Anbieter: AutomatisierungsTechnik Voigt GmbH
14 archivierte Beschaffungen
AutomatisierungsTechnik Voigt GmbH war in der Vergangenheit ein Lieferant von laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser), industrielle Maschinen und maschinen für allgemeine und besondere Zwecke.
In der Vergangenheit waren die konkurrierenden Bieter Cascade Microtech GmbH, Keysight Technologies Deutschland GmbH, Anritsu GmbH, AutomatisierungsTechnik Voigt, Keyence International NV/SA, Kirchhoff Datensysteme Services GmbH & Co. KG, Oxford Instruments GmbH, Thorlabs GmbH und unwirtschaftliches Angebot.
Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter AutomatisierungsTechnik Voigt GmbH erwähnt wird
2025-02-03
Probing-Systeme (Universität Siegen)
2 manuelle, modular erweiterbare Probing-Systeme zur Charakterisierung von elektrischen Halbleiterbauteilen Ansicht der Beschaffung »
2 manuelle, modular erweiterbare Probing-Systeme zur Charakterisierung von elektrischen Halbleiterbauteilen Ansicht der Beschaffung »
2022-12-21
OPENSENS (CiS Forschungsinstiut für Mikrosensorik GmbH)
Im Rahmen des Projektes "Optimierte Entwicklungsumgebung für ein resourcenschonendes Mikrosensorik-Prototyping" möchte das CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH in einen vollautomatisierten Waferprober investieren, der eine permanente Parametererfassung für das Mikrosensorik-Prototyping auf 6"-Waferebene ermöglicht. Verbunden mit einer leistungsfähigen schnellen Parameteroptimierung werden ressourcenschonende Entwicklungsprozesse möglich und flexible Entwicklungsergebnisse in kurzer Zeit … Ansicht der Beschaffung »
Im Rahmen des Projektes "Optimierte Entwicklungsumgebung für ein resourcenschonendes Mikrosensorik-Prototyping" möchte das CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH in einen vollautomatisierten Waferprober investieren, der eine permanente Parametererfassung für das Mikrosensorik-Prototyping auf 6"-Waferebene ermöglicht. Verbunden mit einer leistungsfähigen schnellen Parameteroptimierung werden ressourcenschonende Entwicklungsprozesse möglich und flexible Entwicklungsergebnisse in kurzer Zeit … Ansicht der Beschaffung »
2022-09-27
Waferprober - PR45738-2480-W (Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12)
Waferprober Ansicht der Beschaffung »
Waferprober Ansicht der Beschaffung »
2022-09-16
Waferprober (Universität Leipzig)
Halbautomatisches Hochfrequenz Waferprober System mit Vektornetzwerkanalysator Ansicht der Beschaffung »
Halbautomatisches Hochfrequenz Waferprober System mit Vektornetzwerkanalysator Ansicht der Beschaffung »
2022-09-06
Automated 200mm wafer probe - Kopie (IHP GmbH - Leibniz-Institut für Innovative Mikroelektronik)
Lot1: Wafer-Antastsystem Es soll ein Waferprober für 200 mmm Wafer mit Waferlademodul und 2 motorisierten und programmierbaren Messsondenhalterungen beschafft werden. Die automatsche Ausrichtung des Wafers und das Positionieren der motorisierten Messsonden auf angelernten Pads und auf dem Impedanz-Standard-Substrat muss unterstützt werden. Die mechanisch passenden HF-Messsonden und kompatible Impedanz-Standard-Substrate sollen ebenfalls geliefert werden. Lot2: Netzwerkanalysator Es soll ein 50 GHz … Ansicht der Beschaffung »
Lot1: Wafer-Antastsystem Es soll ein Waferprober für 200 mmm Wafer mit Waferlademodul und 2 motorisierten und programmierbaren Messsondenhalterungen beschafft werden. Die automatsche Ausrichtung des Wafers und das Positionieren der motorisierten Messsonden auf angelernten Pads und auf dem Impedanz-Standard-Substrat muss unterstützt werden. Die mechanisch passenden HF-Messsonden und kompatible Impedanz-Standard-Substrate sollen ebenfalls geliefert werden. Lot2: Netzwerkanalysator Es soll ein 50 GHz … Ansicht der Beschaffung »
2022-03-18
