Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines Zweistrahl-Rasterelektronenmikroskops inkl. Softwarepaket.
Dual-Beam Focused-Ion-Beam (FIB) – Anlage zur hochauflösenden 2-D und 3-D Mikrostrukturanalyse von metallischen Werkstoffen sowie Verbundwerkstoffen mit Metall- und Polymermatrix gem. Leistungsbeschreibung.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-01-06.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2016-11-28.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
“Bieter sind nach § 55 Abs. 2 Satz 2 Vergabeverordnung (VgV) nicht zugelassen.”
Quelle: OJS 2016/S 233-424142 (2016-11-28)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2017-02-21) Objekt Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
“Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines Zweistrahl-Rasterelektronenmikroskops inkl. Softwarepaket;”
Gesamtwert des Auftrags: 765463.05 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge