MemLog GmbH: SEM_FIB_TOF-SIMS Tool

MemLog GmbH

Das SEM_FIB_TOF-SIMS Tool erlaubt alle hergestellten Schichten und Strukturen hinsichtlich ihrer Abmessungen und chemischer Zusammensetzung umfassend zu charakterisieren. Die Methoden Scanning Electron Microscopy (SEM) und Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM ) ermöglichen laterale Auflösungen bis unter 1 nm, so dass selbst die kleinsten Strukturen abgebildet werden können. Die im Gerät vorhandene Focused Ion Beam (FIB)-Technik wird für die Querschnittspräparation eingesetzt, so dass eine 3-dimensionale Strukturabbildung ermöglich wird und Lamellen für STEM präpariert werden können. Die chemische Zusammensetzung der Schichten und Strukturen kann mit den ebenfalls vorhandenen Methoden Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDX) und (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy (TOF-SIMS) bestimmt werden. EDX und TOF-SIMS ergänzen sich hervorragend bei der Analytik, wobei EDX vorrangig für die quantitative chemische Analyse gebraucht wird und TOF-SIMS den Nachweis von chemischen Verbindungen bis hin zu äußerst geringen Konzentrationen erlaubt. Das SEM_FIB_TOF-SIMS Tool kann so auch zur Partikel- und physikalischen Fehleranalyse an fertig prozessierten Schichtsystemen und Strukturen eingesetzt werden

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2023-12-15. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2023-11-13.

Wer? Wie? Wo?
Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2023-11-13 Auftragsbekanntmachung
Auftragsbekanntmachung (2023-11-13)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: MemLog GmbH: SEM_FIB_TOF-SIMS Tool
Kurze Beschreibung:
Das SEM_FIB_TOF-SIMS Tool erlaubt alle hergestellten Schichten und Strukturen hinsichtlich ihrer Abmessungen und chemischer Zusammensetzung umfassend zu charakterisieren. Die Methoden Scanning Electron Microscopy (SEM) und Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM ) ermöglichen laterale Auflösungen bis unter 1 nm, so dass selbst die kleinsten Strukturen abgebildet werden können. Die im Gerät vorhandene Focused Ion Beam (FIB)-Technik wird für die Querschnittspräparation eingesetzt, so dass eine 3-dimensionale Strukturabbildung ermöglich wird und Lamellen für STEM präpariert werden können. Die chemische Zusammensetzung der Schichten und Strukturen kann mit den ebenfalls vorhandenen Methoden Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDX) und (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy (TOF-SIMS) bestimmt werden. EDX und TOF-SIMS ergänzen sich hervorragend bei der Analytik, wobei EDX vorrangig für die quantitative chemische Analyse gebraucht wird und TOF-SIMS den Nachweis von chemischen Verbindungen bis hin zu äußerst geringen Konzentrationen erlaubt. Das SEM_FIB_TOF-SIMS Tool kann so auch zur Partikel- und physikalischen Fehleranalyse an fertig prozessierten Schichtsystemen und Strukturen eingesetzt werden
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Produkte/Dienstleistungen: Laser 📦
Sonstige Beschränkungen am Erfüllungsort: Ort im betreffenden Land
Beschreibung
Interne Kennung: #1
Art des Vertrags: Lieferungen
Postanschrift: MemLog GmbH: SEM_FIB_TOF_SIMS Tool
Land: Deutschland 🇩🇪
Ort der Leistung: Leipzig, Kreisfreie Stadt 🏙️
Titel
Los-Identifikationsnummer: LOT-0001

Verfahren
Art des Verfahrens
Offenes Verfahren ✅
Rechtsgrundlage: Richtlinie 2014/24/EU
Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2023-12-15 23:55:00 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2023-12-16 10:00:00 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Bedingungen für die Einreichung eines Angebots
Die Bieter können mehrere Angebote einreichen
Eröffnungstermin: 2023-12-16 10:00:00 📅
Elektronische Rechnungsstellung: Erforderlich
Zusätzliche Informationen:
Nach dem Ermessen des Käufers können alle fehlenden Unterlagen nach Fristablauf nachgefordert werden.
Der Vertrag enthält Bedingungen zur Vertragsausführung ✅

