Photoemissionselektronenmikroskop
Lieferung und funktionsfähige Aufstellung eines Photoemissions-Elektronen-Mikroskops (PEEM) in Kombination mit einem Rastersondenmikroskops (SPM) für spektroskopische Materialoberflächen-Nanoskopie.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-07-18.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2014-06-03.
Wer?
Wie?
Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
| 2014-06-03
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Auftragsbekanntmachung
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