Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (REM) zur Analyse von dreidimensionalen Mikro- und Nanostrukturen
Lieferung und Inbetriebnahme eines hochauflösenden Rasterelektronenmikroskops (REM) mit Feldemissionskathode für die Analysen von dreidimensionalen Mikro- und Nanostrukturen auf Substraten bis 100 mm Durchmesser bei Auflösungen unter einem Nanometer.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2016-03-08.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2016-01-12.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2016-01-12
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Auftragsbekanntmachung
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| 2016-01-14
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Ergänzende Angaben
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| 2016-05-27
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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