Zweistrahl-System m. Focused-Ion-Beam und Elektronenstrahl-Abbildung

Fraunhofer Gesellschaft e. V.

Zweistrahl-System m. Focused-Ion-Beam und Elektronenstrahl-Abbildung
Am Fraunhofer IWS Dresden werden Forschungs- und Entwicklungsarbeiten sowie Dienstleistungen auf den Gebieten der Mikrostrukturierung, der Werkstoffcharakterisierung sowie der produktbegleitenden Werkstoffentwicklung angeboten. Zur Erfüllung dieser Aufgaben soll ein Zweistrahlgerät mit Focused-Ion-Beam-Säule und Elektronensäule sowie EDX- und EBSD-Möglichkeit beschafft werden.
Aktuelle und zukünftige Schwerpunkte der vorgesehenen Arbeiten mit diesem Gerät sind:
— Hochauflösende Bearbeitung und analytische Charakterisierung unterschiedlichster Werkstoffe; überwiegend Metalle, aber auch Kunststoffe und andere nichtleitende Materialien; Schichtsysteme und Nanowerkstoffe,
— Herstellung von TEM-Lamellen aus diesen Werkstoffen,
— Mikro-/Nanostrukturierung,
— Herstellung und Untersuchung von SEM-Querschnitten und tomographische Abbildung,
— 3D-Analytik.
Das anzuschaffende Zweistrahl-System mit FIB und Elektronenstrahl-Abbildung soll wie folgt ausgestattet sein:
— Ionenkanone 30 kV
— „lift-out“-System,
— Gassysteme zur Abscheidung,
— thermische Feldemissionskathode („Schottky- Emitter“),
— entsprechende Elektronensäule,
— Detektorsysteme für höchste Auflösungen bei Abbildungen mit Ionen, Sekundär- und Rückstreuelektronen, auch bei niedrigen Beschleunigungsspannungen,
— leistungsfähiges EDX-Analysesystem,
— Anschlussmöglichkeit für EBSD-System.
Aufgrund des Projektendes ist eine Lieferung und Abnahme bis spätestens 16.10.2015 notwendig.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2015-08-24. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2015-07-10.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• JEOL (Germany) GmbH

Wer?

• Fraunhofer Gesellschaft e. V.

Wie?

• Elektronenmikroskope › Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope

Wo?

• Dresden › Dresden, Kreisfreie Stadt

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2015-07-10	Auftragsbekanntmachung
2015-10-12	Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Auftragsbekanntmachung (2015-07-10)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope
Menge oder Umfang: 1 Stück.
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union, mit GPA-Beteiligung
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope 📦

Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: Fraunhofer Gesellschaft e. V.
Postanschrift: Hansastr. 27c
Postleitzahl: 80686
Postort: München
Kontakt
Internetadresse: http://www.fraunhofer.de 🌏

Referenz
Daten
Absendedatum: 2015-07-10 📅
Einreichungsfrist: 2015-08-24 📅
Veröffentlichungsdatum: 2015-07-15 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2015/S 134-247094
ABl. S-Ausgabe: 134
Zusätzliche Informationen

Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nichtberücksichtigte Angebote (VOL/A § 22 EG). Die Nutzung der Plattform www.deutsche-evergabe.de ist kostenpflichtig.

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Zweistrahl-System m. Focused-Ion-Beam und Elektronenstrahl-Abbildung

Am Fraunhofer IWS Dresden werden Forschungs- und Entwicklungsarbeiten sowie Dienstleistungen auf den Gebieten der Mikrostrukturierung, der Werkstoffcharakterisierung sowie der produktbegleitenden Werkstoffentwicklung angeboten. Zur Erfüllung dieser Aufgaben soll ein Zweistrahlgerät mit Focused-Ion-Beam-Säule und Elektronensäule sowie EDX- und EBSD-Möglichkeit beschafft werden.

Aktuelle und zukünftige Schwerpunkte der vorgesehenen Arbeiten mit diesem Gerät sind:

— Hochauflösende Bearbeitung und analytische Charakterisierung unterschiedlichster Werkstoffe; überwiegend Metalle, aber auch Kunststoffe und andere nichtleitende Materialien; Schichtsysteme und Nanowerkstoffe,

— Herstellung von TEM-Lamellen aus diesen Werkstoffen,

— Mikro-/Nanostrukturierung,

— Herstellung und Untersuchung von SEM-Querschnitten und tomographische Abbildung,

— 3D-Analytik.

Das anzuschaffende Zweistrahl-System mit FIB und Elektronenstrahl-Abbildung soll wie folgt ausgestattet sein:

— Ionenkanone 30 kV

— „lift-out“-System,

— Gassysteme zur Abscheidung,

— thermische Feldemissionskathode („Schottky- Emitter“),

— entsprechende Elektronensäule,

— Detektorsysteme für höchste Auflösungen bei Abbildungen mit Ionen, Sekundär- und Rückstreuelektronen, auch bei niedrigen Beschleunigungsspannungen,

— leistungsfähiges EDX-Analysesystem,

— Anschlussmöglichkeit für EBSD-System.

