Hochauflösendes analytisches Rastertransmissionselektronenmikroskop

Universität Rostock

Im Rahmen der vorliegenden Beschaffungsmaßnahme ist an der Universität Rostock im Department Leben, Licht und Materie ein hochauflösendes analytisches Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) inklusive in-situ Untersuchungsmöglichkeiten in gasförmiger und flüssiger Umgebung zu beschaffen. Das STEM-System wird für die Untersuchung von Materialien unterschiedlichster Herkunft und Zusammensetzung eingesetzt. Für die Beschaffung des ausgeschriebenen Geräts stehen Finanzmittel in Höhe von maximal 3 686 000 EUR inkl. aller Nebenkosten und Steuern zur Verfügung. Höhere Angebote werden bei der Auswahl nicht berücksichtigt.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2018-07-13. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2018-06-07.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• JEOL (Germany) GmbH

Wer?

• Universität Rostock

Wie?

• Elektronenmikroskope › Rasterelektronenmikroskope

Wo?

• Mecklenburg-Vorpommern › Rostock, Kreisfreie Stadt

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2018-06-07	Auftragsbekanntmachung
2018-07-09	Ergänzende Angaben
2018-11-12	Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Auftragsbekanntmachung (2018-06-07)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Rasterelektronenmikroskope
Kurze Beschreibung:

Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Rasterelektronenmikroskope 📦
Ort der Leistung
NUTS-Region: Rostock, Kreisfreie Stadt 🏙️

Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Einrichtung des öffentlichen Rechts
Name des öffentlichen Auftraggebers: Universität Rostock
Postanschrift: Universität Rostock, Dezernat 2, Referat 2.3 18051 Rostock
Postleitzahl: 18051
Postort: Rostock
Kontakt
Internetadresse: http://www.uni-rostock.de 🌏
E-Mail: mathias.evert@uni-rostock.de 📧
Telefon: +49 3814981537 📞
Fax: +49 3814981531 📠
URL der Dokumente: https://www.uni-rostock.de/einrichtungen/verwaltung/verwaltungsstruktur/dezernat-haushaltsangelegenheiten-d2/referat-beschaffung-d23/ausschreibung-mikroskop/ 🌏

Referenz
Daten
Absendedatum: 2018-06-07 📅
Einreichungsfrist: 2018-07-13 📅
Veröffentlichungsdatum: 2018-06-09 📅
Datum des Beginns: 2018-10-24 📅
Datum des Endes: 2020-02-29 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2018/S 109-247699
ABl. S-Ausgabe: 109
Zusätzliche Informationen

In der Wertungspahse der Angebote soll ein Demonstrationstermin eines Vergleichbaren Gerätes durch den Beiter ermöglicht werden. Die Ergebnisse des Demonstrationstermin fließen in die Bewertung der Angebote mit ein. Die Details zum Demonstrationstermin sind der Leistungsbeschreibung zu entnehmen.

Objekt
Umfang der Beschaffung
Geschätzter Gesamtwert: 3097478.99 EUR 💰
Kurze Beschreibung:

Feldemissions-Rastertransmissionselektronenmikroskop / Transmissionselektronenmikroskop (STEM/TEM) mit Cs-Korrektor im Beleuchtungssystem.

—— Elektronenquelle:

— Thermischer Feldemitter mit verbesserter Energieauflösung, alternativ kalter Feldemitter mit Energieauflösung kleiner / gleich 0.3 eV (FWHM),

— Hohe Strahlstromstabilität, Abweichungen < 20 % je 8 Stunden,

— Guter, für analytische Anwendungen hinreichender Richtstrahlwert von mindestens 5*10^7 A/sr/m

— STEM / TEM Betrieb mit mindestens 3 variabel anwendbaren Beschleunigungsspannungen, im Bereich zwischen 60 kV und 200 kV für deren Nutzung das Gerät dauerhaft eingerichtet und in seiner Auflösung (s.u.) zertifiziert ist,

—— Beleuchtungssystem:

Ansteuerbare Linsensysteme (s.u.) für optimierte Abbildung im STEM und TEM-Modus mit geeignet positionierten Blendensystemen und Scaneinheit,

—— STEM-Korrektor:

Korrektur der sphärischen Aberration der Beleuchtungseinheit (Cs-Korrektur) für optimierte STEM-Abbildung mindestens bis einschließlich zur 3. Ordnung, Optimierung der höheren Ordnungen,

—— Auflösung:

Zertifizierte Auflösungen bei verschiedenen Beschleunigungsspannungen, Aberrationskorrigierter-STEM-Modus besser oder gleich 100 pm bei 200 kV und besser oder gleich 200 pm bei 60 kV. TEM-Auflösung (Punktauflösung) besser 250 pm bei 200 kV und besser 420 pm bei 60 kV,

—— Linsensystem:

Freie Linsenansteuerung, rotationsfreie Abbildung beim Umschalten zwischen den Vergrößerungsstufen,

—— Abbildungssystem:

— Objektivblenden, SAED-Blenden,

— Feldfreie Abbildungsmodi, rotationsfreie Abbildung, s.o,

— Descan Einheit für EELS,

— Möglichkeit zu Aufrüstung auf 4D STEM.

—— Objektivpolschuhe:

Objektivpolschuhe geeignet für atomare Auflösung / Hochauflösung (s.o), auch beim Einsatz der unten angegebenen in-situ MEMS-Gaszellen und MEMS-Flüssigzellen-Halter und Verwendung der analytischen Funktionen (EDX/EELS), mit hierzu geeigneter Bauweise und ausreichendem Polschuhabstand auch für Erweiterung um optische Methoden,

—— Elektronen-Detektoren:

— ABF- und HAADF-Detektoren, mit schneller, paralleler Auslesungsfunktion, auch geeignet zum Betrieb mit EDX-Analytik und in-situ MEMS-Haltern sowie EELS Detektor. s.u,

— Faraday-Cup - notwendig für In-situ-Experimente, pico Amperemeter zur Erfassung des Strahlstroms.

—— EDX Detektoren:

EDX-Detektorsystem mit gesamt effektiv nutzbarem Raumwinkel größer als 0,5 srd, bei mehreren Detektoren einzeln auslesbar und zusammen integrierbar, mit geeigneter Schnittstelle zur Gerätesoftware, hoher Auslesegeschwindigkeit (>1000 Spektren/s),

—— EELS:

Abbildendes Energieverlustspektrometer: Gatan Quantum ER mit Dual EELS, Software und geeigneter Schnittstelle zum Gerät, am Filtereintritt BF/DF Detektor, hoher Auslesegeschwindigkeit (>1000 Spektren/s). Parallele Aufnahmemöglichkeit von EDX-Spektren (siehe unten 2.2) bei gleicher Auslesegeschwindigkeit wie EELS,

—— Kameras:

Kamera mit ca. 4 000 x 4 000 Pixeln Chipgröße, Pixelgröße mindestens größer / gleich 14μm, mit schneller Bildaufnahmefunktion (>200 Bilder/s Aufnahme und Speicherfähigkeit) bei reduzierter Pixel-Auflösung (z. B. Binning). Dynamikbereich der Kamera 16bit oder besser, auch mittels Ansteuerung umsetzbar. Geeignete Software und Hardware zur Ansteuerung und Speicherung der Bilddaten (siehe unten 2.2),

—— Probentisch:

Mechanisch getriebene Probenverstellung mit möglichst geringem Nachlauf, compuzentrische Steuerung, Piezo getriebene Feineinstellung in alle Raumrichtungen wünschenswert,

—— Mikroskopsäule:

Port zur Implementierung von zusätzlichen Anbauteilen, um Zugang zur Probe mittels optischer Methoden (z. B. Raman-Spektroskopie) während der zeitgleichen Untersuchung unter Elektronenstrahl zu ermöglichen, Zurverfügungstellung von notwendigen technischen Details und Geräteskizzen zur technischen Umsetzung dieser Option (siehe unten 3.3).

Die weiteren technischen Anfordrungen sind der Leistungsbeschreibung zu entnehmen.

Zusätzliche Informationen:

Die Details zum Demonstrationstermin sind der Leistungsbeschreibung zu entnehmen.

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Befähigung zur Berufsausübung:

Eigenerklärung zur Auskunft aus dem Gewerbezentralregister mit Angabe von Unternehmensnamen, Anschrift,Rechtsform, Eintragungsnummer und zuständiges Eintragungsgericht.

Eigenerklärung zum Nichtvorliegen von Ausschlussgründen nach §123 und §124 GWB sowie §19 MiLoG.

Auftragsausführung
Bedingungen für die Vertragserfüllung:

Verpflichtungserklärung zur Berücksichtigung ILO Kernarbeitsnormen.

