3 Elektronenmikroskope für das TEM-Zentrum der TU Chemnitz

Technische Universität Chemnitz

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2024-03-12. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2024-02-09.

Wer?

• Technische Universität Chemnitz

Wie?

• Mikroskope › Elektronenmikroskope

Wo?

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2024-02-09	Auftragsbekanntmachung
2024-03-25	Auftragsbekanntmachung

Auftragsbekanntmachung (2024-02-09)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: 3 Elektronenmikroskope für das TEM-Zentrum der TU Chemnitz
Referenznummer: 3.5-005/24
Kurze Beschreibung: 3 Elektronenmikroskope für das TEM-Zentrum der TU Chemnitz
Art des Vertrags: Lieferungen
Produkte/Dienstleistungen: Elektronenmikroskope 📦
Beschreibung
Interne Kennung: LOT-0001
Beschreibung der Beschaffung:

Es handelt sich um die Beschaffung folgender Großgeräte für das TEM-Zentrum der TU Chemnitz: 1) Focused Ion Beam Rasterelektronenmikroskop (folgend „FIB-REM“) 2) 200kV Transmissionselektronenmikroskop (folgend „TEM-200kV“) 3) 300kV doppelt-korrigiertes Transmissionselektronenmikroskop (folgend „TEM-300kV“) In den folgenden Ausführungen wird für Beschreibungen, Anforderungen und Leis-tungen, die sich auf die Einheit der drei Elektronenmikroskope beziehen, der Begriff „Messsystem“ verwendet. Die Spezifizierung von Anforderungen und Leistungen an eines der Elektronenmikroskope wird anhand der Begriffe „FIB-REM“, „TEM-200kV“ und „TEM-300kV“ konkretisiert. Das FIB-REM muss die hochwertige und schnelle TEM-Probenpräparation in Form von elektronentransparenten Lamellen gewährleisten. Dafür werden leistungsfähige Elektronen- und Ionenoptik, integrierter Nanomanipulator, sowie Gasinjektions-systeme (GIS) mit Pt, W, C und XeF2 benötigt. Für die Auswahl geeigneter Proben-stellen für die Zielpräparation und zur Abbildung der Lamellen werden umfassende Detektoren benötigt. Für ein effizientes Arbeiten mit optimaler Auslastung wird eine weitgehende Automatisierung der Herstellung von TEM-Lamellen benötigt. Das TEM-200kV wird für die Abbildung und Charakterisierung von Strukturen im Nanometerbereich, 3D-Vermessung von Defektstrukturen in Struktur- und Funktions-werkstoffen sowie zur in-situ-Beobachtung von Phasenübergängen zum Einsatz kommen. Das Gerät muss alle klassischen TEM- und STEM-Verfahren über einen weiten Vergrößerungsbereich ermöglichen. Dies beinhaltet insbesondere auch STEM mit atomar aufgelöster Elementanalyse, 4D-STEM sowie die Abbildung per DPC („differential Phase contrast“). Darüber hinaus sind Kernfunktionen des TEM-200kV die Tomographie zur 3D-Rekonstruktion von Mikrostrukturen und Elementver¬teilun-gen, die in-situ-Transmissionselektronenmikroskopie im Zusammenhang mit einem MEMS-basierten Heiz- und Biasing-Probenhalter, sowie die Möglichkeit zur funktions¬fähigen Installation von Systemen zur Orientierungs- und Phasenanalyse, insbesondere der Firma NanoMEGAS. Das TEM-300kV muss mittels doppelter Korrektur (probe-corrected und image-corrected) für höchstauflösende TEM und STEM ausgelegt sein. Es werden umfas-sende Möglichkeiten für Analytik benötigt, inklusive atomar aufgelöste Analyse von Elementverteilung und elektronischen Eigenschaften mittels EDXS und EELS. Ebenso wird 4D-STEM, Lorentz-Mikroskopie und Abbildung per DPC („differential Phase contrast“) benötigt. Da zusätzlich zur Untersuchung von metallischen Werkstoffen auch empfindliche Proben wie Graphen und Nanopartikel untersucht werden, muss die Möglichkeit zur Untersuchung bei geringer Dosis (low-dose) und zur weitge-fassten Kontrolle des Strahlstroms (beam current) gegeben sein. Darüber hinaus muss das TEM-300kV über einen schnellen und empfindlichen Detektor zur Aufnahme von Beugungsmustern verfügen („pixelated detector“). Weiterhin muss das TEM-300kV für die funktionsfähige Einbindung von Systemen zur Orientierungs- und Phasen¬analyse, insbesondere der Firma NanoMEGAS, vorbereitet sein.

