Das zu beschaffende SBFSEM soll es ermöglichen, 3D-Bilddatensätze von in Kunstharz eingebetteten und mit Schwermetallen kontrastierten biologischen Proben in elektronenmikroskopischer Auflösung zu gewinnen (zur Spezifikation von Probengröße und Auflösung s. u.), indem abwechselnd vollautomatisch: (1) die Probenoberfläche in der Vakuumkammer mit einem Diamantmesser abgetragen und (2) die freigelegte Oberfläche mit dem Elektronenstrahl abgebildet wird. Der Workflow von der Annäherung der Probe bis zur Speicherung, Segmentierung und 3D-Rekonstruktion der Bilddaten soll durch die geeignete Kombination von Hard- und Software optimiert sein. Das Mikroskop soll alternativ als hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop ohne Mikrotom betrieben werden können und die Möglichkeit der STEM-Abbildung von Ultradünnschnitten bieten.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2019-07-05.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2019-05-31.
Auftragsbekanntmachung (2019-05-31) Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope
Referenznummer: Serial Block-Face-Scanning-Elektronenmikrosop
Kurze Beschreibung:
Das zu beschaffende SBFSEM soll es ermöglichen, 3D-Bilddatensätze von in Kunstharz eingebetteten und mit Schwermetallen kontrastierten biologischen Proben in elektronenmikroskopischer Auflösung zu gewinnen (zur Spezifikation von Probengröße und Auflösung s. u.), indem abwechselnd vollautomatisch:
(1) die Probenoberfläche in der Vakuumkammer mit einem Diamantmesser abgetragen und
(2) die freigelegte Oberfläche mit dem Elektronenstrahl abgebildet wird. Der Workflow von der Annäherung der Probe bis zur Speicherung, Segmentierung und 3D-Rekonstruktion der Bilddaten soll durch die geeignete Kombination von Hard- und Software optimiert sein. Das Mikroskop soll alternativ als hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop ohne Mikrotom betrieben werden können und die Möglichkeit der STEM-Abbildung von Ultradünnschnitten bieten.
Das zu beschaffende SBFSEM soll es ermöglichen, 3D-Bilddatensätze von in Kunstharz eingebetteten und mit Schwermetallen kontrastierten biologischen Proben in elektronenmikroskopischer Auflösung zu gewinnen (zur Spezifikation von Probengröße und Auflösung s. u.), indem abwechselnd vollautomatisch:
(1) die Probenoberfläche in der Vakuumkammer mit einem Diamantmesser abgetragen und
(2) die freigelegte Oberfläche mit dem Elektronenstrahl abgebildet wird. Der Workflow von der Annäherung der Probe bis zur Speicherung, Segmentierung und 3D-Rekonstruktion der Bilddaten soll durch die geeignete Kombination von Hard- und Software optimiert sein. Das Mikroskop soll alternativ als hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop ohne Mikrotom betrieben werden können und die Möglichkeit der STEM-Abbildung von Ultradünnschnitten bieten.
Das zu beschaffende SBFSEM soll es ermöglichen, 3D-Bilddatensätze von in Kunstharz eingebetteten und mit Schwermetallen kontrastierten biologischen Proben in elektronenmikroskopischer Auflösung zu gewinnen (zur Spezifikation von Probengröße und Auflösung s. u.), indem abwechselnd vollautomatisch:
Das zu beschaffende SBFSEM soll es ermöglichen, 3D-Bilddatensätze von in Kunstharz eingebetteten und mit Schwermetallen kontrastierten biologischen Proben in elektronenmikroskopischer Auflösung zu gewinnen (zur Spezifikation von Probengröße und Auflösung s. u.), indem abwechselnd vollautomatisch:
(1) die Probenoberfläche in der Vakuumkammer mit einem Diamantmesser abgetragen und
(2) die freigelegte Oberfläche mit dem Elektronenstrahl abgebildet wird. Der Workflow von der Annäherung der Probe bis zur Speicherung, Segmentierung und 3D-Rekonstruktion der Bilddaten soll durch die geeignete Kombination von Hard- und Software optimiert sein. Das Mikroskop soll alternativ als hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop ohne Mikrotom betrieben werden können und die Möglichkeit der STEM-Abbildung von Ultradünnschnitten bieten.
(2) die freigelegte Oberfläche mit dem Elektronenstrahl abgebildet wird. Der Workflow von der Annäherung der Probe bis zur Speicherung, Segmentierung und 3D-Rekonstruktion der Bilddaten soll durch die geeignete Kombination von Hard- und Software optimiert sein. Das Mikroskop soll alternativ als hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop ohne Mikrotom betrieben werden können und die Möglichkeit der STEM-Abbildung von Ultradünnschnitten bieten.
