Kombiniertes hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronen- und Raman- Mikroskop

Westsächsische Hochschule Zwickau

1.1. Feldfreies Feldemitter-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit integriertem RAMAN System
1.2. Spannungsversorgung für das Gerät im Deutschen Netz mit folgenden Werten (230 V; 50 Hz; Absicherung 16 A)
1.3. variable Beschleunigungsspannung, 0.1 – 30 keV
1.4. Erreichbare Auflösung < 1 nm (15 kV)
1.5. Probenstrom-Bereich (Beam/Probe- current) von mindestens 5 pA bis 300 nA oder mehr
1.6. Beam Deceleration (BD) Modus
1.7. Betriebsarten Hochvakuumbetrieb und Niedervakuumbetrieb
1.8. Pumpensystem ölfrei
1.9. Vollständige Pumpenperipherie (Umlaufkühler falls nötig, Schläuche, Verteiler / Vorpumpensysteme im Nebenraum unterzubringen ca. 6 m vom Mikroskop entfernt)
1.10. Niedervakuum-SE-Detektor
1.11. Hochvakuum-SE-Detektor (Everhart-Thornley-Detektor)
1.12. In der Linse/Säule integrierte SE und BSE Detektoren in verschiedenen Ebenen
1.13. Gesteuerter, pneumatisch oder elektrisch rückziehbarer BSE-Detektor unter der Linse (Arbeitsbereich auch im Niedervakuumbetrieb)
1.14. EDX-Analyse mit stickstofffreiem Detektor, standardfreie und standardbezogene Analyse, (Z>5)
1.15. STEM / TE-System rückziehbar, simultane Darstellung im Hell- und/oder Dunkelfeld (BF/DF/HADF)
1.16. Integrierter Plasmacleaner
1.17. 5-achsiger (XYZ, R und Tilt) Probentisch mit motorisierter Probenbühne (X-/Y-Achsen mindestens 110 mm Verfahrweg; Z-Achse mindestens 60 mm Verfahrweg; Rotation, stufenlose 360° Rotation; Kippung (Neigung / Tilt) von mindestens -5° bis +90°)
1.18. Probengewicht von mindestens 1 kg bei einer Kippung / Tilt von 70°
1.19. Probengröße von mindestens 100 mm Durchmesser und mindestens 60mm Höhe verfahr- rotier- und kippbar (mindestens 45°, im analytischen Arbeitsabstand)
1.20. Integriertes optisches Beobachtungssystem zur Beobachtung der Proben in die Kammer (IR-Kamera zur Navigation)
1.21. Minimale Bildbreite (Sichtfeld) bei 10 mm Arbeitsabstand von 2,5 mm
1.22. Bedienpult (Drehknöpfe und Funktionstasten / “control panel“ / Konsole)
1.23. Vollständige Software zum Betrieb des Feldemitter-Rasterelektronenmikroskops
1.24. Vollständiges Softwarepaket zur Bildbearbeitung (Vermessung, Einfärbung,
Stitching) und Speicherung der Bilder in den Formaten (.tif, .png, bmp, .jpeg, .gif)
und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen.
Eigenschaften des integrierten Raman-Systems:
2.1. Hoch-Präzise piezoelektrische laterale und axiale Bildgebung mit 250 x 250 x 250 μm Verfahrweg für beugungsbegrenzte Abbildung der Probenoberfläche
2.2. Köhler-Weißlichtbeleuchtung
2.3. Digitalkamera System für Hochauflösende RGB Bilder
2.4. Signal Stabilisation (für Langzeit Signal- und Fokusstabilisation)
2.5. Focus Stacking (erweiterte Fokustiefe wir Weißlichtaufnahmen)
2.6. Hohe Stabilität des konfokalen Messaufbaus während der kompletten Lebensdauer des Systems durch flexible und gleichzeitig robuste Kopplung der System-Komponenten (Faserkopplung)
und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2021-11-08. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2021-10-06.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• TESCAN GmbH

Wer?

• Westsächsische Hochschule Zwickau

Wie?

• Elektronenmikroskope › Rasterelektronenmikroskope

Wo?

• Chemnitz › Zwickau

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2021-10-06	Auftragsbekanntmachung
2021-12-09	Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Auftragsbekanntmachung (2021-10-06)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Rasterelektronenmikroskope
Referenznummer: ÖA-EU 05-21
Kurze Beschreibung:

