
— Maximaler Kippwinkel des Goniometers ≥ 70° für die Aufnahme von Tomographie-Serien an Standard-3 mm-Proben.
Vakuumsystem:
— Vollständig ölfreies Vakuumsystem,
— Kühlfalle Stickstoffvorrat für mind. ≥ 12h.
Peripherie:
— Kühlmobil (Wasser-Wasser).
Vollständige Remote-Bedienung:
— Vollständige Remotebedienbarkeit mit einem Abstand zwischen Steuerrechner und TEM von ≥ 10 m,
— Leuchtschirmersatzkamera zur Alignierung, Parametereinstellung und zum Betreiben des Mikroskops in allen Modi bei Raumbeleuchtung,
— Leuchtschirmersatzkamera Bildrate mind. ≥ 35 fps für Echtzeitbilder,
— Leuchtschirmersatzkamera Dynamikumfang mindestens 10 bit,
— Leuchtschirmersatzkamera Automatische Anpassung und zusätzliche Möglichkeit zur bequemen manuellen Anpassung von Helligkeit und Kontrast in allen Mikroskopmodi, insbes. im Abbildungs- und Beugungsmodus,
— Leuchtschirmersatzkamera Einbettung in die Software des Mikroskops.
— Primärstrahlfänger remotebedienbar Blenden:
— Objektivblende Position der Objektivblende in der hinteren Brennebene des Objektivs,
— Blenden vollmotorisiert.
Probenhalter:
— Standardprobenhalter,
— Analytischer Doppelkippprobenhalter der folgende Anforderungen erfüllen muss (Motorisierte Kippung, Für EDXS-Analysen optimierter Low-Background-Halter, Für ferromagnetische Proben geeignete Fixierung),
— In-situ-Dehnungsprobenhalter Für ferromagnetische Proben geeignete Fixierung.
Kamera:
— Hochleistungskamera Faseroptisch gekoppelt,
— Hochleistungskamera Format ≥ 2k x 2k,
— Hochleistungskamera Bildrate ≥ 25 fps,
— Hochleistungskamera Dynamikumfang ≥ 16 bit.
Stem und Stem-Detektoren:
— Digitales Scansystem,
— Hellfeld- (BF-) Detektor und mindestens ein separater Dunkelfeld- (DF-) Detektor für LAADF (Low angle annular dark field),
— Zusätzlich zu aufgeführten Detektoren (BF- und DF-Detektor) separater ringförmiger Großwinkeldunkelfeld- (HAADF-) Detektor,
— Simultanes Auslesen von allen STEM-Detektoren, d. h. BF-, DF- und HAADF-STEM-Detektor,
— Integrierte STEM-Software,
— Kombination von STEM und EDXS,
— Korrektur des 3-zähligen Kondenser-Astigmatismus,
— STEM-Auflösung (HAADF) ≤ 0.16 nm.
EDX-System:
— Detektortyp SDD,
— Gesamter effektiver Sammelraumwinkel ≥ 0.9 sr,
— Polschuhgeometrie für alle angebotenen Detektoren angepasstes Polschuhdesign,
— 1 EDX-Detektor,
— Energieauflösung ≤ 136 eV für Mn-Kα-Strahlung (10 000 cps),
— Detektion Alle Elemente für Ordnungszahlen Z ≥ 5 (B),
— Hohes Signal-zu-Untergrund-Verhältnis Fiori-Kennzahl größer als 4000,
— Aufnahmezeiten Kurze Pixelverweilzeiten (ab 10 µs) für schnelles Elementmapping bei verminderter Strahlschädigung,
— EDXS-Software Driftkorrigierte Spektrenaufnahme für Punkt-, Linien- und Flächenanalysen,
— EDXS-Software Qualitative (automatische Elementidentifikation) und quantitative Elementanalyse mit und ohne Standards,
— EDXS-Software Einbettung in die Bedienoberfläche des TEM.
Nachrüstbarkeit:
— Möglichkeit zur Nachrüstung mit EELS.
Mikroskopsteuerung:
— Vollständige Steuer- und Auswertesoftware für das System entsprechend Leistungsverzeichnis,
— Computerausstattung inkl. zweier Monitore und eines separaten Beistellrechners als Schnittstelle zum Intra- und Internet,
— Konfigurierbare Benutzerkonten,
— Schnelles Speichern und Abrufen von essentiellen Linsenparametern für jeden Mikroskopmodus sowie von Probenpositionen.
Lieferung, Schulung, Wartung:
— Einweisung und Schulung vor Ort für mind. 2 Mitarbeiter,
— 2 Jahre Garantie.

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-07-09. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2014-05-23.

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• • FEI Deutschland GmbH

• • Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e. V.

• • Elektronenmikroskope › Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope

• • Dresden › Dresden, Kreisfreie Stadt