Rasterelektronenmikroskop mit Tieftemperaturstage zur Bestimmung von Materialkenngrößen von Supraleitern und anderen Materialien
TU Ilmenau, Dezernat Finanzen, SG Beschaffung
Lieferung und Inbetriebnahme eines Rasterelektronenmikroskops mit Tieftemperatur-Stage zur Bestimmung von Materialkenngrößen von Supraleitern, Josephson-Kontakten, memristiven Werkstoffen und weiteren Werkstoffen.
DeadlineDie Frist für den Eingang der Angebote war 2019-04-18. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2019-03-13.
AnbieterDie folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer? Wie?- • Elektrische, elektromagnetische und mechanische Behandlung › Elektromagnetische Anlage
- • Elektronenmikroskope › Rasterelektronenmikroskope
- • Strahlenmessgeräte › Instrumente zum Messen elektrischer Größen
Geschichte der Beschaffung
| Datum | Dokument |
|---|---|
| 2019-03-13 | Auftragsbekanntmachung |
| 2019-04-18 | Ergänzende Angaben |
| 2020-04-28 | Ergänzende Angaben |
| 2020-06-23 | Bekanntmachung über vergebene Aufträge |
Auftragsbekanntmachung (2019-03-13)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Rasterelektronenmikroskope
Referenznummer: TU-045/19-201-ZMN
Kurze Beschreibung:
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union, mit GPA-Beteiligung
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Rasterelektronenmikroskope 📦
Zusätzlicher CPV-Code: Instrumente zum Messen elektrischer Größen 📦
Ort der Leistung
NUTS-Region: Ilm-Kreis 🏙️
Verfahren
Verfahrensart: Wettbewerblicher Dialog
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot
Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Einrichtung des öffentlichen Rechts
Name des öffentlichen Auftraggebers: TU Ilmenau, Dezernat Finanzen, SG Beschaffung
Postanschrift: Max-Planck-Ring 14
Postleitzahl: 98693
Postort: Ilmenau
Kontakt
Internetadresse: http://www.tu-ilmenau.de 🌏
E-Mail: beschaffung@tu-ilmenau.de 📧
Telefon: +49 3677-691744 📞
Fax: +49 3677-691931 📠
URL der Dokumente: https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=245908 🌏
URL der Teilnahme: https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=245908 🌏
Referenz
Daten
Absendedatum: 2019-03-13 📅
Einreichungsfrist: 2019-04-18 📅
Veröffentlichungsdatum: 2019-03-18 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2019/S 054-124072
ABl. S-Ausgabe: 54
Zusätzliche Informationen
Objekt
Umfang der Beschaffung
Geschätzter Gesamtwert: 665 000 EUR 💰
Kurze Beschreibung:
Dauer: 24 Monate
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Zusätzlicher CPV-Code: FG11
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: TU Ilmenau
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Befähigung zur Berufsausübung:
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit:
Mindeststandards:
Technische und berufliche Fähigkeiten:
Mindeststandards:
Verfahren
Rechtsgrundlage: 32014L0024
Mindestzahl der Bewerber: 3
Höchstzahl der Bewerber: 5
Objektive Kriterien für die Auswahl der begrenzten Anzahl von Bewerbern:
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 13:00
Datum der Absendung der Aufforderungen: 2019-05-13 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Öffentlicher Auftraggeber
Kontakt
Dokumente URL: https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=245908 🌏
Internetadresse: https://www.evergabe-online.de/start.html;jsessionid=BF449CCA7F8474007861F7B2846EBCEC.app202?0 🌏
Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer beim Thüringer Landesverwaltungsamt
Postanschrift: Weimar Platz 4
Postort: Weimar
Postleitzahl: 99423
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 361-37700 📞
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren: Entsprechend der Regelungen gemäß § 160 GWB.
Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name: TU Ilmenau, Dezernat Finanzen, SG Beschaffung
Postanschrift: Max-Planck-Ring 14
Postort: Ilmenau
Postleitzahl: 98693
Telefon: +49 3677-691744 📞
E-Mail: beschaffung@tu-ilmenau.de 📧
Fax: +49 3677-691931 📠
Internetadresse: http://www.tu-ilmenau.de 🌏
Quelle: OJS 2019/S 054-124072 (2019-03-13)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Rasterelektronenmikroskope
Referenznummer: TU-045/19-201-ZMN
Kurze Beschreibung:
Lieferung und Inbetriebnahme eines Rasterelektronenmikroskops mit Tieftemperatur-Stage zur Bestimmung von Materialkenngrößen von Supraleitern, Josephson-Kontakten, memristiven Werkstoffen und weiteren Werkstoffen.
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union, mit GPA-Beteiligung
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Rasterelektronenmikroskope 📦
Zusätzlicher CPV-Code: Instrumente zum Messen elektrischer Größen 📦
Ort der Leistung
NUTS-Region: Ilm-Kreis 🏙️
Verfahren
Verfahrensart: Wettbewerblicher Dialog
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot
Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Einrichtung des öffentlichen Rechts
Name des öffentlichen Auftraggebers: TU Ilmenau, Dezernat Finanzen, SG Beschaffung
Postanschrift: Max-Planck-Ring 14
Postleitzahl: 98693
Postort: Ilmenau
Kontakt
Internetadresse: http://www.tu-ilmenau.de 🌏
E-Mail: beschaffung@tu-ilmenau.de 📧
Telefon: +49 3677-691744 📞
Fax: +49 3677-691931 📠
URL der Dokumente: https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=245908 🌏
URL der Teilnahme: https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=245908 🌏
Referenz
Daten
Absendedatum: 2019-03-13 📅
Einreichungsfrist: 2019-04-18 📅
Veröffentlichungsdatum: 2019-03-18 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2019/S 054-124072
ABl. S-Ausgabe: 54
Zusätzliche Informationen
Hinweis zum Ausfüllen der EEE: Dienst zum Ausfüllen und Wiederverwenden der EEE unter dem Link: Dazu „Ich bin ein Wirtschaftsteilnehmer“ https://ec.europa.eu anklicken und dann die Option „eine Antwort erstellen" /tools/espd/filter?lang=de. anklicken. Dann kann die EEE ausgefüllt und im gleichen Format (xml) sowie als PDFDatei exportiert/ gespeichert werden. Zum Teilnahmewettbewerb (Erster Teil des Vergabeverfahrens): Der Teilnahmewettbewerb dient zur Ermittlung der Eignung der Bewerber. Es werden im zweiten Teil des Vergabeverfahrens (Angebotsverfahren) nur Bewerber mit festgestellter Eignung zugelassen. Wird mindestens eine der Mindestanforderungen nicht erfüllt, liegt keine Eignung vor. Entsprechend Abschnitt II 2.9 wird aus den geeigneten Bewerbern unter Berücksichtigung der Bewertungsgewichtung eine Auswahl von maximal 5 Bewerbern herbeiführen. Zum Angebotsverfahren (Zweiter Teil des Vergabeverfahrens): In einer ersten Phase werden die ausgewählten maximal 5 Bewerber zur Erstellung Lösungskonzeptes und eines ersten verbindlichen Angebots aufgefordert. Diese Angebote sind Grundlage der nächsten Phasen mit Verhandlungsrunden mit maximal 3 Bietern. Im Bedarfsfall können Prozesstests zur Bewertung von Lösungskonzepten vorgesehen werden. In diesen Phasen kann nach Bewertung der vorgelegten Lösungskonzepte und Testergebnisse eine weitere Reduzierung der Teilnehmerzahl erfolgen. Letztlich werden die im Verfahren verbleibenden Bieter final um ein Angebot gebeten, bevor die Vergabe mit der Auftragserteilung an den Bestbieter abgeschlossen wird. Die Ausschluss- und Bewertungskriterien werden mit den jeweiligen Aufforderungen zur Angebotserstellung bzw. Prozesstest mitgeteilt.