1.1. Feldfreies Feldemitter-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit integriertem RAMAN System 1.2. Spannungsversorgung für das Gerät im Deutschen Netz mit folgenden Werten (230 V; 50 Hz; Absicherung 16 A) 1.3. variable Beschleunigungsspannung, 0.1 – 30 keV 1.4. Erreichbare Auflösung < 1 nm (15 kV) 1.5. Probenstrom-Bereich (Beam/Probe- current) von mindestens 5 pA bis 300 nA oder mehr 1.6. Beam Deceleration (BD) Modus 1.7. Betriebsarten Hochvakuumbetrieb und Niedervakuumbetrieb 1.8. Pumpensystem ölfrei 1.9. Vollständige Pumpenperipherie (Umlaufkühler falls nötig, Schläuche, Verteiler / Vorpumpensysteme im Nebenraum unterzubringen ca. 6 m vom Mikroskop entfernt) 1.10. Niedervakuum-SE-Detektor 1.11. Hochvakuum-SE-Detektor (Everhart-Thornley-Detektor) 1.12. In der Linse/Säule integrierte SE und BSE Detektoren in verschiedenen Ebenen 1.13. Gesteuerter, pneumatisch oder elektrisch rückziehbarer BSE-Detektor unter der Linse (Arbeitsbereich auch im Niedervakuumbetrieb) 1.14. EDX-Analyse mit stickstofffreiem Detektor, standardfreie und standardbezogene Analyse, (Z>5) 1.15. STEM / TE-System rückziehbar, simultane Darstellung im Hell- und/oder Dunkelfeld (BF/DF/HADF) 1.16. Integrierter Plasmacleaner 1.17. 5-achsiger (XYZ, R und Tilt) Probentisch mit motorisierter Probenbühne (X-/Y-Achsen mindestens 110 mm Verfahrweg; Z-Achse mindestens 60 mm Verfahrweg; Rotation, stufenlose 360° Rotation; Kippung (Neigung / Tilt) von mindestens -5° bis +90°) 1.18. Probengewicht von mindestens 1 kg bei einer Kippung / Tilt von 70° 1.19. Probengröße von mindestens 100 mm Durchmesser und mindestens 60mm Höhe verfahr- rotier- und kippbar (mindestens 45°, im analytischen Arbeitsabstand) 1.20. Integriertes optisches Beobachtungssystem zur Beobachtung der Proben in die Kammer (IR-Kamera zur Navigation) 1.21. Minimale Bildbreite (Sichtfeld) bei 10 mm Arbeitsabstand von 2,5 mm 1.22. Bedienpult (Drehknöpfe und Funktionstasten / “control panel“ / Konsole) 1.23. Vollständige Software zum Betrieb des Feldemitter-Rasterelektronenmikroskops 1.24. Vollständiges Softwarepaket zur Bildbearbeitung (Vermessung, Einfärbung, Stitching) und Speicherung der Bilder in den Formaten (.tif, .png, bmp, .jpeg, .gif) und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen. Eigenschaften des integrierten Raman-Systems: 2.1. Hoch-Präzise piezoelektrische laterale und axiale Bildgebung mit 250 x 250 x 250 μm Verfahrweg für beugungsbegrenzte Abbildung der Probenoberfläche 2.2. Köhler-Weißlichtbeleuchtung 2.3. Digitalkamera System für Hochauflösende RGB Bilder 2.4. Signal Stabilisation (für Langzeit Signal- und Fokusstabilisation) 2.5. Focus Stacking (erweiterte Fokustiefe wir Weißlichtaufnahmen) 2.6. Hohe Stabilität des konfokalen Messaufbaus während der kompletten Lebensdauer des Systems durch flexible und gleichzeitig robuste Kopplung der System-Komponenten (Faserkopplung) und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen.

Kurze Beschreibung

1.1. Feldfreies Feldemitter-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit integriertem RAMAN System

1.2. Spannungsversorgung für das Gerät im Deutschen Netz mit folgenden Werten (230 V; 50 Hz; Absicherung 16 A)

1.3. variable Beschleunigungsspannung, 0.1 – 30 keV

1.4. Erreichbare Auflösung < 1 nm (15 kV)

1.5. Probenstrom-Bereich (Beam/Probe- current) von mindestens 5 pA bis 300 nA oder mehr

1.6. Beam Deceleration (BD) Modus

1.7. Betriebsarten Hochvakuumbetrieb und Niedervakuumbetrieb

1.8. Pumpensystem ölfrei

1.9. Vollständige Pumpenperipherie (Umlaufkühler falls nötig, Schläuche, Verteiler / Vorpumpensysteme im Nebenraum unterzubringen ca. 6 m vom Mikroskop entfernt)

1.10. Niedervakuum-SE-Detektor

1.11. Hochvakuum-SE-Detektor (Everhart-Thornley-Detektor)

1.12. In der Linse/Säule integrierte SE und BSE Detektoren in verschiedenen Ebenen

1.13. Gesteuerter, pneumatisch oder elektrisch rückziehbarer BSE-Detektor unter der Linse (Arbeitsbereich auch im Niedervakuumbetrieb)

1.14. EDX-Analyse mit stickstofffreiem Detektor, standardfreie und standardbezogene Analyse, (Z>5)

1.15. STEM / TE-System rückziehbar, simultane Darstellung im Hell- und/oder Dunkelfeld (BF/DF/HADF)

1.16. Integrierter Plasmacleaner

1.17. 5-achsiger (XYZ, R und Tilt) Probentisch mit motorisierter Probenbühne (X-/Y-Achsen mindestens 110 mm Verfahrweg; Z-Achse mindestens 60 mm Verfahrweg; Rotation, stufenlose 360° Rotation; Kippung (Neigung / Tilt) von mindestens -5° bis +90°)

1.18. Probengewicht von mindestens 1 kg bei einer Kippung / Tilt von 70°

1.19. Probengröße von mindestens 100 mm Durchmesser und mindestens 60mm Höhe verfahr- rotier- und kippbar (mindestens 45°, im analytischen Arbeitsabstand)

1.20. Integriertes optisches Beobachtungssystem zur Beobachtung der Proben in die Kammer (IR-Kamera zur Navigation)

1.21. Minimale Bildbreite (Sichtfeld) bei 10 mm Arbeitsabstand von 2,5 mm

1.22. Bedienpult (Drehknöpfe und Funktionstasten / “control panel“ / Konsole)

1.23. Vollständige Software zum Betrieb des Feldemitter-Rasterelektronenmikroskops

1.24. Vollständiges Softwarepaket zur Bildbearbeitung (Vermessung, Einfärbung,

Stitching) und Speicherung der Bilder in den Formaten (.tif, .png, bmp, .jpeg, .gif)

und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen.

Eigenschaften des integrierten Raman-Systems:

2.1. Hoch-Präzise piezoelektrische laterale und axiale Bildgebung mit 250 x 250 x 250 μm Verfahrweg für beugungsbegrenzte Abbildung der Probenoberfläche

2.2. Köhler-Weißlichtbeleuchtung

2.3. Digitalkamera System für Hochauflösende RGB Bilder

2.4. Signal Stabilisation (für Langzeit Signal- und Fokusstabilisation)

2.5. Focus Stacking (erweiterte Fokustiefe wir Weißlichtaufnahmen)

2.6. Hohe Stabilität des konfokalen Messaufbaus während der kompletten Lebensdauer des Systems durch flexible und gleichzeitig robuste Kopplung der System-Komponenten (Faserkopplung)

und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen.

Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Rasterelektronenmikroskope 📦
Ort der Leistung
NUTS-Region: Zwickau 🏙️

Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Niedrigster Preis

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Einrichtung des öffentlichen Rechts
Name des öffentlichen Auftraggebers: Westsächsische Hochschule Zwickau
Postanschrift: Kornmarkt 1
Postleitzahl: 08056
Postort: Zwickau
Kontakt
Internetadresse: http://www.fh-zwickau.de 🌏
E-Mail: beschaffungswesen@fh-zwickau.de 📧
Telefon: +49 375-536-0 📞
URL der Dokumente: https://www.evergabe.de/unterlagen/2450976/zustellweg-auswaehlen 🌏
URL der Teilnahme: https://www.evergabe.de 🌏

Referenz
Daten
Absendedatum: 2021-10-06 📅
Einreichungsfrist: 2021-11-08 📅
Veröffentlichungsdatum: 2021-10-11 📅
Datum des Beginns: 2021-12-01 📅
Datum des Endes: 2022-02-28 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2021/S 197-513063
ABl. S-Ausgabe: 197

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

1.1. Feldfreies Feldemitter-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit integriertem RAMAN System

1.2. Spannungsversorgung für das Gerät im Deutschen Netz mit folgenden Werten (230 V; 50 Hz; Absicherung 16 A)

1.3. variable Beschleunigungsspannung, 0.1 – 30 keV

1.4. Erreichbare Auflösung < 1 nm (15 kV)

1.5. Probenstrom-Bereich (Beam/Probe- current) von mindestens 5 pA bis 300 nA oder mehr

1.6. Beam Deceleration (BD) Modus

1.7. Betriebsarten Hochvakuumbetrieb und Niedervakuumbetrieb

1.8. Pumpensystem ölfrei

1.9. Vollständige Pumpenperipherie (Umlaufkühler falls nötig, Schläuche, Verteiler / Vorpumpensysteme im Nebenraum unterzubringen ca. 6 m vom Mikroskop entfernt)

1.10. Niedervakuum-SE-Detektor

1.11. Hochvakuum-SE-Detektor (Everhart-Thornley-Detektor)

1.12. In der Linse/Säule integrierte SE und BSE Detektoren in verschiedenen Ebenen

1.13. Gesteuerter, pneumatisch oder elektrisch rückziehbarer BSE-Detektor unter der Linse (Arbeitsbereich auch im Niedervakuumbetrieb)

1.14. EDX-Analyse mit stickstofffreiem Detektor, standardfreie und standardbezogene Analyse, (Z>5)

1.15. STEM / TE-System rückziehbar, simultane Darstellung im Hell- und/oder Dunkelfeld (BF/DF/HADF)

1.16. Integrierter Plasmacleaner

1.17. 5-achsiger (XYZ, R und Tilt) Probentisch mit motorisierter Probenbühne (X-/Y-Achsen mindestens 110 mm Verfahrweg; Z-Achse mindestens 60 mm Verfahrweg; Rotation, stufenlose 360° Rotation; Kippung (Neigung / Tilt) von mindestens -5° bis +90°)

