Rasterelektronenmikroskop

Freistaat Bayern, vertreten durch Ostbayerische Technische Hochschule Regensburg

Zweistrahlgerät Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB / SEM) bzw. hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) - Gebrauchtgerät

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2022-05-23. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2022-04-21.

Wer? Wie? Wo?
Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2022-04-21 Auftragsbekanntmachung
Auftragsbekanntmachung (2022-04-21)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Rasterelektronenmikroskope
Referenznummer: EK-ANK-04-2022-20
Kurze Beschreibung:
Zweistrahlgerät Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB / SEM) bzw. hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) - Gebrauchtgerät
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Rasterelektronenmikroskope 📦
Zusätzlicher CPV-Code: Rasterelektronenmikroskope 📦
Ort der Leistung
NUTS-Region: Regensburg, Kreisfreie Stadt 🏙️

Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: Freistaat Bayern, vertreten durch Ostbayerische Technische Hochschule Regensburg
Postanschrift: Prüfeninger Straße 58
Postleitzahl: 93049
Postort: Regensburg
Kontakt
Internetadresse: http://www.oth-regensburg.de 🌏
E-Mail: haushalt@oth-regensburg.de 📧
Telefon: +49 9419439430 📞
URL der Dokumente: https://www.evergabe.bayern.de/evergabe.bieter/DownloadTenderFiles.ashx?subProjectId=vEd5iYoGo%252fM%253d 🌏
URL der Teilnahme: https://www.auftraege.bayern.de/ 🌏

Referenz
Daten
Absendedatum: 2022-04-21 📅
Einreichungsfrist: 2022-05-23 📅
Veröffentlichungsdatum: 2022-04-26 📅
Datum des Beginns: 2022-06-13 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2022/S 081-217427
ABl. S-Ausgabe: 81

Objekt
Umfang der Beschaffung
Geschätzter Gesamtwert: 330 000 EUR 💰
Bezeichnung des Loses: Zweistrahlgerät Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB/SEM) - Gebrauchtgerät
Losnummer: 1
Kurze Beschreibung:
Zweistrahlgerät Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB/SEM) - Gebrauchtgerät
Geschätzter Wert ohne MwSt: 180 000 EUR 💰
Bezeichnung des Loses: Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) - Gebrauchtgerät
Losnummer: 2
Kurze Beschreibung: Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) - Gebrauchtgerät
Geschätzter Wert ohne MwSt: 150 000 EUR 💰
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Regensburg

Verfahren
Rechtsgrundlage: 32014L0024
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 10:00
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2022-07-01 📅
Datum der Angebotseröffnung: 2022-05-23 📅
Zeitpunkt der Angebotseröffnung: 10:00
Ort des Eröffnungstermins: Regensburg
Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Qualität und Eignung
Qualitätskriterium (Gewichtung): 80
Preis (Gewichtung): 20

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Andere Art des öffentlichen Auftraggebers: Hochschule
Kontakt
Kontaktperson: Meinlschmidt, Tobias
Internetadresse: www.oth-regensburg.de 🌏
Adresse des Käuferprofils: https://www.auftraege.bayern.de 🌏
Dokumente URL: https://www.evergabe.bayern.de/evergabe.bieter/DownloadTenderFiles.ashx?subProjectId=vEd5iYoGo%252fM%253d 🌏

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Regierung von Mittelfranken - Vergabekammer Nordbayern
Postanschrift: Promenade 27
Postort: Ansbach
Postleitzahl: 91522
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 981531277 📞
E-Mail: vergabekammer.nordbayern@reg-mfr.bayern.de 📧
Fax: +49 981531837 📠
Quelle: OJS 2022/S 081-217427 (2022-04-21)