Lieferung eines Rasterkraftmikroskops
Es soll ein Rasterkraftmikroskop zur Bestimmung intrinsischer Ladungsträgermobilitäten in hochgeordneten, selbstorganisierenden Monolagen (SAMs) organischer Halbleiter-Moleküle (OSCs) angeschafft werden. Neben der Messung kleinster Ströme (HR-CAFM bis in Sub-100-fA-Bereich) mit hoher lateraler Auflösung unter Schutzgas soll das AFM auch zur lithographischen, elektrochemisch-gestützten Herstellung zweidimensionaler, hochgeordneter SAMs mit definierter Größe und Form in ethanolischem bzw. wässrigem Medium bis hinunter in den Sub-µm- bzw. den nm-Bereich genutzt werden. Dabei wird die AFM-Spitze als Lithographiewerkzeug verwendet und das elektrische Feld zur Herstellung der SAMs in einer elektrochemischen Flüssigzelle erzeugt. Die Datenerfassung (Strommessung, Materialkontrastdarstellung, Topographie) muss in einem Modus erfolgen, in dem eine kleinstmögliche, jedoch kontrollierbare mechanische Wechselwirkung der SAMs bzw. SAM-Moleküle mit der rasternden AFM-Spitze gewährleistet ist.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-05-24.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-04-24.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2017-04-24
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Auftragsbekanntmachung
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| 2017-08-24
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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