1.18. Probengewicht von mindestens 1 kg bei einer Kippung / Tilt von 70°

1.19. Probengröße von mindestens 100 mm Durchmesser und mindestens 60mm Höhe verfahr- rotier- und kippbar (mindestens 45°, im analytischen Arbeitsabstand)

1.20. Integriertes optisches Beobachtungssystem zur Beobachtung der Proben in die Kammer (IR-Kamera zur Navigation)

1.21. Minimale Bildbreite (Sichtfeld) bei 10 mm Arbeitsabstand von 2,5 mm

1.22. Bedienpult (Drehknöpfe und Funktionstasten / “control panel“ / Konsole)

1.23. Vollständige Software zum Betrieb des Feldemitter-Rasterelektronenmikroskops

1.24. Vollständiges Softwarepaket zur Bildbearbeitung (Vermessung, Einfärbung,

Stitching) und Speicherung der Bilder in den Formaten (.tif, .png, bmp, .jpeg, .gif)

und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen.

Eigenschaften des integrierten Raman-Systems:

2.1. Hoch-Präzise piezoelektrische laterale und axiale Bildgebung mit 250 x 250 x 250 μm Verfahrweg für beugungsbegrenzte Abbildung der Probenoberfläche

2.2. Köhler-Weißlichtbeleuchtung

2.3. Digitalkamera System für Hochauflösende RGB Bilder

2.4. Signal Stabilisation (für Langzeit Signal- und Fokusstabilisation)

2.5. Focus Stacking (erweiterte Fokustiefe wir Weißlichtaufnahmen)

2.6. Hohe Stabilität des konfokalen Messaufbaus während der kompletten Lebensdauer des Systems durch flexible und gleichzeitig robuste Kopplung der System-Komponenten (Faserkopplung)

Geschätzter Gesamtwert: 620 168 EUR 💰
Kurze Beschreibung:

Gerätebezeichnung: Hochauflösendes FE-Rasterelektronenmikroskop mit integriertem Raman-System

Eigenschaften des hochauflösendes FE-Rasterelektronenmikroskop:

• feldfreies Feldemitter-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit integriertem Scanning RAMAN System

• Spannungsversorgung für das Gerät im Deutschen Netz mit folgenden Werten (230 V; 50 Hz; Absicherung 16 A)

• variable Beschleunigungsspannung, 0.1 – 30 keV

• Erreichbare Auflösung < 1 nm (15 kV)

• Probenstrom-Bereich (Beam/Probe- current) von mindestens 5 pA bis 300 nA oder mehr

• Beam Deceleration (BD) Modus

• Betriebsarten Hochvakuumbetrieb und Niedervakuumbetrieb

• Pumpensystem ölfrei

• Vollständige Pumpenperipherie (Umlaufkühler falls nötig, Schläuche, Verteiler / Vorpumpensysteme im Nebenraum unterzubringen ca. 6 m vom Mikroskop entfernt)

• Niedervakuum-SE-Detektor

• Hochvakuum-SE-Detektor (Everhart-Thornly-Detektor)

• In der Linse/Säule integrierte SE und BSE Detektoren in verschiedenen Ebenen

• Gesteuerter, pneumatisch oder elektrisch rückziehbarer BSE-Detektor unter der Linse (Arbeitsbereich auch im Niedervakuumbetrieb)

• EDX-Analyse mit stickstofffreiem Detektor, standardfreie und standardbezogene Analyse, (Z>5)

• STEM / TE-System rückziehbar, simultane Darstellung im Hell- und/oder Dunkelfeld (BF/DF/HADF)

• Integrierter Plasmacleaner

• 5-achsiger (XYZ, R und Tilt) Probentisch mit motorisierter Probenbühne (X-/Y-Achsen mindestens 110 mm Verfahrweg; Z-Achse mindestens 60 mm Verfahrweg; Rotation, stufenlose 360° Rotation; Kippung (Neigung / Tilt) von mindestens -5° bis +90°)

• Probengewicht von mindestens 1 kg bei einer Kippung / Tilt von 70°

• Probengröße von mindestens 100 mm Durchmesser und mindestens 60mm Höhe verfahr- rotier- und kippbar (mindestens 45°, im analytischen Arbeitsabstand)

• Integriertes optisches Beobachtungssystem zur Beobachtung der Proben in die Kammer (IR-Kamera zur Navigation)

• Minimale Bildbreite (Sichtfeld) bei 10 mm Arbeitsabstand von 2,5 mm

• Bedienpult (Drehknöpfe und Funktionstasten / “control panel“ / Konsole)

• Vollständige Software zum Betrieb des Feldemitter-Rasterelektronenmikroskops

• Vollständiges Softwarepaket zur Bildbearbeitung (Vermessung, Einfärbung, Stitching) und Speicherung der Bilder in den Formaten (.tif, .png, bmp, .jpeg, .gif)

