Rasterelektronenmikroskop
Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit der Option bei Niederdruck zu arbeiten, umfangreichem Detektorsystem (In-Lens oder äquivalent, Rückstreuelektronen-(BSE), SE-Detektor) sowie passenden Zubehörkomponenten (EDX-System, heizbarer Probenhalter).
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-08-22.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2014-07-01.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2014-07-01
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Auftragsbekanntmachung
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| 2014-11-05
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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