Schnelles Hochauflösendes Rasterkraftmikroskop
Unser Forschungsziel ist es, die lokalen Vorgänge während der Verformung von Werkstoffen auf der Mikro- und Nanoebene zu charakterisieren. Eine spezifische Aufgabe des neuen Rasterkraftmikroskops wird daher die in-situ Evaluation von Veränderungen der Topographie während der Durchführung verschiedener makro-, mikro- und nanomechanischer Tests sein. In-situ AFM-Messungen helfen uns, den Zusammenhang zwischen Verformungsprozessen und den mikrostrukturellen Eigenschaften zu bestimmen. Deshalb ist eine hohe zeitliche Auflösung der dynamischen Prozesse gewünscht, d.h. eine schnelle Scangeschwindigkeit bei ausreichender Genauigkeit.
Ein weiteres wichtiges Interessengebiet unseres Instituts ist die Charakterisierung der lokalen mechanischen Eigenschaften, wie E-Modul, Dämpfung, Adhäsion, etc. Die AFM-Technik ermöglicht uns die mechanischen Eigenschaften bei hoher lateraler Auflösung zu bestimmen. AFM-Messungen müssen mit einer räumlichen Auflösung durchgeführt werden, die die Größe des mikro- und nanostrukturierten Materials unterschreitet. Diese Fähigkeit macht es uns möglich, die „Verformungen“ im Innern kleinster Strukturen zu untersuchen.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2016-08-17.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2016-07-15.
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Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
| 2016-07-15
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Auftragsbekanntmachung
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