• Zu verwenden in deutscher UND englischer Sprache

• Einzelbildauflösung (ohne Stitching) von mindestens 6144x4096 Pixel oder größer

• Möglichkeit zur Aufnahme von Videosequenzen

• Aktive Schwingungsdämpfung

• Mindestens 4 zusätzliche freie Kammer-Ports für Erweiterungen von externen Geräten, in-situ Analytik

• Windows ® 10, 64-bit basiertes Computersystem, mindestens zwei 32“ Monitore (da für den Lehrbetrieb im Bereich von Gruppenvorführungen notwendig) und Eingabesystem (deutsche Tastatur und Maus)

• Arbeitsplatz mit Schreibtisch und Monitorhalterungen / Standfüße

• Raumbegutachtung mit Messprotokoll (Schwingung, elektromagnetische Felder usw.) vor der Auslieferung / Installation (Adresse, Raumbezeichnung)

• Lieferung des gesamten Gerätes bis spätestens 31.03.2022 (5 Monate nach Zuschlag)

• Anlieferung (Versand & Zoll-Gebühren) in den Aufstellungsraum; (Adresse, Raumbezeichnung) inklusive

• Vollständige Installation aller Komponenten

• Abnahme (Dokumentation der vollen Funktion aller Komponenten, Überprüfung und Darstellung der Leistungsmerkmale (maximal angegebene Auflösung aller möglichen Detektoren, Mindestanforderung an Probengröße, Probengewicht und Verfahrwege) im Übergabeprotokoll.) des gesamten Gerätes spätestens bis zum 30.04.2022 (spätestens 6 Monate nach Zuschlag)

• Einweisung und Schulung auf Deutsch vor Ort am Gerät nach Abnahme (4 Tage; innerhalb eines halben Jahres durchzuführen)

• Sprache der Software-Benutzeroberfläche Deutsch und Englisch

• 24 Monate Gewährleistung (oder länger) ab Abnahmedatum

• Möglichkeit zur telefonischen Unterstützung, sowie der Möglichkeit einer Fernwartung / Fehlerdiagnose (z.B. Teamviewer, oder ähnliche)

• Gerätesupport von mindestens 12 Jahren

• Hoch-Präzise piezoelektrische laterale und axiale Bildgebung mit 250 x 250 x 250 µm Verfahrweg für beugungsbegrenzte Abbildung der Probenoberfläche

• Köhler-Weißlichtbeleuchtung

• Digitalkamera System für Hochauflösende RGB Bilder

• Signal Stabilisation (für Langzeit Signal- und Fokusstabilisation)

• Focus Stacking (erweiterte Fokustiefe wir Weißlichtaufnahmen)

• Hohe Stabilität des konfokalen Messaufbaus während der kompletten Lebensdauer des Systems durch flexible und gleichzeitig robuste Kopplung der System-Komponenten (Faserkopplung)

• Garantiert beugungsbegrenzte Punktlichtquelle für optimale Ortsauflösung auf der Probe bei gleichzeitig sehr hohem Lichtdurchsatz durch moderne Faserkopplung der optischen Peripherie mit dem Mikroskop

• Fokusgröße (laterale Auflösung) < 400nm FWHM bei 532nm Anregungswellenlänge und 100x/0.70NA Vakuumobjektiv

• Axiale Fokusgröße (Tiefenauflösung) < 1300nm FWHM bei 532nm Anregungswellenlänge und 100x/0.70NA Vakuumobjektiv

• Minimaler zusätzlicher Platzbedarf des RISE-Systems (ca. 1x1 m²) durch effiziente und flexible Kopplung des Mikroskops mit der optischen Peripherie (optische Glasfasern)

• Vollständige Integration in das HR-REM ohne dessen Funktionen zu beeinträchtigen

• Direkte Hardware-Positionsübergabe von REM an Raman Position

• 532 nm Laser mit mindestens 30 mW Ausgangsleistung und geeigneten Raman-Filtern für Messungen ab 90 rel. cm-1

• Erweiterbarkeit der Plattform weitere unabhängige Anregungswellenlängen (>4) durch modularen Strahlengang. (Multiwellenlängen-Koppler Konzept)

• Umschaltung der Laserlinien ohne Eingriff in den Strahlengang für z.B. Filterwechsel oder Gitteranpassung im Spektrometer

• Softwaregesteuerte und stufenlose sowie vom Laser selbst unabhängige Leistungseinstellung und -messung ohne Eingriff in die Lasersteuerung mit einer Genauigkeit von 0.1 mW für höchste Reproduzierbarkeit

• Leistungsmessung und -einstellung ohne Exposition der Probe möglich

• Linsenbasiertes spektral optimiertes Spektrometer für den jeweiligen Messbereich

