Time-of-Flight-Massenspektrometer mit Plasma-Sputtern für die Tiefenprofilanalyse
Time-of-Flight-Massenspektrometer mit Plasma-Sputtern für die Tiefenprofilanalyse.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2018-02-23.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2018-01-17.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2018-01-17
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Auftragsbekanntmachung
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| 2018-03-27
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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