Analytisches, hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (SEM/FIB)

Bauhaus-Universität Weimar, Dezernat Finanzen

Lieferung, Montage und Inbetriebnahme eines analytischen, hochauflösenden Rasterelektronenmikroskops mit fokussiertem Ionenstrahl (SEM/FIB)

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2018-06-15. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2018-04-27.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?

Wie?

Wo?

Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2018-04-27 Auftragsbekanntmachung
2018-07-06 Bekanntmachung über vergebene Aufträge
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2018-07-06)
Öffentlicher Auftraggeber
Name und Adressen
Name: Bauhaus-Universität Weimar, Dezernat Finanzen
Postanschrift: Coudraystraße 7
Postort: Weimar
Postleitzahl: 99423
Land: Deutschland 🇩🇪
Kontaktperson: Bauhaus-Universität Weimar, Dezernat Finanzen, Referat Beschaffung
Telefon: +49 3643-582556 📞
E-Mail: anne-katrin.hilger@uni-weimar.de 📧
Fax: +49 3643-582515 📠
Region: Weimar, Kreisfreie Stadt 🏙️
URL: https://www.uni-weimar.de/ 🌏

Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel:
“Analytisches, hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (SEM/FIB) 2333000164-1/18”
Produkte/Dienstleistungen: Rasterelektronenmikroskope 📦
Kurze Beschreibung:
“Lieferung, Montage und Inbetriebnahme eines analytischen, hochauflösenden Rasterelektronenmikroskops mit fokussiertem Ionenstrahl (SEM/FIB)”
Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.): EUR 1579831.93 💰

1️⃣
Ort der Leistung: Weimar, Kreisfreie Stadt 🏙️
Hauptstandort oder Erfüllungsort:
“Bauhaus-Universität Weimar Fakultät Bauingenieurwesen Professur Werkstoffe des Bauens Raum 221, 2. Obergeschoss Coudraystraße 11A 99423 Weimar”
Beschreibung der Beschaffung:
“Lieferung, Montage und Inbetriebnahme eines analytischen, hochauflösenden Rasterelektronenmikroskops mit fokussiertem Ionenstrahl (SEM/FIB)”
Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Qualität und Funktionalität
Qualitätskriterium (Gewichtung): 60
Preis (Gewichtung): 40
Umfang der Beschaffung
Informationen über die Fonds der Europäischen Union: EFRE 2014-2020

Verfahren
Art des Verfahrens
Offenes Verfahren
Administrative Informationen
Frühere Veröffentlichungen zu diesem Verfahren: 2018/S 083-186560

Auftragsvergabe

1️⃣
Vertragsnummer: 2333000164-1/18
Titel:
“Analytisches, hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (SEM/FIB)”
Datum des Vertragsabschlusses: 2018-07-06 📅
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 2
Name und Anschrift des Auftragnehmers
Name: FEI Deutschland GmbH
Postort: Frankfurt / Main
Land: Deutschland 🇩🇪
Region: Frankfurt am Main, Kreisfreie Stadt 🏙️
Der Auftragnehmer ist ein KMU
Angaben zum Wert des Auftrags/der Partie (ohne MwSt.)
Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 1579831.93 💰

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Freistaates Thüringen beim Landesverwaltungsamt
Postanschrift: Jorge-Semprún-Platz 4
Postort: Weimar
Postleitzahl: 99423
Land: Deutschland 🇩🇪
Quelle: OJS 2018/S 130-296250 (2018-07-06)