060117/86/sz (TU Kaiserslautern, Zweistrahl-Rasterelektronenmikroskop)
Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines Zweistrahl-Rasterelektronenmikroskops inkl. Softwarepaket.
Dual-Beam Focused-Ion-Beam (FIB) – Anlage zur hochauflösenden 2-D und 3-D Mikrostrukturanalyse von metallischen Werkstoffen sowie Verbundwerkstoffen mit Metall- und Polymermatrix gem. Leistungsbeschreibung.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-01-06.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2016-11-28.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2016-11-28
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Auftragsbekanntmachung
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| 2017-02-21
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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