Beschaffungen: MemLog GmbH
4 archivierte Beschaffungen
MemLog GmbH war in der Vergangenheit ein Käufer von elektrische Maschinen, Geräte, Ausstattung und Verbrauchsartikel; Beleuchtung, elektronischer, elektromechanischer und elektrotechnischer Bedarf und elektronische Ausstattung.
Jüngste Beschaffungen durch MemLog GmbH
2025-03-07
Auswertetechnik Wafer-Prober (MemLog GmbH)
Gegenstand dieses Verfahrens ist eine elektrische Auswertetechnik für einen vollautomatischen 200-mm-Wafer-Prober, der für den Dauerbetrieb ausgelegt ist. Der verwendete Wafer Prober ist für die Charakterisierung von Geräten, die Prüfung der elektrischen Zuverlässigkeit und spezielle Produktionsanwendungen optimiert und ermöglicht präzise elektrische Messungen über extrem rauscharme, Gleichstrom-, HF-, mmW- und THz-Frequenzen. Auf diese Voraussetzungen muss die Auswertetechnik angepasst sein. Ansicht der Beschaffung »
Gegenstand dieses Verfahrens ist eine elektrische Auswertetechnik für einen vollautomatischen 200-mm-Wafer-Prober, der für den Dauerbetrieb ausgelegt ist. Der verwendete Wafer Prober ist für die Charakterisierung von Geräten, die Prüfung der elektrischen Zuverlässigkeit und spezielle Produktionsanwendungen optimiert und ermöglicht präzise elektrische Messungen über extrem rauscharme, Gleichstrom-, HF-, mmW- und THz-Frequenzen. Auf diese Voraussetzungen muss die Auswertetechnik angepasst sein. Ansicht der Beschaffung »
2025-03-07
Wafer-Prober (MemLog GmbH)
Gegenstand dieses Verfahrens ist die Lieferung und Aufstellung ein vollautomatischen 200-mm-Wafer-Probers. Der Wafer Prober muss für den Dauerbetrieb ausgelegt sein und sollte über fortschrittliche Funktionen für die Handhabung von Wafern und Kassetten verfügen, um mehrere Wafer aufzunehmen und so den Durchsatz erheblich zu steigern. Diese Prüfstation muss für die Charakterisierung von Geräten, die Prüfung der elektrischen Zuverlässigkeit und spezielle Produktionsanwendungen optimiert sein und präzise … Ansicht der Beschaffung »
Gegenstand dieses Verfahrens ist die Lieferung und Aufstellung ein vollautomatischen 200-mm-Wafer-Probers. Der Wafer Prober muss für den Dauerbetrieb ausgelegt sein und sollte über fortschrittliche Funktionen für die Handhabung von Wafern und Kassetten verfügen, um mehrere Wafer aufzunehmen und so den Durchsatz erheblich zu steigern. Diese Prüfstation muss für die Charakterisierung von Geräten, die Prüfung der elektrischen Zuverlässigkeit und spezielle Produktionsanwendungen optimiert sein und präzise … Ansicht der Beschaffung »
2023-12-14
AOI-System (MemLog GmbH)
Gegenstand des Verfahrens ist die Lieferung eines "Automatischen optischen Inspektionssystems" (AOI), welches zur Materialanalytik oberflächennaher Schichten verwendet wird. Ansicht der Beschaffung »
Gegenstand des Verfahrens ist die Lieferung eines "Automatischen optischen Inspektionssystems" (AOI), welches zur Materialanalytik oberflächennaher Schichten verwendet wird. Ansicht der Beschaffung »
2023-11-13
MemLog GmbH: SEM_FIB_TOF-SIMS Tool (MemLog GmbH)
Das SEM_FIB_TOF-SIMS Tool erlaubt alle hergestellten Schichten und Strukturen hinsichtlich ihrer Abmessungen und chemischer Zusammensetzung umfassend zu charakterisieren. Die Methoden Scanning Electron Microscopy (SEM) und Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM ) ermöglichen laterale Auflösungen bis unter 1 nm, so dass selbst die kleinsten Strukturen abgebildet werden können. Die im Gerät vorhandene Focused Ion Beam (FIB)-Technik wird für die Querschnittspräparation eingesetzt, so dass eine … Ansicht der Beschaffung »
Das SEM_FIB_TOF-SIMS Tool erlaubt alle hergestellten Schichten und Strukturen hinsichtlich ihrer Abmessungen und chemischer Zusammensetzung umfassend zu charakterisieren. Die Methoden Scanning Electron Microscopy (SEM) und Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM ) ermöglichen laterale Auflösungen bis unter 1 nm, so dass selbst die kleinsten Strukturen abgebildet werden können. Die im Gerät vorhandene Focused Ion Beam (FIB)-Technik wird für die Querschnittspräparation eingesetzt, so dass eine … Ansicht der Beschaffung »