Rasterelektronenmikroskop

Friedrich-Schiller-Universität Jena

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit der Option bei Niederdruck zu arbeiten, umfangreichem Detektorsystem (In-Lens oder äquivalent, Rückstreuelektronen-(BSE), SE-Detektor) sowie passenden Zubehörkomponenten (EDX-System, heizbarer Probenhalter).

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-08-22. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2014-07-01.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?

Wie?

Wo?

Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2014-07-01 Auftragsbekanntmachung
2014-11-05 Bekanntmachung über vergebene Aufträge