Aufgrund des Projektendes ist eine Lieferung und Abnahme bis spätestens 16.10.2015 notwendig.

Es werden Varianten akzeptiert ✅
Beschreibung der Optionen: Optional soll Zusatzausstrahlung angeboten werden.
Dauer: 2 Monate
Referenznummer: E_862_236137_cl-bla
Bezeichnung des von der EU finanzierten Projekts oder Programms: EFRE-Mittel.
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Dresden.

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Befähigung zur Berufsausübung: — Firmenprofil.
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit:

— Umsätze der letzten 3 Geschäftsjahre;

— Eigenerklärung über das ordnungsgemäße Abführen von Steuern und Sozialabgaben;

— Eigenerklärung, dass kein Insolvenzverfahren in Eröffnung ist, eröffnet wurde oder mangels Masse abgelehnt wurde;

— Eigenerklärung, dass nachweislich keine schweren Verfehlungen begangen wurden, die die Zuverlässigkeit als Bewerber in Frage stellen;

— Auszug aus dem Gewerbezentralregister gemäß § 150 a GewO (wird durch den Auftraggeber angefordert).

Technische und berufliche Fähigkeiten:

— Komplette Referenzen von vergleichbaren System (Kontaktdaten, Ansprechpartner), nicht älter als 3 Jahre.

Auftragsausführung
Wichtigste Finanzierungsbedingungen und Zahlungsmodalitäten und/oder Verweis auf die einschlägigen Bestimmungen, die sie regeln: Siehe Verdingungsunterlagen.
Rechtsform der Gruppe von Wirtschaftsteilnehmern, an die der Auftrag vergeben werden soll: Selbstschuldnerisch haftend mit bevollmächtigtem Vertreter.
Sonstige besondere Bedingungen:

Die unter III.2) geforderten Unterlagen sind spätestens bis zu dem unter IV.3.4) genannten Termin vollständig vorzulegen. Unvollständigkeit kann zum Ausschluss führen.

Bei evtl. Einsatz von Subunternehmern ist spätestens mit Abgabe des Angebots sowie der Eignungsunterlagen bekanntzugeben. Ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.2) geforderten Unterlagen nachzuweisen. Der Anteil am Leistungsumfang ist dazulegen. Ferner ist vom Unterauftragnehmer rechtsverbindlich zu bestätigen, dass er im Auftragsfall uneingeschränkt zur Verfügung steht.

Der Anteil an Subunternehmerleistungen ist ausweisen und darf nicht mehr als 50 % betragen.

Verfahren
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2015-09-28 📅
Sprachen
Sprache: Deutsch 🗣️

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Andere Art des öffentlichen Auftraggebers: Other
Kontakt
Kontaktperson: Frau Lönz
URL der Teilnahme: http://www.deutsche-evergabe.de 🌏
Name: Fraunhofer Gesellschaft e. V. über Vergabeportal deutsche-eVergabe
Postanschrift: Wilhelmstr. 20-22
Postort: Wiesbaden
Postleitzahl: 65185
Telefon: +49 6119491060 📞
E-Mail: fraunhofer@deutsche-evergabe.de 📧
URL für weitere Informationen: http://www.deutsche-evergabe.de 🌏
URL der Dokumente: http://www.deutsche-evergabe.de 🌏

Referenz
Kennungen
Vom öffentlichen Auftraggeber vergebene Referenznummer: E_862_236137_cl-bla

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
Postanschrift: Villemomblerstr. 76
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland 🇩🇪
Name: Vergabeprüfstelle des BMBF Referat Z 23
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1) genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1) genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des § 107 Abs. 3 Nr. 4 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin.

Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden soll, werden vor dem Zuschlag gem. § 101a GWB informiert.

Für Mediationsverfahren zuständige Stelle
Postanschrift: Heinemannstr. 2
Postleitzahl: 53175
Quelle: OJS 2015/S 134-247094 (2015-07-10)

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2015-10-12)
Objekt
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Postanschrift: Hansastraße 27c
Kontakt
E-Mail: einkauf@zv.fraunhofer.de 📧
Telefon: +49 8912053229 📞
Fax: +49 8912057547 📠

Referenz
Daten
Absendedatum: 2015-10-12 📅
Veröffentlichungsdatum: 2015-10-16 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2015/S 201-364062
Verweist auf Bekanntmachung: 2015/S 134-247094
ABl. S-Ausgabe: 201

Objekt
Umfang der Beschaffung
Referenznummer: BM 862/236137/cl-bla

Verfahren
Vergabekriterien
Kriterium: 1. Preis (40)
2. Technische Ausführung (45)
3. Lieferzeit (10)
4. Zusatzausstattung/Zusatzleistungen (5)

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2015-09-21 📅
Name: JEOL (Germany) GmbH
Postanschrift: Gute Änger 30
Postort: Freising
Postleitzahl: 85356
Land: Deutschland 🇩🇪
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 4

Öffentlicher Auftraggeber
Kontakt
Kontaktperson: Carla Lönz

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Postanschrift: Villemomblerstraße 76
Name: Vergabeprüfstelle des BMBF, Referat Z 23
Quelle: OJS 2015/S 201-364062 (2015-10-12)

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