• 300mm fokale Länge des Spektrometers für spektrale Hochauflösung

• Spektrale Auflösung (avg.) mit 532nm mit Gitter…

… 600 l/mm (BLA@500nm) = 3,7 cm-1

… 1800 l/mm (BLA@500nm) = 1,2 cm-1

• Abberationsarmes chromatisches Design zur Minimierung von Signalform-Verzerrungen und somit erleichtertem Peakfitting

• Softwarekontrollierter Gitterwechsel mit bis zu drei gleichzeitig montierten Gittern ohne manuelle Eingriffe der Benutzer

• Mindestens zwei Gitter vorhanden für jeweils Übersichtsspektren im gesamten Spektralbereich und Hochauflösung mit ca. 1 rel. cm-1/Pixel Auflösung

• Hocheffiziente thermoelektrisch gekühlte Back-Illuminated CCD Detektoren

• Hocheffizienter thermoelektrisch gekühlter BI (Back Illuminated) CCD Detektor

• 1024x127 Pixel mit 26 µm Pixelgröße

• Peak-Quanteneffizienz von mehr als 90% bei 550 nm

• Mit Scanner-Bewegung synchronisierte kontinuierliche Datenaufnahme der CCD mit mehr als 80 Spektren/s

• Parallelisierte Datenverarbeitung in Echtzeit durch FPGA basierte modulare Controller Architektur für Aufrüstbarkeit

• Schnelle Datenverbindung vom Controller zum PC

• Modulares Systemkonzept

• Modular wachsender Strahlengang ohne gemeinsame optische Bank garantiert zukünftige Erweiterbarkeit um weitere Spektrometer, Laser oder vergleichbares

zu verbinden

Geschätzter Wert ohne MwSt: 620 168 EUR 💰
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Zwickau, DE

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit:

- Eintrag in Berufs- und Handelsregister des Staates, in dem sie niedergelassen sind (soweit vorhanden)

- Angaben über den Umsatz des Bieter, in dem Tätigkeitsbereich des Auftrags, in den letzten 3 Geschäftsjahren

Mindeststandards: entfällt
Technische und berufliche Fähigkeiten:

- Eintrag im Berufs- und Handelsregister, in dem sie niedergelassen sind (soweit vorhanden)

- Erklärung, aus der die durschnittliche jährliche Beschäftigungszahl des Unternehmens und die Zahl seiner Führungskräfte in den letzten 3 Jahren ersichtlich sind

- geeignete Referenzen über fürher ausgeführte Liefer- und Dienstleistungsaufträge in Form einer Liste, der in den letzten höchstens 3 Jahren erbrachten wesentlichen Liefer- und Dienstleistungen, mit Angabe des Wertes, des Liefer- bzw. Erbringungszeitpunktes, sowie des öffentlichen oder privaten Empfängers

Auftragsausführung
Bedingungen für die Vertragserfüllung: Gemäß besonderen Vertragsbedingungen der Ausschreibung

Verfahren
Rechtsgrundlage: 32014L0024
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 09:00
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2021-12-08 📅
Datum der Angebotseröffnung: 2021-11-09 📅
Zeitpunkt der Angebotseröffnung: 10:00

Öffentlicher Auftraggeber
Kontakt
Internetadresse: www.fh-zwickau.de 🌏
Dokumente URL: https://www.evergabe.de/unterlagen/2450976/zustellweg-auswaehlen 🌏

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Freistaates Sachsen bei der Landesdirektion Sachsen
Postanschrift: Postfach 101364
Postort: Leipzig
Postleitzahl: 04013
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: post@lds.sachsen.de 📧
Quelle: OJS 2021/S 197-513063 (2021-10-06)

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2021-12-09)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