Beschreibung der Beschaffung

Es handelt sich um die Beschaffung folgender Großgeräte für das TEM-Zentrum der TU Chemnitz:

1) Focused Ion Beam Rasterelektronenmikroskop
(folgend „FIB-REM“)
2) 200kV Transmissionselektronenmikroskop
(folgend „TEM-200kV“)
3) 300kV doppelt-korrigiertes Transmissionselektronenmikroskop
(folgend „TEM-300kV“)

In den folgenden Ausführungen wird für Beschreibungen, Anforderungen und Leis-tungen, die sich auf die Einheit der drei Elektronenmikroskope beziehen, der Begriff „Messsystem“ verwendet. Die Spezifizierung von Anforderungen und Leistungen an eines der Elektronenmikroskope wird anhand der Begriffe „FIB-REM“, „TEM-200kV“ und „TEM-300kV“ konkretisiert.

Das FIB-REM muss die hochwertige und schnelle TEM-Probenpräparation in Form von elektronentransparenten Lamellen gewährleisten. Dafür werden leistungsfähige Elektronen- und Ionenoptik, integrierter Nanomanipulator, sowie Gasinjektions-systeme (GIS) mit Pt, W, C und XeF2 benötigt. Für die Auswahl geeigneter Proben-stellen für die Zielpräparation und zur Abbildung der Lamellen werden umfassende Detektoren benötigt. Für ein effizientes Arbeiten mit optimaler Auslastung wird eine weitgehende Automatisierung der Herstellung von TEM-Lamellen benötigt.

Das TEM-200kV wird für die Abbildung und Charakterisierung von Strukturen im Nanometerbereich, 3D-Vermessung von Defektstrukturen in Struktur- und Funktions-werkstoffen sowie zur in-situ-Beobachtung von Phasenübergängen zum Einsatz kommen. Das Gerät muss alle klassischen TEM- und STEM-Verfahren über einen weiten Vergrößerungsbereich ermöglichen. Dies beinhaltet insbesondere auch STEM mit atomar aufgelöster Elementanalyse, 4D-STEM sowie die Abbildung per DPC („differential Phase contrast“). Darüber hinaus sind Kernfunktionen des TEM-200kV die Tomographie zur 3D-Rekonstruktion von Mikrostrukturen und Elementver¬teilun-gen, die in-situ-Transmissionselektronenmikroskopie im Zusammenhang mit einem MEMS-basierten Heiz- und Biasing-Probenhalter, sowie die Möglichkeit zur funktions¬fähigen Installation von Systemen zur Orientierungs- und Phasenanalyse, insbesondere der Firma NanoMEGAS.

