Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf Bauteilen oder Oberflächen von Proben nach dem Versuch automatisch großflächig abscannen zu können sowie metallographisch präparierte Schliffproben nacheinander abscannen zu können. Eine örtliche Auflösung von 1,0 nm bei 15 kV und 1,8 nm bei 1 kV im Sekundärelektronenmodus soll erreicht werden können. Das Rasterelektronenmikroskop muss über eine Programmierschnittstelle verfügen, um Positionierung der Probe in x, y und z-Richtung, Drehung und Kippung, Astigmatismus-, Helligkeit-, Kontrast und Fokuseinstellungen, Anfahren von Untersuchungsbereichen ab einer Referenzposition, Aufnahme und automatisches Abspeichern von Bildern einschließlich der Metadaten und das automatisierte Abrastern großer Flächen bei hohen Vergrößerungen zu ermöglichen. Der Hersteller hat zu garantieren, dass die Anforderungen des Strahlenschutzes erfüllt sind.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2019-12-13.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2019-11-13.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Rasterelektronenmikroskop
E_019_246688 cl-golame
Produkte/Dienstleistungen: Rasterelektronenmikroskope📦
Kurze Beschreibung:
“Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf...”
Kurze Beschreibung
Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf Bauteilen oder Oberflächen von Proben nach dem Versuch automatisch großflächig abscannen zu können sowie metallographisch präparierte Schliffproben nacheinander abscannen zu können. Eine örtliche Auflösung von 1,0 nm bei 15 kV und 1,8 nm bei 1 kV im Sekundärelektronenmodus soll erreicht werden können. Das Rasterelektronenmikroskop muss über eine Programmierschnittstelle verfügen, um Positionierung der Probe in x, y und z-Richtung, Drehung und Kippung, Astigmatismus-, Helligkeit-, Kontrast und Fokuseinstellungen, Anfahren von Untersuchungsbereichen ab einer Referenzposition, Aufnahme und automatisches Abspeichern von Bildern einschließlich der Metadaten und das automatisierte Abrastern großer Flächen bei hohen Vergrößerungen zu ermöglichen. Der Hersteller hat zu garantieren, dass die Anforderungen des Strahlenschutzes erfüllt sind.
1️⃣
Ort der Leistung: Freiburg🏙️
Hauptstandort oder Erfüllungsort: 79109 Freiburg
Beschreibung der Beschaffung:
“Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf...”
Beschreibung der Beschaffung
Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf Bauteilen oder Oberflächen von Proben nach dem Versuch automatisch großflächig abscannen zu können sowie metallographisch präparierte Schliffproben nacheinander abscannen zu können. Eine örtliche Auflösung von 1,0 nm bei 15 kV und 1,8 nm bei 1 kV im Sekundärelektronenmodus soll erreicht werden können. Das Rasterelektronenmikroskop muss über eine Programmierschnittstelle verfügen, um Positionierung der Probe in x, y und z-Richtung, Drehung und Kippung, Astigmatismus-, Helligkeit-, Kontrast und Fokuseinstellungen, Anfahren von Untersuchungsbereichen ab einer Referenzposition, Aufnahme und automatisches Abspeichern von Bildern einschließlich der Metadaten und das automatisierte Abrastern großer Flächen bei hohen Vergrößerungen zu ermöglichen. Der Hersteller hat zu garantieren, dass die Anforderungen des Strahlenschutzes erfüllt sind.
Mehr anzeigen Vergabekriterien
Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium, und alle Kriterien werden nur in den Auftragsunterlagen genannt
Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des dynamischen Beschaffungssystems
Der nachstehende Zeitrahmen ist in Monaten ausgedrückt.
