Kurze Beschreibung
Am Fraunhofer IIS/EAS werden integrierte Schaltungen (ICs), Baugruppen und Systeme entwickelt und getestet. Der Zuverlässigkeit dieser Produkte kommt dabei eine immer größere Bedeutung zu. Aus diesem Grund ist die Evaluierung und Modellierung der Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen ein wesentlicher Gegenstand unserer Arbeiten. Um die Zuverlässigkeit eines ICs bereits im Entwurfsprozess zu gewährleisten, werden am Fraunhofer IIS/EAS Alterungsmodelle für Transistoren entwickelt. Fortsetzung in II.2.4.