Zwei On-Wafer Messplätze (Universität Ulm)
Es sollen zwei On-Wafer-Messplätze eingerichtet werden Ansicht der Beschaffung »
Es sollen zwei On-Wafer-Messplätze eingerichtet werden Ansicht der Beschaffung »
2022-02-09
115 - Semi-Automatisches Testsystem (RWTH Aachen University)
Semi-Automatisches Testsystem Ansicht der Beschaffung »
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2021-11-15
vollautomatische Waferprober - E_827_205256 (Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf und Gerätewirtschaft C2)
vollautomatische Waferprober Ansicht der Beschaffung »
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2020-12-10
Manuelle Probestation für Elektromigrationsmessung (Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf und Gerätewirtschaft C2)
Manuelle Probestation für Elektromigrationsmessung. Ansicht der Beschaffung »
Manuelle Probestation für Elektromigrationsmessung. Ansicht der Beschaffung »
2020-11-13
Halbautomatischer Wafer-Messplatz (Technische Universität Dortmund)
Kauf eines halbautomatischen Wafer-Messplatzes. Ansicht der Beschaffung »
Kauf eines halbautomatischen Wafer-Messplatzes. Ansicht der Beschaffung »
2020-10-15
Broadband Tunable THz Optoelektronischer Tester (Bergische Universität Wuppertal)
Am Lehrstuhl für Hochfrequenz- und Kommunikationstechnik (IHCT) der Bergischen Universität Wuppertal soll ein Messgerät (breitbandiger THz-Optoelektronischer-Tester) zur Erprobung von neuen Bauelementen (THz Sender, THz Empfänger und THz Transceiver, im folgenden DUT genannt) angeschafft werden. Das Messgerät soll die Messung der DUTs im THz Freiraum sowie auf einem Chip ermöglichen. Ansicht der Beschaffung »
Am Lehrstuhl für Hochfrequenz- und Kommunikationstechnik (IHCT) der Bergischen Universität Wuppertal soll ein Messgerät (breitbandiger THz-Optoelektronischer-Tester) zur Erprobung von neuen Bauelementen (THz Sender, THz Empfänger und THz Transceiver, im folgenden DUT genannt) angeschafft werden. Das Messgerät soll die Messung der DUTs im THz Freiraum sowie auf einem Chip ermöglichen. Ansicht der Beschaffung »
2018-12-18
Beschaffung eines Vektor-Netzwerkanalysators und eines Wafer-Probers (Technische Universität Berlin, Der Präsident, Abt. IV – Gebäude- und Dienstemanagement)
Lieferung und Installation der Komponenten eines sog. S-Parametermessplatzes, bestehend aus einem Vektor-Netzwerkanalysator mit der Möglichkeit breitbandiger Messungen bis 110 GHz und einem Wafer-Prober zur Messung von Millimeterwellenanwendungen auf Chip- und Waferebene, sowie die Einweisung in den Betrieb des Messplatzes. Ansicht der Beschaffung »
Lieferung und Installation der Komponenten eines sog. S-Parametermessplatzes, bestehend aus einem Vektor-Netzwerkanalysator mit der Möglichkeit breitbandiger Messungen bis 110 GHz und einem Wafer-Prober zur Messung von Millimeterwellenanwendungen auf Chip- und Waferebene, sowie die Einweisung in den Betrieb des Messplatzes. Ansicht der Beschaffung »
2017-01-06
Intelligente Entwicklungsumgebung für flexibles und schnelles Mikrosensorik-Prototyping IEMP (CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH)
Intelligente Entwicklungsumgebung für flexibles und schnelles Mikrosensorik-Prototyping IEMP. Ansicht der Beschaffung »
Intelligente Entwicklungsumgebung für flexibles und schnelles Mikrosensorik-Prototyping IEMP. Ansicht der Beschaffung »
2013-02-27
Halbleiterkomplexmessplatz HLKMP (CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik und Photovoltaik GmbH)
Halbleiterkomplexmessplatz HLKMP zur Einführung neuester Technologien in Thüringen im Rahmen nichtwirtschaftlicher Tätigkeit. Ansicht der Beschaffung »
Halbleiterkomplexmessplatz HLKMP zur Einführung neuester Technologien in Thüringen im Rahmen nichtwirtschaftlicher Tätigkeit. Ansicht der Beschaffung »