Beschreibung
Dauer: 4
Informationen über Optionen
Optionen ✅
Beschreibung der Optionen:
“Optional soll Gewährleistungsverlängerung angeboten werden, ein EDX-System und ein befristeter Wartungsvertrag von 12 Monaten”
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen Bedingungen für die Teilnahme
Liste und kurze Beschreibung der Bedingungen:
“Die nachführend aufgeführten Unterlagen müssen mit dem Angebot vollständig vorgelegt werden. Unvollständige Unterlagen können zum Ausschluss vom Verfahren...”
Liste und kurze Beschreibung der Bedingungen
Die nachführend aufgeführten Unterlagen müssen mit dem Angebot vollständig vorgelegt werden. Unvollständige Unterlagen können zum Ausschluss vom Verfahren führen. Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1) aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen. Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen, deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.
Mehr anzeigen Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“(1) Firmenprofil und Angabe von Mitarbeiterzahlen,
(2) Angaben zum Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre,
(3) Eigenerklärung über das Nichtvorliegen von...”
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien
(1) Firmenprofil und Angabe von Mitarbeiterzahlen,
(2) Angaben zum Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre,
(3) Eigenerklärung über das Nichtvorliegen von Ausschlussgründen (s. Anlage),
(4) Schriftliche Erklärung Ihrer Bank, das nach Zuschlagserteilung, eine Bankbürgschaft gemäß Ausschreibungsmuster, ausgestellt wird.
Mehr anzeigen Technische und berufliche Fähigkeiten
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“(1) Komplette Referenzen (Kontaktdaten) von vergleichbaren Systemen, nicht älter als 3 Jahre.
Sollten Sie aus datenschutzrechtlichen Gründen Ihre...”
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien
(1) Komplette Referenzen (Kontaktdaten) von vergleichbaren Systemen, nicht älter als 3 Jahre.
Sollten Sie aus datenschutzrechtlichen Gründen Ihre Ansprechpartner nicht benennen dürfen, so kategorisieren Sie bitte Ihren Auftraggeber (Forschung, Industrie, andere öffentliche Auftraggeber).
Mehr anzeigen Bedingungen für den Vertrag
Bedingungen für die Vertragserfüllung:
“Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1) aufgeführten Eignungskriterien...”
Bedingungen für die Vertragserfüllung
Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1) aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen, deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.
Verfahren Art des Verfahrens
Offenes Verfahren
Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2019-12-13
23:59 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Das Angebot muss gültig sein bis: 2020-01-20 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2019-12-16
12:00 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote (Ort): München
“— Anforderung Unterlagen - erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter...”
— Anforderung Unterlagen - erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden.
— Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB)
— Fragen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1) genannte Kontaktstelle gerichtet werden. Soweit relevant, werden Antworten auf Fragen oder Hinweise der Bieter auch an alle anderen Bieter versandt.
Mehr anzeigen Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
Postanschrift: Villemombler Straße 76
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland 🇩🇪 Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:
“Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1) genannten Stelle...”
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren
Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1) genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/ Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1) genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §160 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden soll, werden vor dem Zuschlag gem. §134 GWB informiert.
Mehr anzeigen Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name:
“Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal eVergabe”
Postanschrift: Hansastraße 27c
Postort: München
Postleitzahl: 80686
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: einkauf@zv.fraunhofer.de📧
URL: http://www.fraunhofer.de🌏
Quelle: OJS 2019/S 222-543880 (2019-11-13)
Ergänzende Angaben (2020-01-21) Objekt Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
“Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf...”
Kurze Beschreibung
Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf Bauteilen oder Oberflächen von Proben nach dem Versuch automatisch großflächig abscannen zu können sowie metallographisch präparierte Schliffproben nacheinander abscannen zu können. Eine örtliche Auflösung von 1.0 nm bei 15 kV und 1.8 nm bei 1 kV im Sekundärelektronenmodus soll erreicht werden können. Das Rasterelektronenmikroskop muss über eine Programmierschnittstelle verfügen, um Positionierung der Probe in x, y und z-Richtung, Drehung und Kippung, Astigmatismus-, Helligkeit-, Kontrast und Fokuseinstellungen, Anfahren von Untersuchungsbereichen ab einer Referenzposition, Aufnahme und automatisches Abspeichern von Bildern einschließlich der Metadaten und das automatisierte Abrastern großer Flächen bei hohen Vergrößerungen zu ermöglichen. Der Hersteller hat zu garantieren, dass die Anforderungen des Strahlenschutzes erfüllt sind.
