Beschaffung eines Transmissionselektronenmikroskops (DFG-GZ: A 710)

Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle

Transmissionselektronenmikroskop.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2016-01-11. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2015-12-10.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• JEOL (Germany) GmbH

Wer?

• Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle

Wie?

• Mikroskope › Elektronenmikroskope

Wo?

• Arnsberg › Bochum, Kreisfreie Stadt

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2015-12-10	Auftragsbekanntmachung
2016-08-16	Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Auftragsbekanntmachung (2015-12-10)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Elektronenmikroskope
Menge oder Umfang: 1 System.
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Elektronenmikroskope 📦

Verfahren
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle
Postanschrift: Kennedyallee 40
Postleitzahl: 53175
Postort: Bonn
Kontakt
Internetadresse: http://www.dfg.de 🌏
E-Mail: ute.breuer@dfg.de 📧
Telefon: +49 2288852474 📞
Fax: +49 2288853676 📠

Referenz
Daten
Absendedatum: 2015-12-10 📅
Einreichungsfrist: 2016-01-11 📅
Veröffentlichungsdatum: 2015-12-15 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2015/S 242-439146
ABl. S-Ausgabe: 242
Zusätzliche Informationen

Das Aktenzeichen entsprechend Ziff. IV.3.1) ist bei sämtlicher Korrespondenz anzugeben. Beim Schlusstermin laut Ziff. IV.3.4) handelt es sich um den Schlusstermin für den Eingang der Teilnahmeanträge (nicht für den Eingang der Angebote). Vor Ablauf des Schlusstermins gemäß Ziff.

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Transmissionselektronenmikroskop.

Für die Untersuchung an Nanomaterialien soll ein neues Transmissionselektronenmikroskop (TEM) angeschafft werden. Das Mikroskop soll inerster Linie für Untersuchungen von Nanopartikeln unter elektrochemischen Bedingungen, d.h. in Lösung und unter Anwendung eines Potentials, eingesetzt werden. Ziel ist dabei, die Wechselwirkung zwischen der Lösung und den als Katalysatoren wirkenden Nanopartikeln zu untersuchen. Daher ist zwangsläufig ein Probenhalter notwendig, der für Studien in flüssigen Phasen geeignet ist, und der über elektrische Fähigkeiten verfügt. Dieser Halter wird es uns erlauben, unsere elektrochemischen Experimente in-situ im TEM durchzuführen.

Das anzuschaffende Mikroskop soll für die Charakterisierung von Nanopartikeln optimiert sein, die kleiner als 5 nm im Durchmesser sind, in Gegenwart von Flüssigkeiten. Daher ist eine hohe Auflösung, sowohl beim TEM als auch beim STEM-Betrieb, unbedingt notwendig.

Da in diesen elektrochemischen Experimenten die chemischen Analysen mittels EDX entscheidend sind, ist ein modernes und leistungsstarkes STEM-EDX-System neben dem o. g. Halter die zweite entscheidende Komponente.

Zudem muss die EDX-Analyse in Kombination mit dem Probenhalter das bestmögliche EDX-Signal liefern. Dies erfordert erstens eine Elektronenquelle mit hoher zeitlicher Stabilität (Schottky Feldemission) und einer hohen Stromdichte („brightness“). Zweitens ist auf der Detektorseite eine große, effektive Detektorfläche des EDX-Systems notwendig, so dass die Zählrate der zu analysierenden EDX-Quanten möglichst hoch ist. Dies lässt sich nur durch eine symmetrische Anordnung der Detektoren (gleicher Abstand, gleiche Detektorfläche, gleicher Abnahmewinkel) um die Probe herum realisieren, da man bei dieser Geometrie die höchste Effizienz erzielt.

Durch geeignete Modifikation des Halters lassen sich die Abschattungseffekte bei dieser Anordnung noch weiter reduzieren, was zu einer noch besseren Signalausbeute führt. Diese Modifikationen sollen vom Auftragnehmer vorgenommen werden.

Zukünftig soll das System auch für die 3-dimensionale Rekonstruktion und Visualisierung („Tomographie“) an den zu untersuchenden Nanopartikeln verwendet werden. Aus diesem Grund ist ein Polschuhabstand erforderlich, der es gestattet, eine Ø3 mm-Standardprobe in einem Tomographiehalter in einem Winkelbereich von mindestens -70 ° bis + 70 ° zu kippen.

