Rasterkraftmikroskop

Friedrich-Schiller-Universität Jena

Benötigt wird ein (1) Rasterkraftmikroskop zur topografischen Analyse (AFM-Imaging) und für Reibungsmessungen mit höchster AFM-Auflösung an Luft sowie in Flüssigkeiten. Unbedingt erforderlich sind AFM-Messköpfe, die jeweils für die besonderen Messaufgaben optimiert sind. Weiterhin ist ein AFM-Messkopf erforderlich, der über einen umfangreichen Scanbereich mit niedrigem Rauschsignal verfügt. Das Gerätesystem muss sich zudem mit modernen (fluoreszenz-) mikroskopischen Verfahren kombinieren lassen. Die einzelnen geforderten Mindestanforderungen zum Gerät können den Vergabeunterlagen entnommen werden.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2016-06-23. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2016-05-24.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• JPK Instruments AG

Wer?

• Friedrich-Schiller-Universität Jena

Wie?

• Elektronenmikroskope › Rasterelektronenmikroskope

Wo?

• Deutschland

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2016-05-24	Auftragsbekanntmachung
2016-07-22	Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Auftragsbekanntmachung (2016-05-24)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Rasterelektronenmikroskope
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union, mit GPA-Beteiligung
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Rasterelektronenmikroskope 📦

Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Niedrigster Preis

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Unbestimmt
Name des öffentlichen Auftraggebers: Friedrich-Schiller-Universität Jena
Postanschrift: Fürstengraben 1
Postort: Jena
Kontakt
E-Mail: andreas.kramer@uni-jena.de 📧

Referenz
Daten
Absendedatum: 2016-05-24 📅
Einreichungsfrist: 2016-06-23 📅
Veröffentlichungsdatum: 2016-05-28 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2016/S 102-182224
ABl. S-Ausgabe: 102

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Referenznummer: EU-OV/2016-33_Rasterkraftmikroskop
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Jena.

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Befähigung zur Berufsausübung:

— > allgemeine Unternehmensdarstellung -> Eigenerklärung zur Berufs-/Handelsregistereintragung (vor Zuschlagserteilung ist ein entsprechender Nachweis über die Eintragung in das Berufs-/Handelsregister zu erbringen; Nachweis nach Maßgabe der Rechtsvorschriften des Landes, der Gemeinschaft oder des Vertragsstaates, in dem der Bieter ansässig ist) -> Eigenerklärung zum Nichtvorliegen von Ausschlussgründen nach §§ 123, 124 GWB.

Technische und berufliche Fähigkeiten: 2 vergleichbare Referenzen aus den letzten 3 Geschäftsjahren.
Mindeststandards:

Die Leistungen des Referenzauftrages müssen nicht identisch mit dem ausgeschriebenen Leistungsspektrum sein um anerkannt zu werden. Sie müssen jedoch der ausgeschriebenen Leistung nahe kommen und dieser entsprechend ähneln. Die Leistungen müssen nicht gleicher Art und gleichen Umfangs sein; sie sollten jedoch einen in etwa gleich hohen Schwierigkeitsgrad aufweisen.

Auftragsausführung
Sonstige besondere Bedingungen:

— -> Eigenerklärung, dass die Ausschreibungsbedingungen vom Bieter akzeptiert werden --> Eigenerklärung zur Einhaltung der ILO-Kernarbeitsnorm.

Verfahren
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2016-07-20 📅
Sprachen
Sprache: Deutsch 🗣️

Referenz
Kennungen
Vom öffentlichen Auftraggeber vergebene Referenznummer: EU-OV/2016-33_Rasterkraftmikroskop
Quelle: OJS 2016/S 102-182224 (2016-05-24)

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2016-07-22)
Objekt
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt

Referenz
Daten
Absendedatum: 2016-07-22 📅
Veröffentlichungsdatum: 2016-07-27 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2016/S 143-259294
Verweist auf Bekanntmachung: 2016/S 102-182224
ABl. S-Ausgabe: 143

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2016-07-05 📅
Name: JPK Instruments AG
Postanschrift: Bouchestraße 12
Postort: Berlin
Postleitzahl: 12435
Land: Deutschland 🇩🇪
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Zur Überprüfung des Vergabeverfahrens kann ein Nachprüfungsantrag bei der o. g. Vergabekammer gestellt werden, solange ein wirksamer Zuschlag noch nicht erteilt worden ist. Der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsantrags ist unzulässig, soweit: 1. der Antragsteller den gerügten Verstoß gegen Vergabevorschriften im Vergabeverfahren erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht unverzüglich – das bedeutet je nach Sachlage innerhalb von 3 (drei) bis spätestens 7 (sieben) Kalendertagen – gerügt hat (§ 107 Abs. 3 S. 1 Nr. 1 GWB), 2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Angebotsabgabe oder zur Bewerbung gegenüber dem Auftragnehmer gerügt werden (§ 107 Abs. 3 S.1 Nr. 2 GWB), 3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung angegebenen Frist oder zur Bewerbung gegenüber dem Auftragnehmer gerügt werden (§ 107 Abs. 3 S. 1 Nr. 3 GWB), 4. mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind (§ 107 Abs. 3 S. 1 Nr. 4 GWB).

Quelle: OJS 2016/S 143-259294 (2016-07-22)

Neue Beschaffungen in verwandten Kategorien 🆕

Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) (>20 neue Beschaffungen)

Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen (19)

Mikroskope (6)

Elektronenmikroskope (1)