Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf Bauteilen oder Oberflächen von Proben nach dem Versuch automatisch großflächig abscannen zu können sowie metallographisch präparierte Schliffproben nacheinander abscannen zu können. Eine örtliche Auflösung von 1,0 nm bei 15 kV und 1,8 nm bei 1 kV im Sekundärelektronenmodus soll erreicht werden können. Das Rasterelektronenmikroskop muss über eine Programmierschnittstelle verfügen, um Positionierung der Probe in x, y und z-Richtung, Drehung und Kippung, Astigmatismus-, Helligkeit-, Kontrast und Fokuseinstellungen, Anfahren von Untersuchungsbereichen ab einer Referenzposition, Aufnahme und automatisches Abspeichern von Bildern einschließlich der Metadaten und das automatisierte Abrastern großer Flächen bei hohen Vergrößerungen zu ermöglichen. Der Hersteller hat zu garantieren, dass die Anforderungen des Strahlenschutzes erfüllt sind.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2019-12-13.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2019-11-13.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Auftragsbekanntmachung (2019-11-13) Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Rasterelektronenmikroskope
Referenznummer: E_019_246688 cl-golame
Kurze Beschreibung:
Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf Bauteilen oder Oberflächen von Proben nach dem Versuch automatisch großflächig abscannen zu können sowie metallographisch präparierte Schliffproben nacheinander abscannen zu können. Eine örtliche Auflösung von 1,0 nm bei 15 kV und 1,8 nm bei 1 kV im Sekundärelektronenmodus soll erreicht werden können. Das Rasterelektronenmikroskop muss über eine Programmierschnittstelle verfügen, um Positionierung der Probe in x, y und z-Richtung, Drehung und Kippung, Astigmatismus-, Helligkeit-, Kontrast und Fokuseinstellungen, Anfahren von Untersuchungsbereichen ab einer Referenzposition, Aufnahme und automatisches Abspeichern von Bildern einschließlich der Metadaten und das automatisierte Abrastern großer Flächen bei hohen Vergrößerungen zu ermöglichen. Der Hersteller hat zu garantieren, dass die Anforderungen des Strahlenschutzes erfüllt sind.
Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf Bauteilen oder Oberflächen von Proben nach dem Versuch automatisch großflächig abscannen zu können sowie metallographisch präparierte Schliffproben nacheinander abscannen zu können. Eine örtliche Auflösung von 1,0 nm bei 15 kV und 1,8 nm bei 1 kV im Sekundärelektronenmodus soll erreicht werden können. Das Rasterelektronenmikroskop muss über eine Programmierschnittstelle verfügen, um Positionierung der Probe in x, y und z-Richtung, Drehung und Kippung, Astigmatismus-, Helligkeit-, Kontrast und Fokuseinstellungen, Anfahren von Untersuchungsbereichen ab einer Referenzposition, Aufnahme und automatisches Abspeichern von Bildern einschließlich der Metadaten und das automatisierte Abrastern großer Flächen bei hohen Vergrößerungen zu ermöglichen. Der Hersteller hat zu garantieren, dass die Anforderungen des Strahlenschutzes erfüllt sind.
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union, mit GPA-Beteiligung
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Rasterelektronenmikroskope📦 Ort der Leistung
NUTS-Region: Freiburg
🏙️
Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot
Öffentlicher Auftraggeber Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe
Postanschrift: Hansastr. 27c
Postleitzahl: 80686
Postort: München
Kontakt
Internetadresse: http://www.fraunhofer.de🌏
E-Mail: fraunhofer@deutsche-evergabe.de📧
URL der Dokumente: http://www.deutsche-evergabe.de/🌏
URL der Teilnahme: http://www.deutsche-evergabe.de/🌏
— Anforderung Unterlagen - erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden.
— Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB)
— Fragen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1) genannte Kontaktstelle gerichtet werden. Soweit relevant, werden Antworten auf Fragen oder Hinweise der Bieter auch an alle anderen Bieter versandt.
— Anforderung Unterlagen - erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden.
— Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB)
— Fragen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1) genannte Kontaktstelle gerichtet werden. Soweit relevant, werden Antworten auf Fragen oder Hinweise der Bieter auch an alle anderen Bieter versandt.
Objekt Umfang der Beschaffung
Dauer: 4 Monate
Beschreibung der Optionen:
Optional soll Gewährleistungsverlängerung angeboten werden, ein EDX-System und ein befristeter Wartungsvertrag von 12 Monaten
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: 79109 Freiburg
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen Bedingungen für die Teilnahme
Befähigung zur Berufsausübung:
Die nachführend aufgeführten Unterlagen müssen mit dem Angebot vollständig vorgelegt werden. Unvollständige Unterlagen können zum Ausschluss vom Verfahren führen. Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1) aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen. Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen, deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.
Die nachführend aufgeführten Unterlagen müssen mit dem Angebot vollständig vorgelegt werden. Unvollständige Unterlagen können zum Ausschluss vom Verfahren führen. Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1) aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen. Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen, deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit:
(1) Firmenprofil und Angabe von Mitarbeiterzahlen,
(2) Angaben zum Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre,
(3) Eigenerklärung über das Nichtvorliegen von Ausschlussgründen (s. Anlage),
(4) Schriftliche Erklärung Ihrer Bank, das nach Zuschlagserteilung, eine Bankbürgschaft gemäß Ausschreibungsmuster, ausgestellt wird.
