Beschreibung der Beschaffung
Ausgeschrieben wird ein Rasterelektronenmikroskop welches die Mikroprüfung von Werkstoffen und Miniaturproben bei Hochtemperatur bis 1 400 C unter Hochvakuum und Teilvakuum ermöglicht. Das Institut für Test und Simulation für Gasturbinen des Deutschen Zentrums für Luft- und Raumfahrt e.V. beabsichtigt ein Rasterelektronenmikroskop und ein Zug-/Druck-Mikrotest-Modul für den Betrieb mit Licht- und Rasterelektronenmikroskopen mit den nachfolgenden Spezifikationen zu beschaffen. Anforderung an das Rasterelektronenmikroskop für den Standort Augsburg:
— Gerät mit Feldemissionskathode und moderner Ionenoptischer Säule,
— Low-Vacuum und/oder ESEM-Mode, maximaler Kammerdruck nicht kleiner als 500 Pa,
— Mindestauflösung der Elektronenoptik im Hochvakuum: 1 nm bei 30 keV,
— Mindestauflösung der Elektronenoptik im Hochvakuum: 3 nm bei 1 keV,
— ölfreies Vakuumsystem,
— Heizmodul für in-situ Untersuchungen bis zu 1 400 C in ESEM-Modus,
— Detektoren Hochvakuum: SE, Rückstreuelektronendetektor (rückziehbar, segmentiert),
— Detektoren Niedervakuum: SE-Detektor, Rückstreuelektronendetektor,
— In-Lens oder In-Column SE-Detektor,
— EDX-Detektor: rückziehbar, SDD-Typ (mind. 50 mm Detektor-Fläche), einsetzbar bei 0 und bei 70 Probenkippung bei Probentemperaturen von Raumtemperatur bis zu 800 C (IR-Schutzkappe für Detektor zulässig),
— EBSD-Detektor: Zählrate > 3 000 ipps, rückziehbar, einsetzbar bei Probentemperaturen von Raumtemperatur bis mindestens 1000 C,
— Integration von EDX und EBSD in dieselbe Steuer- und Applikationssoftware,
— Applikationssoftware,
— Integrierter Plasma-Reiniger,
— Umlaufkühler,
— Aktive Schwingungskompensierung, inkl. Installation,
— Magnetfeldkompensation (Alu-Profilrahmen), inkl. Installation,
— Installation vor Ort,
— Schulung in angemessenem Umfang für das ESEM und die EDS/EBSD-Detektoren.
Anforderung an das Zug/Druckmodul für den Standort Augsburg:
— Zug- /Druckmodul für Druck- und Zugversuche an metallischen und faserverstärkten keramischen Miniaturproben,
— Maximale Last 10 kN (Messauflösung < 0,1 N). Kleinere Lasten (ca. 50 N, 200 N, 500 N und 2000 N) müssen mit guter Genauigkeit (≤0,2 % der jeweiligen Last) abgedeckt werden können (z. B. durch inhärente Auslegung, wechselbare Kraftmessdosen oder andere im Angebot zu spezifizierende Lösungen),
— Probenheizung: mind. 1 200 C,
— Ausgerüstet für den Einsatz unter einem Videomikroskop an Luft bei Raumtemperatur,
— Vorgerüstet für Einsatz im Rasterelektronenmikroskop, Messungen in normaler Geometrie (90 zum Elektronenstrahl) und mit EBSD (20 zum Elektronenstrahl) von Raumtemperatur bis 1 200 C,
— Steuermodul, mit Software und Wegaufnehmer,
— Sowohl kraft- wie auch weggesteuertes Regeln des Zugvorgangs möglich,
— automatische Betriebsformen (zyklische Versuche, Schwell- bzw. Wechselbelastung),
— Extensometer,
— Schnittstelle zur automatischen Bilderfassung,
— Verfügbarkeit der Messkurven mindestens als Grafik und als Ascii-Format, z. B. *.csv o. ä.,
— Schnittstelle zur automatischen Bilderfassung,
— Die Installation vor Ort,
— Schulung in angemessenem Umfang,
— Das Modul darf beim REM-Betrieb maximal einen Port des Rasterelektronenmikroskops belegen,
— Optional: 3- Punkt-Biegeeinsatz, 4-Punkt Biegeeinsatz.