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Objekt
Umfang der Beschaffung
Geschätzter Gesamtwert: 665 000 EUR 💰
Kurze Beschreibung:
Die Technische Universität Ilmenau beabsichtigt, die technologische Ausstattung im Bereich der Forschung zur Mikro- und Nanotechnologie zu erweitern. Hierzu ist vorgesehen, ein Rasterelektronenmikroskop zu beschaffen, dass Materialuntersuchungen in einem Temperaturbereich von – 6 K bis zu mindestens Raumtemperatur ermöglicht. Es sollen physikalische Fragestellungen ortsaufgelöst beantwortet werden. Dabei spielen sowohl die Untersuchung und Charakterisierung von einzelnen Josephson-Kontakten, von Arrays aus Josephson-Kontakten und supraleitenden Mikrowellenschaltungen, von supraleitender Tunnelübergangsdetektoren, des Tiefentladungsdurchschlags von Halbleitern, von supraleitenden Tunnelübergänge, Variationen der Bandlücke und der Josephson-Stromdichte, der Anisotropie der Phononenausbreitung in Einkristallen als auch das Defektmapping in Einkristallen, das Mapping von in Supraleitern eingefrorenen Flussschläuchen, die Verteilung der kritischen Stromdichte und kritischen Temperatur in Supraleitern bzw. supraleitenden Schichten eine Rolle. Untersuchungsgegenstand sind u. a. dünne Filme aus Metallen, Metall-Oxiden und Nitriden für Anwendungen als Tunnelbarrieren oder Elektroden in memristiven und kryoelektronischen Bauelementen. Dafür sind sowohl in-situ elektrische Messungen als auch die Applikation von elektromagnetischen Feldern angedacht.
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Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Zusätzlicher CPV-Code: FG11
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: TU Ilmenau
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Befähigung zur Berufsausübung:
Nachweis über die Befähigung zur Berufsausübung durch Abgabe der EEE – Teil IV Abschnitt A. (Siehe Abschnitt VI.3 dieser Bekanntmachung – zusätzliche Angaben: Link und Erläuterungen zum Dienst zum Ausfüllen und Wiederverwenden der EEE). Die Nichterfüllung mindestens eines dieser Mindestanforderungen gilt als Ausschlusskriterium.
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Nachweis über die wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit durch Abgabe der EEE – Teil IV Abschnitt B. (Siehe Abschnitt VI.3 dieser Bekanntmachung – zusätzliche Angaben: Link und Erläuterungen zum Dienst zum Ausfüllen und Wiederverwenden der EEE).
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Unterlagen, welche
(W1) über die wirtschaftliche Gesamtsituation des Bieters;
(W2) den Umsatz von Systemen zur Rasterelektronenmikroskopie in Forschungseinrichtungen in den letzten 3 Jahren sowie;
(W3) die aktuelle Mitarbeiterzahl und deren Qualifikationsstruktur im Bereich R&D für die Rasterelektronenmikroskopie Aussagekräftige Auskunft geben.
— Nachweis über die technische und berufliche Leistungsfähigkeit durch Abgabe der EEE – Teil IV Abschnitt Cund D (Hinweis: bezogen auf die letzten 3 abgeschlossenen Geschäftsjahre). (Siehe Abschnitt VI.3 dieser Bekanntmachung – zusätzliche Angaben: Link und Erläuterungen zum Dienst zum Ausfüllen und Wiederverwenden der EEE).
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Mindestanforderung (Ausschlusskriterium):
(M4) Der Bewerber muss mindestens eine Referenzinstallation eines Systems zur Rasterelektronenmikroskopie mit Tieftemperaturstage in einer Forschungseinrichtung vorweisen können;
(M5) Vorhandensein eines eigenen Applikationslabors zur Rasterelektronenmikroskopie.
Bewertungskriterien:
(T1) Referenzen von derzeit funktionstüchtigen und vergleichbaren Leistungen und Geräten in Europa bzw. weltweit;
(T2) die aktuelle Mitarbeiterzahl und deren Qualifikationsstruktur im Applikationslabor sowie;
(T3) nächstgelegener Servicestandort zum Erfüllungsort.
