Beschreibung der Beschaffung
Waferprober mit Handlingsroboter
Das CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH benötigt einen Waferprober mit Handlingroboter zur Charakterisierung der Sensoren und Teststrukturen auf den Si-Wafern und Waferverbünden.
Der Waferprober soll zu den vorhanden Messprogrammen und -routinen kompatibel sein.
Vorhandene Medien sind:
- Stromanschluss 2-polig mit zusätzlicher Erdung 32 A
- Vakuum
- Reinstluft für Pneumatik (> 6 Bar)
- Ethernetanschluss
- Aufstellfläche + Wartungsbereich 2500 mm x 2000 mm
- Max. Anlagenhöhe: 2800 mm
Der Raumplan, mit vorhandenen Medien und Transportwegen, kann auf Anfrage zugestellt werden.
Anlagenbeschreibung:
Technische Daten:
Anforderungen an das Basissystem:
Waferprober für Wafer bis 8 Zoll soll folgende Eigenschaften bieten:
- XY-Auflösung +/- 1 µm / Genauigkeit und Reproduzierbarkeit +/-2µm / Geschwindigkeit >30 mm/sec
- Z-Auflösung 1 µm / Genauigkeit und Reproduzierbarkeit < 2 µm / Verfahrweg > 5 mm
- Theta -Auflösung < 1 µm / Genauigkeit und Reproduzierbarkeit < +/- 3 µm / Verdrehwinkel > 5°
- Bedienkonsole für Handsteuerung
- Die Messkammer soll EMV geschirmt sein sowie eine Kabeldurchführung zur Messelektronik bieten
-Die Messkammer soll komplett lichtdicht sein
-Temperaturbereich: +20 °C bis + 150 °C
-Luftkühlung
-Aufheizzeit (+ 20°C bis + 150 °C) < 30 min
-Abkühlzeit (+ 150°C bis + 20 °C) < 35 min
-Temperaturhomogenität: < 0,5 K
-Temperaturgenauigkeit: < 0,2 K
-Isolationswiderstand (Ileak < 10 fA @ + 25 °C) > 1 TOhm
-Durchbruchspannung > 500 V
-Temperaturcontroller mit Hand und fernbedienbar, fernbedienbarerer Standby des Controllers
-Probecardaufnahme für 4,5" x 7"
-Mikroskop mit 5x Vergrößerung, Verfahrbereich von 30 x 30mm x 130mm (Lift), Beleuchtung und zweitem Monitor, Autofokus, Beamsplitter mit C-Mount für zusätzliche Kamera
-Vibrationsfreier Tisch zur Aufnahme aller Geräte außer dem Heiz-/Kühlsystem
-Vorbereitet für Betrieb eines/zwei Kantensensoren
Das Wafer-Handling soll folgenden Anforderungen erfüllen:
-Der Handler soll automatisches Alignment mit einem Pre-aligner bieten
-Die Wafer ID nahe dem Flat soll über einen OCR/Barcode Reader auslesbar sein
-Es sollen mindestens 25 Stück 6-Zoll-Wafer bis 0,675 mm Dicke im Batch gehandelt werden können
-Das Waferhandling soll ausschließlich im 3.5 mm breiten Randbereich (doppelseitig polierte Wafer) erfolgen
-Kassettenstation, 25 Wafer pro Kassette bis 0,675 mm Dicke, e-Pak kompatibel oder 12 Wafer-Kassette für Waferverbünde 6" mit einer Dicke von 3,5 mm
Anforderungen an die Software:
- Graphische Benutzeroberfläche in deutscher/englischer Sprache
- Prober und Temperierung komplett vom PC aus steuerbar inkl. Einstellung aller Schrittweiten, Höhen und Steuerparameter) mit Agilent/HP-VEE, C#, Python, C/C++, Matlab über Ethernet/GPIB
- Programmierschnittstelle kompatibel zu Cascade Velox, kompatible Velux-Version zu PA 200 mit der Seriennummer: 1747346
- Mikroskop komplett vom PC aus steuerbar
- Waferload steuerbar
- Mikroskoplicht schaltbar
- Chuckvakuum schaltbar
- Chucktemperatur (Temperaturcontroller) vom PC aus einstellbar (Soll) und vom PC auslesbar (Ist) sowie sich in Standby schalten lassen
- Software- und Sicherheitsupdates mind. 5 Jahre
- Update auf Windows 11 innerhalb der nächsten 2 Jahre verfügbar
Inkl. Zubehör:
- Spezialchuckadapter 8" auf 6" zur Messung von 6"-Differenzdruck-Sensorwafern (Vakuumansaugung nur am Waferrand - Mitte ist hinterlüftet über Schlauchanschluss)
- Spezialchuck zur Messung von beidseitigstrukturierten 6"-Fotodetektor-Wafern mit Randauflage (6mm breit) und Randansaugung
- zweite Kassette für Standardwafer 6" - 0,675 mm Dicke
- 2 Spezialkassetten für Waferverbünde 6" mit einer Dicke von 3,5 mm
- PC-Hardware in notwendiger Konfiguration inklusive Betriebssystem Windows 10 Professional
- Fernwartung durch Remote Access
- 8 manuelle Positionierer (je 4x links, je 4x rechts positionierbar) mit 12,5 mm XYZ Verfahrbereich mit 1 µm Auflösung einschliesslich high reformance DC Mess-Spitze mit Arm für Triaxanschluss sowie Messspitzen
- Spezialchuckadapter zur Messung von 6" Differenzdruck-Sensorenwafern für Prober mit der Seriennummer: 45287
- Spezialchuckadapter zur Messung von 6" Differenzdruck-Sensorenwafern für Prober mit der Seriennummer: 45223
Weiteres:
- Garantie von 24 Monaten
- Angabe eines Servicekonzepts
- Angabe von Wartungsintervallen, Wartungskosten, Betriebskosten pro Jahr
- Anlage mit Sicherheitssystem (Interlock), um Hauptgefahren für Leib und Leben abzuwenden, welche unabhängig von der Steuersoftware arbeitet (EN13849-1:2006)
- Anlage beinhaltet Emergency Stop in der Software und mechanische Taster an der Anlage
- Angabe von 2 Referenzen über vergleichbare Anlagen
Dokumente:
- Bedienungsanleitung für alle Komponenten in deutscher/englischer Sprache
- Aufstell- und Anschlussbedingungen bzw. -parameter
Liefer- und Anschlussbedingungen:
- Verpackung inklusive
- Versand inklusive
- Transportversicherung inklusive
- Aufstellung inklusive, Einbringung 1. OG
- Installation inklusive
- Inbetriebnahme inklusive
- Nachweis der Funktionsfähigkeit aller Komponenten
- Einweisung und Schulung/ Training (2 Tage) der Nutzer (bis zu 4 Personen) inkl. Fernsteuerung des Probers