Rasterkraftmikroskop

Friedrich-Schiller-Universität Jena

Benötigt wird ein (1) Rasterkraftmikroskop zur topografischen Analyse (AFM-Imaging) und für Reibungsmessungen mit höchster AFM-Auflösung an Luft sowie in Flüssigkeiten. Unbedingt erforderlich sind AFM-Messköpfe, die jeweils für die besonderen Messaufgaben optimiert sind. Weiterhin ist ein AFM-Messkopf erforderlich, der über einen umfangreichen Scanbereich mit niedrigem Rauschsignal verfügt. Das Gerätesystem muss sich zudem mit modernen (fluoreszenz-) mikroskopischen Verfahren kombinieren lassen. Die einzelnen geforderten Mindestanforderungen zum Gerät können den Vergabeunterlagen entnommen werden.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2016-06-23. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2016-05-24.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• • JPK Instruments AG

Wer?

• • Friedrich-Schiller-Universität Jena

Wie?

• • Elektronenmikroskope › Rasterelektronenmikroskope

Wo?

• • Deutschland