Rasterelektronenmikroskop
Es soll ein Rasterelektronenmikroskop (REM bzw. SEM) mit Rückstreu- (BSE-) und Sekundärelektronen- (SE-) Detektor einschließlich eines dreifach-Analytiksystems, bestehend aus je einem Energie dispersiven Röngenstrahlendetektor (EDX bzw. EDS), einem Wellenlängen dispersiven Röngenstrahlendetektors (WDX bzw. WDS) und einem Electron Backscatter Diffraction Detektors (EBSD) angeschafft werden. Das anzuschaffende REM dient der Abbildung, Vermessung und Analytik von festen Proben aus den Fachgebieten Maschinenbau, Elektrotechnik, Chemie und Biotechnologie. Es soll im Rahmen sowohl von Lehraufgaben (Praktika) als auch von Forschungsvorhaben (Projekten) zum Einsatz kommen, welche die hoch aufgelöste Darstellung und Analytik verschiedener Proben und deren Zusammensetzung umfassen. Hierbei ist von besonderer Bedeutung das die Abbildungen der Proben in den Modi Rückstreuelektronendetektor (BSE) und Sekundärelektronendetektor (SE) im Wechselspiel mit den aufeinander abgestimmten analytischen Komponenten EDX, WDX und EBSD erfolgen können.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2015-10-12.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2015-09-01.
Wer?
Wie?
Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
| 2015-09-01
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Auftragsbekanntmachung
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