Lieferung eines aberrationskorrigierten Transmissionenelektronenmikroskops
Das aberrationskorrigierte TEM muss sowohl ortsaufgelöste (HR-TEM, energiegefilterte Abbildung und HR-STEM mit Ordnungszahl-Kontrast) als auch chemische Informationen (EDX und EELS) auf atomarer Ebene liefern, zusammen mit klassischen Beugungsinformationen, für eine möglichst umfassende Charakterisierung von Grenzflächen.
Aus diesem Anforderungsprofil resultiert die Notwendigkeit eines aberrationskorrigierten TEM für den Rastermodus, ausgestattet mit einem sog. STEM Cs-Korrektor, über den ein kleinster Strahldurchmesser eingestellt werden kann, einhergehend mit einem möglichst großen Strahlstrom im fokussierten Elektronenstrahl über einen Feld-Emitter mit einem möglichst effizienten EDX-System, welches einen großen Raumwinkelbereich abdeckt.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-02-14.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-01-25.
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Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
| 2017-01-25
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Auftragsbekanntmachung
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