Allgemeine Vertragsbedingungen für die Ausführung von Leistungen (VOL/B) – Fassung 2003

Verfahren
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 12:00
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2018-10-24 📅
Datum der Angebotseröffnung: 2018-07-13 📅
Zeitpunkt der Angebotseröffnung: 13:00

Öffentlicher Auftraggeber
Kontakt
Kontaktperson: Universität Rostock, Dezernat 2, Referat 2.3
Internetadresse: www.uni-rostock.de 🌏
Dokumente URL: https://www.uni-rostock.de/einrichtungen/verwaltung/verwaltungsstruktur/dezernat-haushaltsangelegenheiten-d2/referat-beschaffung-d23/ausschreibung-mikroskop/ 🌏

Referenz
Zusätzliche Informationen

In die engere Wahl für den Zuschlag kommen ausschließlich Angebote, die sämtliche geforderten technischen Spezifikationen sowie alle sonstigen Anforderungen, sowohl inhaltlich als auch formal, erfüllen und deren Bieter für die Leistungserbringung als geeignet eingestuft werden.

Der Zuschlag wird auf das Angebot mit dem besten Leistung/Preis Verhältnis erteilt. Hierfür werden Bewertungspunkte für die Leistung ermittelt und diese anschließend unter Berücksichtigung unterschiedlicher Gewichtungen zu einer Leistungskennzahl verrechnet. Die Leistungskennzahl wird durch die Summe aus Kaufpreis und Kosten für 5 Jahre Instandhaltungsvertrag dividiert.

Für die Ermittlung der Leistungskennzahl fließen sämtliche Erkenntnisse, die sich aus den Angebotsunterlagen und aus der Teststellung ergeben, in das Bewertungsschema (Vgl. Vergabeunterlagen) ein.

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammern bei dem Ministerium für Wirtschaft, Bau und Tourismus Mecklenburg-Vorpommern
Postanschrift: Johannes-Stelling-Straße 14
Postort: Schwerin
Postleitzahl: 19053
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 3855885160 📞
Fax: +49 3855884855817 📠
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Nach § 135 Abs. 2 GWB endet die Frist, mit der die Unwirksamkeit eines Vertrages mit einem Nachprüfungs-verfahren geltend gemacht werden kann, 30 Kalendertage nach der Veröffentlichung der Bekanntmachung der Auftragsvergabe im Amtsblatt der Europäischen Union.

Nach § 160 Abs. 3 Nr. 1 bis 4 GWB ist der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens unzulässig, soweit:

— der Antragsteller den gerügten Verstoß gegen Vergabevorschriften im Vergabeverfahren erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat,

— Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Angebotsabgabe oder zur

Bewerbung gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,

— Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Angebotsabgabe oder zur Bewerbung gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,

— mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind.

Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Wie: Körper überprüfen
Quelle: OJS 2018/S 109-247699 (2018-06-07)

Ergänzende Angaben (2018-07-09)
Objekt
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Ergänzende Angaben

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Postanschrift: Universität Rostock, Dezernat 2, Referat 2.3, 18051 Rostock

Referenz
Daten
Absendedatum: 2018-07-09 📅
Veröffentlichungsdatum: 2018-07-13 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2018/S 133-302854
Verweist auf Bekanntmachung: 2018/S 109-247699
ABl. S-Ausgabe: 133
Quelle: OJS 2018/S 133-302854 (2018-07-09)

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2018-11-12)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Gesamtwert des Auftrags: 3 097 000 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt

Referenz
Daten
Absendedatum: 2018-11-12 📅
Veröffentlichungsdatum: 2018-11-14 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2018/S 219-501289
ABl. S-Ausgabe: 219
Zusätzliche Informationen

In der Wertungspahse der Angebote soll ein Demonstrationstermin eines Vergleichbaren Gerätes durch den Bieter ermöglicht werden. Die Ergebnisse des Demonstrationstermin fließen in die Bewertung der Angebote mit ein. Die Details zum Demonstrationstermin sind der Leistungsbeschreibung zu entnehmen.

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Feldemissions-Rastertransmissionselektronenmikroskop/Transmissionselektronenmikroskop (STEM/TEM) mit Cs-Korrektor im Beleuchtungssystem

— Elektronenquelle:

—— thermischer Feldemitter mit verbesserter Energieauflösung, alternativ kalter Feldemitter mit Energieauflösung kleiner/gleich 0.3 eV (FWHM),

—— hohe Strahlstromstabilität, Abweichungen < 20 % je acht Stunden,

—— Guter, für analytische Anwendungen hinreichender Richtstrahlwert von mindestens 5*10^7 A/sr/m

—— STEM / TEM Betrieb mit mindestens 3 variabel anwendbaren Beschleunigungsspannungen, im Bereich zwischen 60 kV und 200 kV für deren Nutzung das Gerät dauerhaft eingerichtet und in seiner Auflösung (s. u.) zertifiziert ist.

