200 kV Transmissionselektronenmikroskop mit Feldmissionsquelle, Rastereinheit etc
Zur Bearbeitung von wissenschaftlichen Fragestellungen im Bereich nanoskaliger Strukturen, Grenz- und Oberflächen sowie Festkörperphasenumwandlungen wird ein (1) 200kV Transmissionselektronenmikroskop mit Feldmissionsquelle, Rastereinheit etc. benötigt, welches die in Kapitel 2.1 der Ausschreibungsunterlagen beschriebenen Mindestanforderungen erfüllt. Es handelt sich um eine Festpreisausschreibung gemäß § 58 Abs. 2 Satz 3 VgV (siehe Kapitel 2.2 der Ausschreibungsunterlagen).
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2018-01-31.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-12-18.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2017-12-18
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Auftragsbekanntmachung
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| 2018-03-07
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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