Verfahren
Rechtsgrundlage: 32014L0024
Mindestzahl der Bewerber: 3
Höchstzahl der Bewerber: 5
Objektive Kriterien für die Auswahl der begrenzten Anzahl von Bewerbern:
Zur Teilnahme berechtigt sind die maximal fünf Bewerber, die alle fünf Mindestanforderungen erfüllen haben und die fünf höchsten gewichteten und summierten Wertungen erhalten haben:
(W1) wirtschaftliche Gesamtsituation des Bieters – Absteigende Bewertung der fünf umsatzstärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 10 %;
(W2) Umsatz von Systemen zur Rasterelektronenmikroskopie in Forschungseinrichtungen in den letzten 3 Jahren – Absteigende Bewertung der fünf umsatzstärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 25 %;
(W3) Mitarbeiter und deren Qualifikationsstruktur im Bereich R&D – Absteigende Bewertung der fünf R&D-stärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 15 %;
(T1) Referenzen von derzeit funktionstüchtigen und vergleichbaren Leistungen und Geräten in Europa bzw. weltweit – Absteigende Bewertung der 5 referenzstärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 25 %;
(T2) aktuelle Mitarbeiterzahl und deren Qualifikationsstruktur im Applikationslabor , Absteigende Bewertung der 5 stärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 15 %,
(T3) nächstgelegener Servicestandort – Absteigende Bewertung der Entfernung zum Erfüllungsort (5-1 Pkt.) 10 %.
Datum der Absendung der Aufforderungen: 2019-05-13 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Öffentlicher Auftraggeber
Kontakt
Dokumente URL: https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=245908 🌏
Internetadresse: https://www.evergabe-online.de/start.html;jsessionid=BF449CCA7F8474007861F7B2846EBCEC.app202?0 🌏
Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer beim Thüringer Landesverwaltungsamt
Postanschrift: Weimar Platz 4
Postort: Weimar
Postleitzahl: 99423
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 361-37700 📞
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren: Entsprechend der Regelungen gemäß § 160 GWB.
Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name: TU Ilmenau, Dezernat Finanzen, SG Beschaffung
Postanschrift: Max-Planck-Ring 14
Postort: Ilmenau
Postleitzahl: 98693
Telefon: +49 3677-691744 📞
E-Mail: beschaffung@tu-ilmenau.de 📧
Fax: +49 3677-691931 📠
Internetadresse: http://www.tu-ilmenau.de 🌏
Quelle: OJS 2019/S 054-124072 (2019-03-13)
Ergänzende Angaben (2019-04-18)
Objekt
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Ergänzende Angaben
Referenz
Daten
Absendedatum: 2019-04-18 📅
Veröffentlichungsdatum: 2019-04-23 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2019/S 079-189872
Verweist auf Bekanntmachung: 2019/S 054-124072
ABl. S-Ausgabe: 79
Quelle: OJS 2019/S 079-189872 (2019-04-18)
Objekt
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Ergänzende Angaben
Referenz
Daten
Absendedatum: 2019-04-18 📅
Veröffentlichungsdatum: 2019-04-23 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2019/S 079-189872
Verweist auf Bekanntmachung: 2019/S 054-124072
ABl. S-Ausgabe: 79
Quelle: OJS 2019/S 079-189872 (2019-04-18)
Ergänzende Angaben (2020-04-28)
Referenz
Daten
Absendedatum: 2020-04-28 📅
Veröffentlichungsdatum: 2020-04-30 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2020/S 085-201633
ABl. S-Ausgabe: 85
Quelle: OJS 2020/S 085-201633 (2020-04-28)
Referenz
Daten
Absendedatum: 2020-04-28 📅
Veröffentlichungsdatum: 2020-04-30 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2020/S 085-201633
ABl. S-Ausgabe: 85
Quelle: OJS 2020/S 085-201633 (2020-04-28)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2020-06-23)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Gesamtwert des Auftrags: 665 000 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge
Verfahren
Angebotsart: Entfällt
Referenz
Daten
Absendedatum: 2020-06-23 📅
