Laser-Scanning-Mikroskop

Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal eVergabe

Für die kontaktlose Metrologie von lithographischen und ultrapräzisionsbearbeiteten Oberflächenprofilen von optischen Komponenten wird ein reinraumtaugliches Laser-Scanning-Mikroskop benötigt. Die besonderen Anforderungen liegen in der höchstmöglichen Auflösung, den Messwellenlängen und unterschiedliche Geometrien der zu untersuchenden Substrate.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-12-11. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-11-09.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?

Wie?

Wo?

Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2017-11-09 Auftragsbekanntmachung
2018-01-12 Ergänzende Angaben
2018-04-12 Bekanntmachung über vergebene Aufträge
Ergänzende Angaben (2018-01-12)
Öffentlicher Auftraggeber
Name und Adressen
Name:
“Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal eVergabe”
Postanschrift: Hansastr. 27 c
Postort: München
Postleitzahl: 80686
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: fraunhofer@deutsche-evergabe.de 📧
Region: München, Kreisfreie Stadt 🏙️
URL: http://www.fraunhofer.de 🌏
Adresse des Käuferprofils: http://www.deutsche-evergabe.de/ 🌏

Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Laser-Scanning-Mikroskop E_066_238679 cl-wit
Produkte/Dienstleistungen: Mikroskope 📦
Kurze Beschreibung:
“Für die kontaktlose Metrologie von lithographischen und ultrapräzisionsbearbeiteten Oberflächenprofilen von optischen Komponenten wird ein...”    Mehr anzeigen

Ergänzende Informationen
Referenz der ursprünglichen Mitteilung
Nummer der Bekanntmachung im Amtsblatt S: 2017/S 218-452860

Änderungen
Zu berichtigender Text in der ursprünglichen Bekanntmachung
Nummer des Abschnitts: IV.2.6
Ort des zu ändernden Textes: Bindefrist des Angebots
Alter Wert
Datum: 2018-01-12 📅
Neuer Wert
Datum: 2018-01-26 📅
Quelle: OJS 2018/S 010-018212 (2018-01-12)