— Beleuchtungssystem:

Ansteuerbare Linsensysteme (s. u.) für optimierte Abbildung im STEM und TEM-Modus mit geeignet positionierten Blendensystemen und Scaneinheit,

— STEM-Korrektor:

— Auflösung:

zertifizierte Auflösungen bei verschiedenen Beschleunigungsspannungen, Aberrationskorrigierter-STEM-Modus besser oder gleich 100 pm bei 200 kV und besser oder gleich 200 pm bei 60 kV. TEM-Auflösung (Punktauflösung) besser 250 pm bei 200 kV und besser 420 pm bei 60 kV,

— Linsensystem:

— Abbildungssystem:

—— Objektivblenden, SAED-Blenden,

—— feldfreie Abbildungsmodi, rotationsfreie Abbildung, s. o,

—— Descan Einheit für EELS,

—— Möglichkeit zu Aufrüstung auf 4D STEM.

— Objektivpolschuhe:

Objektivpolschuhe geeignet für atomare Auflösung/Hochauflösung (s. o), auch beim Einsatz der unten angegebenen in-situ MEMS-Gaszellen und MEMS-Flüssigzellen-Halter und Verwendung der analytischen Funktionen (EDX/EELS), mit hierzu geeigneter Bauweise und ausreichendem Polschuhabstand auch für Erweiterung um optische Methoden

— Elektronen-Detektoren:

—— ABF- und HAADF-Detektoren, mit schneller, paralleler Auslesungsfunktion, auch geeignet zum Betrieb mit EDX-Analytik und in-situ MEMS-Haltern sowie EELS Detektor. s. u,

—— Faraday-Cup – notwendig für In-situ-Experimente, pico Amperemeter zur Erfassung des Strahlstroms.

— EDX Detektoren:

— EELS:

Abbildendes Energieverlustspektrometer: Gatan Quantum ER mit DualEELS, Software und geeigneter Schnittstelle zum Gerät, am Filtereintritt BF/DF Detektor, hoher Auslesegeschwindigkeit (>1 000 Spektren/s). Parallele Aufnahmemöglichkeit von EDX-Spektren (siehe unten 2.2) bei gleicher Auslesegeschwindigkeit wie EELS.

— Kameras:

Kamera mit ca. 4 000 x 4 000 Pixeln Chipgröße, Pixelgröße mindestens größer/gleich 14 μm, mit schneller Bildaufnahmefunktion (>200 Bilder/s Aufnahme und Speicherfähigkeit) bei reduzierter Pixel-Auflösung (z. B. Binning). Dynamikbereich der Kamera 16bit oder besser, auch mittels Ansteuerung umsetzbar. Geeignete Software und Hardware zur Ansteuerung und Speicherung der Bilddaten (siehe unten 2.2)

— Probentisch:

— Mikroskopsäule:

Zusätzliche Informationen:

Verfahren
Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): technische Parameter
Qualitätskriterium (Gewichtung): 50
Kostenkriterium (Name): Preis + Wartungskosten über 5 Jahre
Kostenkriterium (Gewichtung): 50

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2018-10-24 📅
Name: JEOL (Germany) GmbH
Postanschrift: Gute Änger 30
Postort: Freising
Postleitzahl: 85356
Land: Deutschland 🇩🇪
Freising 🏙️
Internetadresse: www.jeol.de 🌏
Gesamtwert des Auftrags: 3 097 000 EUR 💰
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 2

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Nach § 135 Abs. 2 GWB endet die Frist, mit der die Unwirksamkeit eines Vertrages mit einem Nachprüfungsverfahren geltend gemacht werden kann, 30 Kalendertage nach der Veröffentlichung der Bekanntmachung der Auftragsvergabe im Amtsblatt der Europäischen Union.

— Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Angebotsabgabe oder zur Bewerbung gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,

— mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen

zu wollen, vergangen sind.

Quelle: OJS 2018/S 219-501289 (2018-11-12)

Neue Beschaffungen in verwandten Kategorien 🆕

Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) (>20 neue Beschaffungen)

Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen (17)

Mikroskope (8)

Elektronenmikroskope (1)