Ergänzende Informationen Referenz der ursprünglichen Mitteilung
Nummer der Bekanntmachung im Amtsblatt S: 2019/S 222-543880
Änderungen Zu berichtigender Text in der ursprünglichen Bekanntmachung
Nummer des Abschnitts: IV.2.6)
Ort des zu ändernden Textes: Bindefrist des Angebots
Alter Wert
Datum: 2020-01-20 📅
Neuer Wert
Datum: 2020-02-28 📅
Zeit: 23:59
Quelle: OJS 2020/S 016-033611 (2020-01-21)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2020-03-12) Objekt Umfang der Beschaffung
Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.): EUR 0.01 💰
Beschreibung
Beschreibung der Beschaffung:
“Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf...”
Beschreibung der Beschaffung
Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf Bauteilen oder Oberflächen von Proben nach dem Versuch automatisch großflächig abscannen zu können sowie metallographisch präparierte Schliffproben nacheinander abscannen zu können. Eine örtliche Auflösung von 1.0 nm bei 15 kV und 1.8 nm bei 1 kV im Sekundärelektronenmodus soll erreicht werden können. Das Rasterelektronenmikroskop muss über eine Programmierschnittstelle verfügen, um Positionierung der Probe in x, y und z-Richtung, Drehung und Kippung, Astigmatismus-, Helligkeit-, Kontrast und Fokuseinstellungen, Anfahren von Untersuchungsbereichen ab einer Referenzposition, Aufnahme und automatisches Abspeichern von Bildern einschließlich der Metadaten und das automatisierte Abrastern großer Flächen bei hohen Vergrößerungen zu ermöglichen. Der Hersteller hat zu garantieren, dass die Anforderungen des Strahlenschutzes erfüllt sind.
Mehr anzeigen Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): technische Leistungsparameter
Qualitätskriterium (Gewichtung): 60
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Kosten Wartungsvertrag
Qualitätskriterium (Gewichtung): 5
Preis (Gewichtung): 35
Informationen über Optionen
Beschreibung der Optionen:
“Optional soll Gewährleistungsverlängerung angeboten werden, ein EDX-System und ein befristeter Wartungsvertrag von 12 Monaten.”
Verfahren Administrative Informationen
Frühere Veröffentlichungen zu diesem Verfahren: 2019/S 222-543880
Auftragsvergabe
1️⃣
Titel: Rasterelektronenmikroskop
Datum des Vertragsabschlusses: 2020-02-18 📅
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 2
Anzahl der auf elektronischem Wege eingegangenen Angebote: 2
Name und Anschrift des Auftragnehmers
Name: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Postort: Oberkochen
Land: Deutschland 🇩🇪
Region: Stuttgart, Stadtkreis🏙️
Der Auftragnehmer ist ein KMU
Angaben zum Wert des Auftrags/der Partie (ohne MwSt.)
Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 0.01 💰
“— Anforderung Unterlagen – erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter...”
— Anforderung Unterlagen – erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden;
— Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB);
— Fragen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1) genannte Kontaktstelle gerichtet werden. Soweit relevant, werden Antworten auf Fragen oder Hinweise der Bieter auch an alle anderen Bieter versandt.
Mehr anzeigen Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:
“Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1) genannten Stelle...”
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren
Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1) genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1) genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §160 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden soll, werden vor dem Zuschlag gem. §134 GWB informiert.
Mehr anzeigen
Quelle: OJS 2020/S 054-128206 (2020-03-12)