Rasterelektronenmikroskop in Kombination eines fokussierten Ionenstrahls
Systemlösung, die einen fokussierten Ionenstrahl (focused ion beam – FIB) in Kombination mit einem Rasterelektronenmikroskop (scanning electron microscope – SEM) bereitstellt. Hauptaufgabengebiete sind die Charakterisierung und Nanostrukturierung von teilweise lithographisch strukturierten und/oder chemisch synthetisierten, sowohl elektrisch leitfähigen wie auch nicht leitfähigen Substraten.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2015-12-21.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2015-10-27.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2015-10-27
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Auftragsbekanntmachung
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| 2016-04-28
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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