Schnellscannendes AFM/Rasterkraftmikroskop
Rasterkraftmikroskop zur Analyse schneller Oberflächenreaktionskinetik an komplexen großformatigen Proben. Konsequenz sind erhöhte Anforderungen an Gesichtsfeld und Probenkammer. Die Eigenschaften der zu analysierenden Proben fordern verbesserte Kraftkontrolle im Vergleich zu herkömmlichen AFM-Modi, höchste Anforderungen an Ortsauflösung, Drift der Abbildungskraft und Konsistenz der Bildqualität.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-12-16.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2014-10-23.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2014-10-23
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Auftragsbekanntmachung
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| 2015-03-10
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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