Der Beschaffungsgegenstand (vollintegriertes Mikrosop-Mikrotom-Rechner-Software-System) umfasst dabei folgende entscheidende Spezifikationen:
– Feldemissions-Kathode mit Schottky-Feldemitter,
– Vakuumsystem für „variablen Druck“, nach Möglichkeit ölfrei,
– Chiller,
– Inlens SE-Detektor + Inlens BSE-Detektor,
– Everhardt-Thornley SE Detektor + Niedervakuum Detektor für SBFSEM Betrieb,
– Ladungsminimierung/maskierung für schlecht leitende Proben,
– STEM-Einheit,
– Probentisch mit den Freiheitsgraden X, Y, Z, Rotation und Tilt,
– Mehrfachprobenhalter für Standard-SEM-stubs und für TEM-Grids,
– Navigationskamera in der Kammer mit Beleuchtung, Zoom, Speichermöglichkeit,
– Mikrotom zum Scheiden in der Probenkammer (durch User leicht austauschbar gegen Standard-Probentisch) mit Annäherungshilfe (z. B. Kamera in geeigneter Position mit Beleuchtung),
– 2 Diamantmesser (durch User austauschbar, nachschärfbar),
– Bildverarbeitungsrechner + Bildschirm + 3D Bildverarbeitungssoftware,
– Datenspeicher für die generieren Bilddaten,
– Installation und Schulung,
– Information über Garantiebedingungen und abgestufte Serviceverträge Die wissenschaftliche Notwendigkeit der Kern-Spezifikationen ist in den Vergabeunterlagen zusammengefasst.
Geschätzter Wert ohne MwSt: 750 000 EUR 💰
Dauer: 12 Monate Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: In den Vergabeunterlagen aufgeführt.
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen Bedingungen für die Teilnahme
Befähigung zur Berufsausübung:
A1) Vorlage eines Handelsregisterauszuges, der bei Ablauf der Bewerbungsfrist nicht älter als 6 Monate sein darf. Sofern der Bewerber nicht im Handelsregister eingetragen ist, Vorlage eines gleichwertigen Nachweises – ebenfalls nicht älter als 6 Monate;
A1) Vorlage eines Handelsregisterauszuges, der bei Ablauf der Bewerbungsfrist nicht älter als 6 Monate sein darf. Sofern der Bewerber nicht im Handelsregister eingetragen ist, Vorlage eines gleichwertigen Nachweises – ebenfalls nicht älter als 6 Monate;
A2) Schriftliche Erklärung des Bewerbers, dass die in §123 sowie § 124 GWB genannten Ausschluss- gründe nicht zutreffen bzw. nicht vorliegen;
A3) Vorlage der Nachweise von Haftpflichtversicherungen (Unternehmenshaftpflichtversicherung) die alle Risiken, die sich aus der Vertragserfüllung ergeben, abdecken.
Verfahren
Rechtsgrundlage: 32014L0024
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 16:59
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2019-12-31 📅
Datum der Angebotseröffnung: 2019-07-05 📅
Zeitpunkt der Angebotseröffnung: 16:59
Ergänzende Informationen Körper überprüfen
Name: Vergabekammer Südbayern
Postanschrift: Maximilianstraße 39
Postort: München
Postleitzahl: 80538
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 8921762411📞
E-Mail: vergabekammer.suedbayern@reg-ob.bayern.de📧
Fax: +49 8921762847 📠
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:
(1) Etwaige Vergabeverstöße muss der Bewerber/Bieter gemäß § 160 Abs. 3 Nr. 1 GWB innerhalb von 10 Tagen nach Kenntnisnahme rügen,
(2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, sind nach § 160 Abs. 3 Nr. 2 GWB spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Abgabe der Bewerbung oder der Angebote gegenüber dem Auftraggeber zu rügen,
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren
(2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, sind nach § 160 Abs. 3 Nr. 2 GWB spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Abgabe der Bewerbung oder der Angebote gegenüber dem Auftraggeber zu rügen,
(3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, sind nach § 160 Abs. 3 Nr. 3 GWB spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbungs- oder Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber zu rügen,
(4) Ein Vergabenachprüfungsantrag ist nach § 160 Abs. 3 Nr. 4 GWB innerhalb von 15 Kalendertagen nach der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, bei der Vergabekammer einzureichen.
Quelle: OJS 2019/S 106-258252 (2019-05-31)
Ergänzende Angaben (2019-07-05) Objekt Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
Das zu beschaffende SBFSEM soll es ermöglichen, 3D-Bilddatensätze von in Kunstharz eingebetteten und mit Schwermetallen kontrastierten biologischen Proben in elektronenmikroskopischer Auflösung zu gewinnen (zur Spezifikation von Probengröße und Auflösung s.u.), indem abwechselnd vollautomatisch (1) die Probenoberfläche in der Vakuumkammer mit einem Diamantmesser abgetragen und (2) die freigelegte Oberfläche mit dem Elektronenstrahl abgebildet wird. Der Workflow von der Annäherung der Probe bis zur Speicherung, Segmentierung und 3D-Rekonstruktion der Bilddaten soll durch die geeignete Kombination von Hard- und Software optimiert sein. Das Mikroskop soll alternativ als hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop ohne Mikrotom betrieben werden können und die Möglichkeit der STEM-Abbildung von Ultradünnschnitten bieten.
Das zu beschaffende SBFSEM soll es ermöglichen, 3D-Bilddatensätze von in Kunstharz eingebetteten und mit Schwermetallen kontrastierten biologischen Proben in elektronenmikroskopischer Auflösung zu gewinnen (zur Spezifikation von Probengröße und Auflösung s.u.), indem abwechselnd vollautomatisch (1) die Probenoberfläche in der Vakuumkammer mit einem Diamantmesser abgetragen und (2) die freigelegte Oberfläche mit dem Elektronenstrahl abgebildet wird. Der Workflow von der Annäherung der Probe bis zur Speicherung, Segmentierung und 3D-Rekonstruktion der Bilddaten soll durch die geeignete Kombination von Hard- und Software optimiert sein. Das Mikroskop soll alternativ als hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop ohne Mikrotom betrieben werden können und die Möglichkeit der STEM-Abbildung von Ultradünnschnitten bieten.
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Ergänzende Angaben