Rasterkraftmikroskop (AFM)
Das Gerät wird zur topografischen Analyse (AFM-Imaging) und zur Kraft-Abstands-Spektroskopie mit höchster AFM-Auflösung auf Proben in Luftatmosphäre und in Flüssigkeiten eingesetzt. Unbedingt erforderlich ist ein umfangreicher Scanbereich mit niedrigem Rauschsignal. Das Gerät muss sich mit modernen (fluoreszenz-)mikroskopischen Verfahren (wie Konfokalmikroskopie, FRAP, TIRF) kombinieren lassen; die Probentemperierung muss variiert werden können.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2015-02-26.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2015-01-12.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2015-01-12
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Auftragsbekanntmachung
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| 2015-08-13
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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