Transmissionselektronenmikroskop

Helmholtz-Zentrum Geesthacht Zentrum für Material- und Küstenforschung GmbH

Einleitung
Das Institut für Biomaterialforschung in Teltow (HZG) beschäftigt sich mit der Entwicklung von Biomaterialien die, in Form von Implantaten, Mikro- oder Nanopartikeln, zukünftig in der Klinik angewendet werden sollen. Derartige nanoskalige Polymersysteme sollen z.B. für den zielgerichteten Transport von Wirkstoffen und deren kontrollierte Freisetzung im Rahmen der therapeutischen Anwendungen eingesetzt werden. Ein wesentliches Hemmnis für die Entwicklung der benötigten neuen Therapieformen ist derzeit das unzureichende Verständnis bzw. die mangelnde Vorhersagbarkeit des in vivo Verhaltens von Nanopartikeln im Zielgewebe bzw. in den Zielzellen. In diesem Zusammenhang ist die Erforschung der Aufnahmewege von Nanopartikeln in eine Zelle bzw. ein Zielgewebe, sowie deren Verteilung innerhalb der Zelle und das Schicksal der aufgenommen Polymerpartikel wie beispielweise deren Ausschleusung, Abbau oder die Aufnahme in unterschiedliche Zellkompartimente von herausragender Bedeutung, um Aussagen über die spätere Wirksamkeit einer Therapie machen zu können.
Ein Transmissionselektronenmikroskop (TEM) ermöglicht es, nicht nur den Umriss von Nanoparti-keln zu erkennen, sondern kann diese Partikel auch in seiner räumlichen Anordnung und seinem inneren Aufbau mit einer Genauigkeit von unter einem Nanometer darstellen. Die Transmissions-elektronenmikroskopie soll am Institut für Biomaterialforschung daher einerseits für die Charakte-risierung der polymer-basierten Nanoobjekte (Partikelform, -größe, Morphologie und Verteilung, Beschaffenheit der Oberfläche, chemische Zusammensetzung), sowie für die Erforschung der Vertei-lung von Nanopartikeln in (kryo)fixierten Zellpräparaten oder auch polymeren Kompositmaterialien eingesetzt werden.
Kurzbeschreibung
Modernes 200kV Transmissionselektronenmikroskop zur objektschonenden Abbildung und Analyse besonders empfindlicher Polymere, biologischer Präparate und Kombinationen von beiden bei Raumtemperatur und bei tiefen Temperaturen (- 196 °C, flüssig Stickstoff). Abbildung im Transmis-sionsmodus (TEM), Raster(Scanning)-Transmissionsmodus (STEM) sowie die Aufnahmemöglichkeit von automatisierten Kippserien für die Tomografie. Quantitative und qualitative Analyse ener-giedispersiver Röntgenstrahlung (EDX), vor allem von leichten Elementen (C, N, O).
Beschreibung der technischen Anforderung
Digitales Transmissions-Elektronenmikroskop moderner Bauweise mit folgenden Anforderungen:
Feldemissionsquelle mit einer Stromdichte von mindestens 1x109 A/cm² pro Raumwinkel bei 200 kV Beschleunigungsspannung
komplett ölfreies Vakuumsystem
Beschleunigungsspannungen im Bereich von 80-200kV einstellbar, mindestens 2 davon vor-eingestellt (z.B. 200 kV, und 80 kV oder 120 kV), wünschenswert wäre zudem der Betrieb bei Beschleunigungsspannungen < 80 kV
Raster-Transmissionseinheit (STEM) inklusive 3 Detektoren, welche parallel betrieben und ausgelesen werden können
— Hellfeldelektronen-Detektor (BF) angeordnet auf der optischen Achse des Mikroskops
— Dunkelfeldelektronen-Detektor (DF) angeordnet konzentrisch um die optische Achse des Mikroskops
— Annularer Dunkelfelddetektor für große Winkel, sogenannte high-angle annular dark field (HAADF)
Kamera basierend auf der CMOS Sensor Technologie mit 16 Megapixel, einer sehr hohen Auslesegeschwindigkeit 16 Bilder/sec und großem dynamischen Umfang für TEM-Abbildung und Beugungsbilder, einsetzbar im gesamten Bereich der geforderten Beschleunigungsspannungen, (1:1 Faser Optik), in Strahlachse montierbar, rückziehbare Bauweise
modernes System zur qualitativen und quantitativen Analytik energiedisperser Röntgenstrahlung (EDX), basierend auf der Solid-State-Drive (SDD) Technologie, schnelle Messzeiten, gute Energieauflösung bei hoher Zählrate, fensterloses Design
TEM mit einem Informationslimit/Auflösung von mindestens 0,12 nm
STEM mit einer Auflösung von mindestens 0,16 nm
Möglichkeit zur automatisierten Aufnahme von Kippserien an Standardproben (z.B. Proben auf 3mm Netzplättchen) im TEM- und STEM-Betriebsmodus sowie von EDX-Spektren zur Rekonstruktion von 3D-Modellen (Tomografie), Kippwinkel von mindestens ±70° erforder-lich, einstellbar in mindestens 2° Schritten, inklusive aller notwendigen Hard- und Software zur Aufnahme, Rekonstruktion, Darstellung und Auswertung
softwareintegrierte Driftkorrektur
motorisiertes Blendensystem
Kühlfalle mit Stickstoffkühlung für den Probenraum mit automatischer Ausheizfunktion
Wunschiefertermin inkl. Abnahme und Endrechnung idealerweise: 20.11.2014 spätestens jedoch 15.12.2014

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-06-23. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2014-05-22.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• • FEI Deutschland GmbH

Wer?

• • Helmholtz-Zentrum Geesthacht Zentrum für Material- und Küstenforschung GmbH

Wie?

• • Mikroskope › Elektronenmikroskope