Zweistrahl-System m. Focused-Ion-Beam und Elektronenstrahl-Abbildung

Fraunhofer Gesellschaft e. V.

Zweistrahl-System m. Focused-Ion-Beam und Elektronenstrahl-Abbildung
Am Fraunhofer IWS Dresden werden Forschungs- und Entwicklungsarbeiten sowie Dienstleistungen auf den Gebieten der Mikrostrukturierung, der Werkstoffcharakterisierung sowie der produktbegleitenden Werkstoffentwicklung angeboten. Zur Erfüllung dieser Aufgaben soll ein Zweistrahlgerät mit Focused-Ion-Beam-Säule und Elektronensäule sowie EDX- und EBSD-Möglichkeit beschafft werden.
Aktuelle und zukünftige Schwerpunkte der vorgesehenen Arbeiten mit diesem Gerät sind:
— Hochauflösende Bearbeitung und analytische Charakterisierung unterschiedlichster Werkstoffe; überwiegend Metalle, aber auch Kunststoffe und andere nichtleitende Materialien; Schichtsysteme und Nanowerkstoffe,
— Herstellung von TEM-Lamellen aus diesen Werkstoffen,
— Mikro-/Nanostrukturierung,
— Herstellung und Untersuchung von SEM-Querschnitten und tomographische Abbildung,
— 3D-Analytik.
Das anzuschaffende Zweistrahl-System mit FIB und Elektronenstrahl-Abbildung soll wie folgt ausgestattet sein:
— Ionenkanone 30 kV
— „lift-out“-System,
— Gassysteme zur Abscheidung,
— thermische Feldemissionskathode („Schottky- Emitter“),
— entsprechende Elektronensäule,
— Detektorsysteme für höchste Auflösungen bei Abbildungen mit Ionen, Sekundär- und Rückstreuelektronen, auch bei niedrigen Beschleunigungsspannungen,
— leistungsfähiges EDX-Analysesystem,
— Anschlussmöglichkeit für EBSD-System.
Aufgrund des Projektendes ist eine Lieferung und Abnahme bis spätestens 16.10.2015 notwendig.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2015-08-24. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2015-07-10.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• • JEOL (Germany) GmbH

Wer?

• • Fraunhofer Gesellschaft e. V.

Wie?

• • Elektronenmikroskope › Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope

Wo?

• • Dresden › Dresden, Kreisfreie Stadt