1.1. Feldfreies Feldemitter-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit integriertem RAMAN System 1.2. Spannungsversorgung für das Gerät im Deutschen Netz mit folgenden Werten (230 V; 50 Hz; Absicherung 16 A) 1.3. variable Beschleunigungsspannung, 0.1 – 30 keV 1.4. Erreichbare Auflösung < 1 nm (15 kV) 1.5. Probenstrom-Bereich (Beam/Probe- current) von mindestens 5 pA bis 300 nA oder mehr 1.6. Beam Deceleration (BD) Modus 1.7. Betriebsarten Hochvakuumbetrieb und Niedervakuumbetrieb 1.8. Pumpensystem ölfrei 1.9. Vollständige Pumpenperipherie (Umlaufkühler falls nötig, Schläuche, Verteiler / Vorpumpensysteme im Nebenraum unterzubringen ca. 6 m vom Mikroskop entfernt) 1.10. Niedervakuum-SE-Detektor 1.11. Hochvakuum-SE-Detektor (Everhart-Thornley-Detektor) 1.12. In der Linse/Säule integrierte SE und BSE Detektoren in verschiedenen Ebenen 1.13. Gesteuerter, pneumatisch oder elektrisch rückziehbarer BSE-Detektor unter der Linse (Arbeitsbereich auch im Niedervakuumbetrieb) 1.14. EDX-Analyse mit stickstofffreiem Detektor, standardfreie und standardbezogene Analyse, (Z>5) 1.15. STEM / TE-System rückziehbar, simultane Darstellung im Hell- und/oder Dunkelfeld (BF/DF/HADF) 1.16. Integrierter Plasmacleaner 1.17. 5-achsiger (XYZ, R und Tilt) Probentisch mit motorisierter Probenbühne (X-/Y-Achsen mindestens 110 mm Verfahrweg; Z-Achse mindestens 60 mm Verfahrweg; Rotation, stufenlose 360° Rotation; Kippung (Neigung / Tilt) von mindestens -5° bis +90°) 1.18. Probengewicht von mindestens 1 kg bei einer Kippung / Tilt von 70° 1.19. Probengröße von mindestens 100 mm Durchmesser und mindestens 60mm Höhe verfahr- rotier- und kippbar (mindestens 45°, im analytischen Arbeitsabstand) 1.20. Integriertes optisches Beobachtungssystem zur Beobachtung der Proben in die Kammer (IR-Kamera zur Navigation) 1.21. Minimale Bildbreite (Sichtfeld) bei 10 mm Arbeitsabstand von 2,5 mm 1.22. Bedienpult (Drehknöpfe und Funktionstasten / “control panel“ / Konsole) 1.23. Vollständige Software zum Betrieb des Feldemitter-Rasterelektronenmikroskops 1.24. Vollständiges Softwarepaket zur Bildbearbeitung (Vermessung, Einfärbung, Stitching) und Speicherung der Bilder in den Formaten (.tif, .png, bmp, .jpeg, .gif) und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen. Eigenschaften des integrierten Raman-Systems: 2.1. Hoch-Präzise piezoelektrische laterale und axiale Bildgebung mit 250 x 250 x 250 μm Verfahrweg für beugungsbegrenzte Abbildung der Probenoberfläche 2.2. Köhler-Weißlichtbeleuchtung 2.3. Digitalkamera System für Hochauflösende RGB Bilder 2.4. Signal Stabilisation (für Langzeit Signal- und Fokusstabilisation) 2.5. Focus Stacking (erweiterte Fokustiefe wir Weißlichtaufnahmen) 2.6. Hohe Stabilität des konfokalen Messaufbaus während der kompletten Lebensdauer des Systems durch flexible und gleichzeitig robuste Kopplung der System-Komponenten (Faserkopplung) und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlage

Kurze Beschreibung

1.1. Feldfreies Feldemitter-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit integriertem RAMAN System

1.2. Spannungsversorgung für das Gerät im Deutschen Netz mit folgenden Werten (230 V; 50 Hz; Absicherung 16 A)

1.3. variable Beschleunigungsspannung, 0.1 – 30 keV

1.4. Erreichbare Auflösung < 1 nm (15 kV)

1.5. Probenstrom-Bereich (Beam/Probe- current) von mindestens 5 pA bis 300 nA oder mehr

1.6. Beam Deceleration (BD) Modus

1.7. Betriebsarten Hochvakuumbetrieb und Niedervakuumbetrieb

1.8. Pumpensystem ölfrei

1.9. Vollständige Pumpenperipherie (Umlaufkühler falls nötig, Schläuche, Verteiler / Vorpumpensysteme im Nebenraum unterzubringen ca. 6 m vom Mikroskop entfernt)

1.10. Niedervakuum-SE-Detektor

1.11. Hochvakuum-SE-Detektor (Everhart-Thornley-Detektor)

1.12. In der Linse/Säule integrierte SE und BSE Detektoren in verschiedenen Ebenen

1.13. Gesteuerter, pneumatisch oder elektrisch rückziehbarer BSE-Detektor unter der Linse (Arbeitsbereich auch im Niedervakuumbetrieb)

1.14. EDX-Analyse mit stickstofffreiem Detektor, standardfreie und standardbezogene Analyse, (Z>5)

1.15. STEM / TE-System rückziehbar, simultane Darstellung im Hell- und/oder Dunkelfeld (BF/DF/HADF)

1.16. Integrierter Plasmacleaner

1.17. 5-achsiger (XYZ, R und Tilt) Probentisch mit motorisierter Probenbühne (X-/Y-Achsen mindestens 110 mm Verfahrweg; Z-Achse mindestens 60 mm Verfahrweg; Rotation, stufenlose 360° Rotation; Kippung (Neigung / Tilt) von mindestens -5° bis +90°)

1.18. Probengewicht von mindestens 1 kg bei einer Kippung / Tilt von 70°

1.19. Probengröße von mindestens 100 mm Durchmesser und mindestens 60mm Höhe verfahr- rotier- und kippbar (mindestens 45°, im analytischen Arbeitsabstand)

1.20. Integriertes optisches Beobachtungssystem zur Beobachtung der Proben in die Kammer (IR-Kamera zur Navigation)

1.21. Minimale Bildbreite (Sichtfeld) bei 10 mm Arbeitsabstand von 2,5 mm

1.22. Bedienpult (Drehknöpfe und Funktionstasten / “control panel“ / Konsole)

1.23. Vollständige Software zum Betrieb des Feldemitter-Rasterelektronenmikroskops

1.24. Vollständiges Softwarepaket zur Bildbearbeitung (Vermessung, Einfärbung,

Stitching) und Speicherung der Bilder in den Formaten (.tif, .png, bmp, .jpeg, .gif)

und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen.

