Plasma Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (PFIB SEM)

Justus-Liebig-Universität Gießen

Plasma Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (PFIB SEM).

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2017-12-07. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2017-11-06.

Wer?

• • Justus-Liebig-Universität Gießen

Wie?

• • Elektronenmikroskope › Rasterelektronenmikroskope

Wo?

• • Gießen › Gießen, Landkreis