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Technische und berufliche Fähigkeiten
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
- Eigenerklärung zur Eignung - mind. 3 Referenzen über die Lieferung eines vergleichbaren Tools zur Materialanalytik oberflächennaher Schichten aus den letzten drei Geschäftsjahren. - Angaben/Nachweise zur Qualitätssicherung im jeweiligen Unternehmen (QM-Zertifizierung DIN EN ISO 9001 oder vergleichbar, internes QM-Handbuch mit entsprechenden Anforderungen, o.ä.) - Angaben / Nachweise zum Umweltmanagement im jeweiligen Unternehmen (Zertifizierung nach ISO 14001 oder vergleichbar) - Angaben / Nachweis zum Arbeits- und Gesundheitsschutzmanagement (Zertifizierung nach ISO 45001 oder vergleichbar) - Service- und Wartungsvertrag/Servicekonzept
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Bedingungen für den Vertrag
Bedingungen für die Vertragserfüllung:
- Eigenerklärung zur Eignung - mind. 3 Referenzen über die Lieferung eines vergleichbaren Tools zur Materialanalytik oberflächennaher Schichten aus den letzten drei Geschäftsjahren. - Angaben/Nachweise zur Qualitätssicherung im jeweiligen Unternehmen (QM-Zertifizierung DIN EN ISO 9001 oder vergleichbar, internes QM-Handbuch mit entsprechenden Anforderungen, o.ä.) - Angaben / Nachweise zum Umweltmanagement im jeweiligen Unternehmen (Zertifizierung nach ISO 14001 oder vergleichbar) - Angaben / Nachweis zum Arbeits- und Gesundheitsschutzmanagement (Zertifizierung nach ISO 45001 oder vergleichbar)
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Bedingungen für die Teilnahme
Ausschlussgrund:
Beteiligung an einer kriminellen Vereinigung
Betrugsbekämpfung
Der Zahlungsunfähigkeit vergleichbare Lage gemäß nationaler Rechtsvorschriften
+ 20 weitere
Direkte oder indirekte Beteiligung an der Vorbereitung des Vergabeverfahrens
Einstellung der gewerblichen Tätigkeit
Entrichtung von Steuern
Falsche Angaben, verweigerte Informationen, die nicht in der Lage sind, die erforderlichen Unterlagen vorzulegen, und haben vertrauliche Informationen über dieses Verfahren erhalten.
Geldwäsche oder Terrorismusfinanzierung
Interessenkonflikt aufgrund seiner Teilnahme an dem Vergabeverfahren
Kinderarbeit und andere Formen des Menschenhandels
Konkurs
Korruption
Schwere Verfehlung im Rahmen der beruflichen Tätigkeit
Terroristische Straftaten oder Straftaten im Zusammenhang mit terroristischen Aktivitäten
Vereinbarungen mit anderen Wirtschaftsteilnehmern zur Verzerrung des Wettbewerbs
Vergleichsverfahren
Verstoß gegen arbeitsrechtliche Verpflichtungen
Verstoß gegen sozialrechtliche Verpflichtungen
Verstoß gegen umweltrechtliche Verpflichtungen
Verwaltung der Vermögenswerte durch einen Insolvenzverwalter
Vorzeitige Beendigung, Schadensersatz oder andere vergleichbare Sanktionen
Zahlung der Sozialversicherungsbeiträge
Zahlungsunfähigkeit
Beschreibung der Ausschlussgründe: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB

Öffentlicher Auftraggeber
Name und Adressen
Name: MemLog GmbH
Nationale Registrierungsnummer: HRB41732
Postanschrift: 10557
Postleitzahl: 04109
Postort: Leipzig
Region: Leipzig, Kreisfreie Stadt 🏙️
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: theresa.welskop@mazars.de 📧
Telefon: +491703770939 📞
Art des öffentlichen Auftraggebers
Einrichtung des öffentlichen Rechts
Haupttätigkeit
Wirtschaft und Finanzen
Kommunikation
Dokumente URL: https://www.dtvp.de/Satellite/notice/CXP4YWLHYFG/documents 🌏
Teilnahme-URL: https://www.dtvp.de/Satellite/notice/CXP4YWLHYFG 🌏
URL des Beschaffungsinstruments: https://www.dtvp.de/Satellite/notice/CXP4YWLHYFG 🌏
Sprache des Beschaffungsdokuments: Deutsch 🗣️
Elektronische Einreichung: Erforderlich

Ergänzende Informationen
Zusätzliche Informationen
Bekanntmachungs-ID: CXP4YWLHYFG
Körper überprüfen
Name: Vergabekammern des Bundes
Nationale Registrierungsnummer: HRB41732
Postanschrift: Villemombler Straße 76
Postleitzahl: 53123
Postort: Bonn
Region: Bonn, Kreisfreie Stadt 🏙️
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: vk@bundeskartellamt.bund.de 📧
Telefon: 0228 9499-0 📞
Informationen über elektronische Arbeitsabläufe
Die elektronische Rechnungsstellung wird akzeptiert
Quelle: OJS 2023/S 219-691131 (2023-11-13)
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