Eigenschaften des integrierten Raman-Systems:

2.1. Hoch-Präzise piezoelektrische laterale und axiale Bildgebung mit 250 x 250 x 250 μm Verfahrweg für beugungsbegrenzte Abbildung der Probenoberfläche

2.2. Köhler-Weißlichtbeleuchtung

2.3. Digitalkamera System für Hochauflösende RGB Bilder

2.4. Signal Stabilisation (für Langzeit Signal- und Fokusstabilisation)

2.5. Focus Stacking (erweiterte Fokustiefe wir Weißlichtaufnahmen)

2.6. Hohe Stabilität des konfokalen Messaufbaus während der kompletten Lebensdauer des Systems durch flexible und gleichzeitig robuste Kopplung der System-Komponenten (Faserkopplung)

und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlage

Gesamtwert des Auftrags: 619 500 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt

Referenz
Daten
Absendedatum: 2021-12-09 📅
Veröffentlichungsdatum: 2021-12-14 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2021/S 242-637529
Verweist auf Bekanntmachung: 2021/S 197-513063
ABl. S-Ausgabe: 242

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlage

1. 5-Achs-Werkzeugmaschine für die Ultraschall-Bearbeitung von bspw. Advanced Materials und HSC-Fräsen auf einer Maschine

1.1 5 Achsen interpolierend

1.2 Verfahrwege in X-, Y-, Z-Richtung max. 250 x 250 x 300 mm

1.3 Linearantriebe in X, Y, Z-Achse

1.4 Schwenkachse (A-Achse) min. -10° bis min.120°, min 40 min-1

1.5 Rotationsachse (C-Achse) 0 - 360° endlos, min. 100 min-1

1.6 Werkzeugmagazin mit min. 20 Plätzen und max. 25 Plätzen

1.7 Erforderlicher Spindeldrehzahlbereich (Bearbeitungsspindel) 20 – 42.000 min-1

1.8 Werkzeugaufnahme (Bearbeitungsspindel) HSK-E 32

1.9 Ultraschall-Übertragung: via Induktion

1.10 3 Stk. Ultraschall-Aktoren zur Aufnahme ER-11 inkl. Zubehör mit HSK-E 32

1.11 3 Stk. Ultraschall-Aktoren zur Aufnahme 14 H6 inkl. Zubehör mit HSK-E 32

1.12 Kühlmittelspülpistole zur Spänespülung im Arbeitsraum bei geöffneter Kabinentür

1.13 Innenkühlmittelzufuhr (IKZ) mind. bis 40 bar inklusive Kühlmittelaufbereitungsanlage mit 200l Edelstahltank und Feinstfilter mit 5 µm

1.14 Außenkühlmittelzufuhr mit umschaltbarer Blasluft-Kühlung

1.15 3-D Bahnsteuerung inkl. Prozessüberwachung und US- Nachregelung (Automatische Erkennung der Resonanzfrequenz während der Bearbeitung; Automatische Nachführung von Ultraschallfrequenz und Amplitude im Bearbeitungsprozess; Visualisierung der ULTRASONIC Parameter)

1.17 Öl- und Emulsionsnebelabscheider

1.18 Schnellspannsystem (z.B. EROWA IST 100 oder vergleichbar)

1.19 Steuerung SIEMENS 840D sl mit Sinumerik Operate und Multi-Touch-Bildschirm (größer 20“) und inklusive unterschiedlichen vorinstallierten Applikationen, wie z.B. Amplitudenüberwachung

1.20 Messtaster Infrarot inklusive Maschinen-Achsen-Messeinrichtung (zur Überprüfung und Korrektur der Genauigkeit der Maschinenkinematik)

1.21 Laserwerkzeugvermessung

1.22 Amplitudenmessung zur Bestimmung der Schwingungsamplitude (in Maschine und Steuerung integriert)

1.23 Elektronisches Handrad für Einrichtebetrieb bei geöffneter Kabinentür

1.24 Anpassung der ULTRASONIC Parameter im CNC-Programm

1.25 Automatische Vorschubanpassung im Bearbeitungsprozess

1.26 Kinematisches 3D CAD-Modell im STEP-Format

1.27 Maschinendokumentation einfach in Deutsch u. Englisch

1.28 Gewährleistung von mindestens 18 Monaten zur Maschine

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2021-12-08 📅
Name: TESCAN GmbH
Postanschrift: Zum Lonnenhohl 46
Postort: Dortmund
Postleitzahl: 44319
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: office-tge@tescan.com 📧
Land: Dortmund, Kreisfreie Stadt 🏙️
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1
Quelle: OJS 2021/S 242-637529 (2021-12-09)

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