Lieferung eines Rasterkraftmikroskops

Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle

Es soll ein Rasterkraftmikroskop zur Bestimmung intrinsischer Ladungsträgermobilitäten in hochgeordneten, selbstorganisierenden Monolagen (SAMs) organischer Halbleiter-Moleküle (OSCs) angeschafft werden. Neben der Messung kleinster Ströme (HR-CAFM bis in Sub-100-fA-Bereich) mit hoher lateraler Auflösung unter Schutzgas soll das AFM auch zur lithographischen, elektrochemisch-gestützten Herstellung zweidimensionaler, hochgeordneter SAMs mit definierter Größe und Form in ethanolischem bzw. wässrigem Medium bis hinunter in den Sub-µm- bzw. den nm-Bereich genutzt werden. Dabei wird die AFM-Spitze als Lithographiewerkzeug verwendet und das elektrische Feld zur Herstellung der SAMs in einer elektrochemischen Flüssigzelle erzeugt. Die Datenerfassung (Strommessung, Materialkontrastdarstellung, Topographie) muss in einem Modus erfolgen, in dem eine kleinstmögliche, jedoch kontrollierbare mechanische Wechselwirkung der SAMs bzw. SAM-Moleküle mit der rasternden AFM-Spitze gewährleistet ist.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-05-24. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-04-24.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• Bruker France S.A.S.

Wer?

• Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle

Wie?

• Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen › Mikroskope

Wo?

• Baden-Württemberg › Karlsruhe
• Köln › Bonn, Kreisfreie Stadt

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2017-04-24	Auftragsbekanntmachung
2017-08-24	Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Auftragsbekanntmachung (2017-04-24)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Mikroskope
Referenznummer: SFB 1249/2017 (A 740)
Kurze Beschreibung:

Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Mikroskope 📦
Ort der Leistung
NUTS-Region: Karlsruhe 🏙️

Verfahren
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle
Postanschrift: Kennedyallee 40
Postleitzahl: 53175
Postort: Bonn
Kontakt
Internetadresse: http://www.dfg.de 🌏
E-Mail: ute.breuer@dfg.de 📧
Telefon: +49 2288852474 📞
Fax: +49 2288853676 📠
URL der Dokumente: http://www.dfg.de/foerderung/programme/infrastruktur/wgi/zentrale_beschaffungsstelle/index.html 🌏

Referenz
Daten
Absendedatum: 2017-04-24 📅
Einreichungsfrist: 2017-05-24 📅
Veröffentlichungsdatum: 2017-04-25 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2017/S 080-153955
ABl. S-Ausgabe: 80
Zusätzliche Informationen

Zu II.2.7): Es handelt sich um einen einmaligen Lieferauftrag ohne Laufzeiten, das Formular erfordert in diesem Feld jedoch eine Eingabe.

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Das anzuschaffende Rasterkraftmikroskop soll als Tip-Scanner ausgelegt sein. Es muss eine minimale Drift des Scanners in xy-Richtung sowie ein minimales Rauschen in z-Richtung gewährleistet sein. Das Gerät soll in erster Linie der hochpräzisen Bestimmung von Leitfähigkeiten (sowohl im Kontakt-Modus, als auch im nicht-resonant oszillierenden Abbildungsmodus) von hochgeordneten, selbstorganisierenden, zweidimensionalen Monolagen (SAMs) organischer Halbleiter-Moleküle (OSCs) dienen. Diese leitfähigen SAM Inseln sollen in einer zweidimensionalen Matrix aus isolierenden Molekülen mittels der sog. Nanografting- bzw. Nanoshaving-Technik erzeugt werden, wobei die Position, Form und Größe der Inseln exakt definiert werden können. Dazu muss die AFM-Spitze mittels einer integrierten Lithographie-Software in einer mit ethanolischen oder wässrigen Lösungen gefüllten Perfusionszelle über die Oberfläche des Substrates geführt werden. Die Perfusionszelle muss dabei so beschaffen sein, dass die Erzeugung der hochgeordneten SAM-Inseln unter Zuhilfenahme eines elektrischen Feldes erfolgen kann (Elektrochemiezelle) und die anschließende hochpräzise Strommessung (nach dem Spülen und Trocknen) in der gleichen Zelle auch unter Schutzgas möglich ist.

Um während der Strommessung die mechanische Wechselwirkung zwischen AFM-Spitze und den SAMs zu minimieren, ist die Anwendung eines oszillierenden Abbildungsmodus notwendig. Dabei soll in jedem Abtastzyklus zur Leitfähigkeitsmessung eine direkte Bestimmung der Abbildungskraft in Echtzeit (sowohl in Gasatmosphäre als auch in Flüssigkeit) erfolgen, worauf alle Abbildungsparameter automatisch und kontinuierlich optimiert werden. Die Anzahl der pro Zeiteinheit in diesem Modus erreichbaren Datenpunkte soll möglichst hoch sein ohne dabei an Messgenauigkeit (insbesondere Leitfähigkeit) zu verlieren. Mögliche Einflüsse wie z. B. die Änderung des Deflection Signals aufgrund von Cantileverdrift sollen automatisch und kontinuierlich eliminiert werden können. Um den Ladungstransport auf Bereichen mit sehr geringer Leitfähigkeit neben Bereichen mit höherer Leitfähigkeit auch quantitativ untersuchen zu können, muss das anzuschaffende AFM technisch die Möglichkeit bieten - ohne Änderung der Position der AFM-Spitze relativ zum Substrat - einen breiten Strombereich in ein und demselben Scanfeld gegebenenfalls mit unterschiedlichen Vorverstärkerstufen abzudecken und darzustellen, ohne dass dabei Umbaumaßnahmen erforderlich sind oder die Empfindlichkeit für Messungen sehr kleiner Ströme leidet.