Die sich daraus ergebenden Spezifikationen sind nachfolgend aufgelistet, wobei die Mindestanforderungen (MUSS-Kriterien) entsprechend benannt sind:

Schottky FEG Elektronenquelle und

Richtstrahlwert („Brightness“): 1.5 × 10^9 A/cm

Maximaler Strahlstrom: > 50nA

Strahlströme als Funktion der

Sondengröße: 1.5 nA @ 1 nm probe (200 kV)

HRTEM Auflösung (nm): ≤ 0.2

STEM HAADF Auflösung (nm): 0.16

EDX-System (MUSS-Kriterium):

4 SDDs detektors. Geometrie, die Abschattungseffekte vermeidet

EDX solid angle (srad) >=0.9

Detektorfläche >=110 mm

Energieauflösung ≤136 eV für Mn-Kα und 10 kcps (output)

Energieauflösung ≤140 eV für Mn-Kα und 100 kcps (output)

Schnelle EDX-Elementverteilungsbilder durch Pixel: Dwell ll times bis hinunter zu

10 μs

Piezo stage (MUSS-Kriterium)

Kippwinkel mit einem analytischen

Doppelkipphalter für Ø3mm-Proben: ±30°

Kippwinkel mit einem

Tomographiehalter für Ø3mm Proben: ±70°

TEM-Kamera: 4k x 4k CMOS camera with max speed 25

fps full frame

Vakuumsystem (MUSS-Kriterium): ölfrei

Probenhalter (MUSS-Kriterium): flüssigen Phasen und elektrische Fähigkeiten.

Es werden Varianten akzeptiert ✅
Referenznummer: EXC 1069/2015 (A710)
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Bochum.

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Auftragsausführung
Wichtigste Finanzierungsbedingungen und Zahlungsmodalitäten und/oder Verweis auf die einschlägigen Bestimmungen, die sie regeln:

Anzahlungen bis zur Höhe von max. 50 % des Kaufpreises werden nur gegen unbefristete Bankbürgschaft nach deutschem Recht geleistet.

Verfahren
Datum der Absendung der Aufforderungen: 2016-01-18 📅
Vergabekriterien
Kriterium: 1. Technischer Wert (50)
2. Preis (50)
Sprachen
Sprache: Deutsch 🗣️

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Andere Art des öffentlichen Auftraggebers: Other
Kontakt
Kontaktperson: Frau Ute Breuer
Internetadresse: www.dfg.de 🌏

Referenz
Kennungen
Vom öffentlichen Auftraggeber vergebene Referenznummer: EXC 1069/2015 (A710)
Zusätzliche Informationen

Das Aktenzeichen entsprechend Ziff. IV.3.1) ist bei sämtlicher Korrespondenz anzugeben.

Beim Schlusstermin laut Ziff. IV.3.4) handelt es sich um den Schlusstermin für den Eingang der Teilnahmeanträge (nicht für den Eingang der Angebote). Vor Ablauf des Schlusstermins gemäß Ziff.

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Das GWB (Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen) verpflichtet uns, Sie zu gegebener Zeit über die beabsichtigte Auftragsvergabe zu informieren. Hiergegen haben Sie die Möglichkeit, innerhalb einer festgelegten Frist vor der Vergabekammer des Bundes, Villemombler Str. 76, 53123 Bonn zu klagen. Im Falle einer fristgerechten Klage erbitten wir eine entsprechende Information.

Quelle: OJS 2015/S 242-439146 (2015-12-10)

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2016-08-16)
Objekt
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt

Öffentlicher Auftraggeber
Kontakt
E-Mail: ute.breuer@dfg.de 📧

Referenz
Daten
Absendedatum: 2016-08-16 📅
Veröffentlichungsdatum: 2016-08-19 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2016/S 159-288233
Verweist auf Bekanntmachung: 2015/S 242-439146
ABl. S-Ausgabe: 159

Objekt
Umfang der Beschaffung
Referenznummer: EXC 1069/2015 (A 710)-3014036

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2016-07-26 📅
Name: JEOL (Germany) GmbH
Postanschrift: Gute Änger 30A
Postort: Freising
Postleitzahl: 85356
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: info@jeol.de 📧
Internetadresse: www.jeol.de 🌏
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 2
Quelle: OJS 2016/S 159-288233 (2016-08-16)

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