Veröffentlichungsdatum: 2020-06-25 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2020/S 121-295384
ABl. S-Ausgabe: 121
Zusätzliche Informationen
Verfahren
Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Basisspezifiakation und Funktionsmod
Qualitätskriterium (Gewichtung): 60
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Software
Qualitätskriterium (Gewichtung): 20
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Weitere Ausstattung
Qualitätskriterium (Gewichtung): 10
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Zusatzmerkmale, Lieferzeit, Service, Kundenbetreeung
Preis (Gewichtung): 100
Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2020-06-22 📅
Name: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Postort: Oberkochen
Land: Deutschland 🇩🇪
Ostalbkreis 🏙️
Gesamtwert des Auftrags: 665 000 EUR 💰
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 2
Quelle: OJS 2020/S 121-295384 (2020-06-23)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Gesamtwert des Auftrags: 665 000 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge
Verfahren
Angebotsart: Entfällt
Referenz
Daten
Absendedatum: 2020-06-23 📅
Veröffentlichungsdatum: 2020-06-25 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2020/S 121-295384
ABl. S-Ausgabe: 121
Zusätzliche Informationen
Hinweis zum Ausfüllen der EEE: Dienst zum Ausfüllen und Wiederverwenden der EEE unter dem Link: Dazu „Ich bin ein Wirtschaftsteilnehmer“ https://ec.europa.eu anklicken und dann die Option „eine Antwort erstellen“ /tools/espd/filter?lang=de. anklicken. Dann kann die EEE ausgefüllt und im gleichen Format (xml) sowie als PDFDatei exportiert/ gespeichert werden. Zum Teilnahmewettbewerb (Erster Teil des Vergabeverfahrens): Der Teilnahmewettbewerb dient zur Ermittlung der Eignung der Bewerber. Es werden im zweiten Teil des Vergabeverfahrens (Angebotsverfahren) nur Bewerber mit festgestellter Eignung zugelassen. Wird mindestens eine der Mindestanforderungen nicht erfüllt, liegt keine Eignung vor. Entsprechend Abschnitt II.2.9) wird aus den geeigneten Bewerbern unter Berücksichtigung der Bewertungsgewichtung eine Auswahl von maximal 5 Bewerbern herbeiführen. Zum Angebotsverfahren (Zweiter Teil des Vergabeverfahrens): In einer ersten Phase werden die ausgewählten maximal 5 Bewerber zur Erstellung Lösungskonzeptes und eines ersten verbindlichen Angebots aufgefordert. Diese Angebote sind Grundlage der nächsten Phasen mit Verhandlungsrunden mit maximal 3 Bietern. Im Bedarfsfall können Prozesstests zur Bewertung von Lösungskonzepten vorgesehen werden. In diesen Phasen kann nach Bewertung der vorgelegten Lösungskonzepte und Testergebnisse eine weitere Reduzierung der Teilnehmerzahl erfolgen. Letztlich werden die im Verfahren verbleibenden Bieter final um ein Angebot gebeten, bevor die Vergabe mit der Auftragserteilung an den Bestbieter abgeschlossen wird. Die Ausschluss- und Bewertungskriterien werden mit den jeweiligen Aufforderungen zur Angebotserstellung bzw. Prozesstest mitgeteilt.
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Verfahren
Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Basisspezifiakation und Funktionsmod
Qualitätskriterium (Gewichtung): 60
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Software
Qualitätskriterium (Gewichtung): 20
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Weitere Ausstattung
Qualitätskriterium (Gewichtung): 10
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Zusatzmerkmale, Lieferzeit, Service, Kundenbetreeung
Preis (Gewichtung): 100
Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2020-06-22 📅
Name: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Postort: Oberkochen
Land: Deutschland 🇩🇪
Ostalbkreis 🏙️
Gesamtwert des Auftrags: 665 000 EUR 💰
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 2
Quelle: OJS 2020/S 121-295384 (2020-06-23)
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