Für die spätere Wiederfindung und das „Treffen“ von erzeugten Strukturen mit der AFM-Spitze ist (a) eine optische Live-Beobachtung (z. B. durch ein Mikroskop) sowie die Dokumentation (Aufnahme von Bildern mittels Kamera) der Position der AFM-Spitze relativ zur Substratoberfläche mit guter optischer Auflösung und großem Gesichtsfeld notwendig, bzw. (b) eine strikt vertikale Annäherung der Spitze an das Substrat erforderlich. Zur Identifizierung von Oberflächenbereichen oder SAMs mit unterschiedlichen Eigenschaften, werden nicht nur Leitfähigkeitsmessungen herangezogen, es sollen zudem komplementär und gleichzeitig auch Materialkontraste (Elastizität, Adhäsion, Reibung, Topographie) untersucht und simultan (Ort und Zeit) darstellbar sein. Eine motorisierte, freie Probenpositionierung muss vorhanden sein, ebenso die Möglichkeit, verschiedene Bereiche auf der Probe software-seitig vorzudefinieren, die dann automatisch von der AFM-Spitze angesteuert und untersucht werden. Ein xy-Scanbereich, der die Abbildung auch mehrerer Strukturen mit Dimensionen um die 10 µm ermöglicht, muss verfügbar sein. Das angebotene Gerät muss die Option zur Integration einer Temperatureinheit beinhalten, mit der das Gerät nachträglich ohne Umbaumaßnahmen oder Einschränkungen der Nutzbarkeit aufgerüstet werden kann. Die Bauweise des AFM muss offen gestaltet sein, sodass auch eigene experimentelle Aufbauten in das System integriert werden können.

Jeder Anbieter muss auf Wunsch durch Messungen an Referenzproben des Endnutzers nachweisen, dass er die geforderten Spezifikationen erfüllt.

Dauer: 3 Monate
Zusätzliche Informationen:

Zu II.2.7): Es handelt sich um einen einmaligen Lieferauftrag ohne Laufzeiten, das Formular erfordert in diesem Feld jedoch eine Eingabe.

Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Karlsruhe.

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Auftragsausführung
Bedingungen für die Vertragserfüllung:

Anzahlungen bis zur Höhe von max. 50 % des Kaufpreises werden nur gegen unbefristete Bankbürgschaft nach deutschem Recht geleistet.

Verfahren
Datum der Absendung der Aufforderungen: 2017-05-31 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Technischer Wert
Qualitätskriterium (Gewichtung): 50
Gewichtung des Preises: 50

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Andere Art des öffentlichen Auftraggebers: e. V.
Kontakt
Kontaktperson: Deutsche Forschungsgemeinschaft
Internetadresse: www.dfg.de 🌏
Dokumente URL: http://www.dfg.de/foerderung/programme/infrastruktur/wgi/zentrale_beschaffungsstelle/index.html 🌏

Referenz
Zusätzliche Informationen

Das Aktenzeichen entsprechend Ziff. II.1.1)) ist bei sämtlicher Korrespondenz anzugeben.

Die vollständigen Unterlagen für den Teilnahmewettbewerb sind hier veröffentlicht. Weitergehende Auftragsunterlagen werden mit der Angebotsaufforderung nach dem Schlusstermin für Teilnahmeanträge versendet.

Beim Schlusstermin laut Ziff. IV.2.2) handelt es sich um den Schlusstermin für den Eingang der Teilnahmeanträge (nicht für den Eingang der Angebote). Vor Ablauf des Schlusstermins gemäß Ziff. IV.2.2) werden keine Verdingungsunterlagen versendet.

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Bundes
Postanschrift: Villemomber Straße 76
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland 🇩🇪
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Das GWB (Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen) verpflichtet uns, Sie zu gegebener Zeit über die beabsichtigte Auftragsvergabe zu informieren. Hiergegen haben Sie die Möglichkeit, innerhalb einer festgelegten Frist vor der Vergabekammer des Bundes, Villemombler Str. 76, 53123 Bonn zu klagen. Im Falle einer fristgerechten Klage erbitten wir eine entsprechende Information.

Quelle: OJS 2017/S 080-153955 (2017-04-24)

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2017-08-24)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Referenznummer: DFG-GZ: A 740
Kurze Beschreibung:

Beschaffung eines Rasterkraftmikroskops mit in der Vergabebekanntmachung näher spezifizierten Eigenschaften und technischer Ausstattung für das Karlsruher Institut für Technologie.

Gesamtwert des Auftrags: 226 890 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt

Öffentlicher Auftraggeber
Kontakt
Telefon: +49 228885-2474 📞

Referenz
Daten
Absendedatum: 2017-08-24 📅
Veröffentlichungsdatum: 2017-08-29 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2017/S 164-337883
Verweist auf Bekanntmachung: 2017/S 080-153955
ABl. S-Ausgabe: 164

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2017-07-20 📅
Quelle: OJS 2017/S 164-337883 (2017-08-24)

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