Technische und berufliche Fähigkeiten:
(1) Komplette Referenzen (Kontaktdaten) von vergleichbaren Systemen, nicht älter als 3 Jahre.
Sollten Sie aus datenschutzrechtlichen Gründen Ihre Ansprechpartner nicht benennen dürfen, so kategorisieren Sie bitte Ihren Auftraggeber (Forschung, Industrie, andere öffentliche Auftraggeber).
Auftragsausführung
Bedingungen für die Vertragserfüllung:
Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1) aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen, deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.
Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1) aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen, deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.
Verfahren
Rechtsgrundlage: 32014L0024
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 23:59
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2020-01-20 📅
Datum der Angebotseröffnung: 2019-12-16 📅
Zeitpunkt der Angebotseröffnung: 12:00
Ort des Eröffnungstermins: München
— Anforderung Unterlagen - erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden.
— Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB)
— Fragen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1) genannte Kontaktstelle gerichtet werden. Soweit relevant, werden Antworten auf Fragen oder Hinweise der Bieter auch an alle anderen Bieter versandt.
— Fragen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1) genannte Kontaktstelle gerichtet werden. Soweit relevant, werden Antworten auf Fragen oder Hinweise der Bieter auch an alle anderen Bieter versandt.
Ergänzende Informationen Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
Postanschrift: Villemombler Straße 76
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland 🇩🇪
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:
Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1) genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/ Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1) genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §160 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden soll, werden vor dem Zuschlag gem. §134 GWB informiert.
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren
Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1) genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/ Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1) genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §160 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden soll, werden vor dem Zuschlag gem. §134 GWB informiert.
Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal eVergabe
Postanschrift: Hansastraße 27c
Postort: München
Postleitzahl: 80686
E-Mail: einkauf@zv.fraunhofer.de📧
Internetadresse: http://www.fraunhofer.de🌏
Quelle: OJS 2019/S 222-543880 (2019-11-13)
Ergänzende Angaben (2020-01-21) Objekt Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf Bauteilen oder Oberflächen von Proben nach dem Versuch automatisch großflächig abscannen zu können sowie metallographisch präparierte Schliffproben nacheinander abscannen zu können. Eine örtliche Auflösung von 1.0 nm bei 15 kV und 1.8 nm bei 1 kV im Sekundärelektronenmodus soll erreicht werden können. Das Rasterelektronenmikroskop muss über eine Programmierschnittstelle verfügen, um Positionierung der Probe in x, y und z-Richtung, Drehung und Kippung, Astigmatismus-, Helligkeit-, Kontrast und Fokuseinstellungen, Anfahren von Untersuchungsbereichen ab einer Referenzposition, Aufnahme und automatisches Abspeichern von Bildern einschließlich der Metadaten und das automatisierte Abrastern großer Flächen bei hohen Vergrößerungen zu ermöglichen. Der Hersteller hat zu garantieren, dass die Anforderungen des Strahlenschutzes erfüllt sind.
Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf Bauteilen oder Oberflächen von Proben nach dem Versuch automatisch großflächig abscannen zu können sowie metallographisch präparierte Schliffproben nacheinander abscannen zu können. Eine örtliche Auflösung von 1.0 nm bei 15 kV und 1.8 nm bei 1 kV im Sekundärelektronenmodus soll erreicht werden können. Das Rasterelektronenmikroskop muss über eine Programmierschnittstelle verfügen, um Positionierung der Probe in x, y und z-Richtung, Drehung und Kippung, Astigmatismus-, Helligkeit-, Kontrast und Fokuseinstellungen, Anfahren von Untersuchungsbereichen ab einer Referenzposition, Aufnahme und automatisches Abspeichern von Bildern einschließlich der Metadaten und das automatisierte Abrastern großer Flächen bei hohen Vergrößerungen zu ermöglichen. Der Hersteller hat zu garantieren, dass die Anforderungen des Strahlenschutzes erfüllt sind.
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Ergänzende Angaben
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2020-03-12) Objekt Umfang der Beschaffung
Gesamtwert des Auftrags: 0.01 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge
— Anforderung Unterlagen – erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden;
— Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB);
— Fragen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1) genannte Kontaktstelle gerichtet werden. Soweit relevant, werden Antworten auf Fragen oder Hinweise der Bieter auch an alle anderen Bieter versandt.
— Anforderung Unterlagen – erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden;
— Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB);
— Fragen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1) genannte Kontaktstelle gerichtet werden. Soweit relevant, werden Antworten auf Fragen oder Hinweise der Bieter auch an alle anderen Bieter versandt.
Objekt Umfang der Beschaffung
Beschreibung der Optionen:
Optional soll Gewährleistungsverlängerung angeboten werden, ein EDX-System und ein befristeter Wartungsvertrag von 12 Monaten.
Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2020-02-18 📅
Name: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Postort: Oberkochen
Land: Deutschland 🇩🇪 Stuttgart, Stadtkreis
🏙️
Gesamtwert des Auftrags: 0.01 EUR 💰
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 2
Referenz Zusätzliche Informationen
— Anforderung Unterlagen – erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden;
— Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB);
Ergänzende Informationen Körper überprüfen
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:
Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1) genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1) genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §160 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden soll, werden vor dem Zuschlag gem. §134 GWB informiert.
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren
Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1) genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1) genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §160 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden soll, werden vor dem Zuschlag gem. §134 GWB informiert.