Lieferung eines Raster-Elektronenmikroskops für metrologische Anwendungen
Lieferung eines Raster-Elektronenmikroskops für metrologische Anwendungen gemäß Leistungsbeschreibung (s. Vergabeunterlagen).
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-03-23.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-02-13.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2017-02-13
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Auftragsbekanntmachung
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| 2017-05-30
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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