Das TEM-300kV muss mittels doppelter Korrektur (probe-corrected und image-corrected) für höchstauflösende TEM und STEM ausgelegt sein. Es werden umfas-sende Möglichkeiten für Analytik benötigt, inklusive atomar aufgelöste Analyse von Elementverteilung und elektronischen Eigenschaften mittels EDXS und EELS. Ebenso wird 4D-STEM, Lorentz-Mikroskopie und Abbildung per DPC („differential Phase contrast“) benötigt. Da zusätzlich zur Untersuchung von metallischen Werkstoffen auch empfindliche Proben wie Graphen und Nanopartikel untersucht werden, muss die Möglichkeit zur Untersuchung bei geringer Dosis (low-dose) und zur weitge-fassten Kontrolle des Strahlstroms (beam current) gegeben sein. Darüber hinaus muss das TEM-300kV über einen schnellen und empfindlichen Detektor zur Aufnahme von Beugungsmustern verfügen („pixelated detector“). Weiterhin muss das TEM-300kV für die funktionsfähige Einbindung von Systemen zur Orientierungs- und Phasen¬analyse, insbesondere der Firma NanoMEGAS, vorbereitet sein.

Land: Deutschland 🇩🇪
Ort der Leistung: Chemnitz, Kreisfreie Stadt 🏙️
Titel
Los-Identifikationsnummer: LOT-0001

Verfahren
Art des Verfahrens
Offenes Verfahren ✅
Rechtsgrundlage: Richtlinie 2014/24/EU
Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2024-03-12 14:00:00 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2024-03-12 14:01:00 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote (Informationen über die befugten Personen und das Öffnungsverfahren): Nach § 55 Abs. 2 VgV sind Bieter nicht zugelassen
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Bedingungen für die Einreichung eines Angebots
Die Bieter können mehrere Angebote einreichen
Eröffnungstermin: 2024-03-12 14:01:00 📅
Zusätzliche Informationen: Nach § 55 Abs. 2 VgV sind Bieter nicht zugelassen
Elektronische Rechnungsstellung: Erforderlich
Die elektronische Bestellung wird verwendet ✅
Elektronische Zahlung wird verwendet ✅
Zusätzliche Informationen: entfällt
Begründung der Verfahrenswahl:

Aus gegebenem Anlass weisen wir darauf hin, dass eine Einreichung der elektronischen Angebote via E-Mail nicht zugelassen ist. Zur Einreichung der Angebote nutzen Sie bitte die Vergabeplattform eVergabe.de.

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Liste und kurze Beschreibung der Regeln und Kriterien:

Die Befähigung und Erlaubnis zur Berufsausübung, die wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit sowie die technische und berufliche Leistungsfähigkeit können mit den in §§ 42 bis 51 VgV bzw. § 122 Abs. 3 GWB genannten Belegen nachgewiesen werden. Soweit solche Belege nicht vorhanden sind oder keine entsprechend aussagekräftigen Informationen enthalten, sind zum Nachweis folgende Einzelbelege mit dem Angebot einzureichen: 1. Eigenerklärung, dass sich das Unternehmen nicht in Insolvenz oder in Liquidation befindet sowie Eigenerklärung, aus der hervorgeht, dass der Unternehmer seinen gesetzlichen Verpflichtungen zur Zahlung von Steuern und Abgaben sowie Sozialbeiträgen gemäß gemeinsamer Bekanntmachung der Sächsischen Staatsministerien für Wirtschaft und Arbeit sowie Finanzen vom 24.06.2003 nachkommt; 2. Eigenerklärung zur Einhaltung des Mindestlohngesetzes (MiLoG). Der Bieter hat auf Verlangen der Vergabestelle unverzüglich einen Auszug aus dem Gewerbezentralregister vorzulegen. Der Auszug darf nicht älter als drei Monate sein. Bei ausländischen Bewerbern gelten adäquate Bescheinigungen des Ursprungs- oder Herkunftslandes in beglaubigter deutscher Übersetzung.

Ausschlussgrund: Konkurs
Beschreibung der Ausschlussgründe:

Öffentlicher Auftraggeber
Name und Adressen
Name: Technische Universität Chemnitz
Nationale Registrierungsnummer: DE140857609
Postanschrift: Straße der Nationen 62
Postleitzahl: 09111
Postort: Chemnitz
Region: Chemnitz, Kreisfreie Stadt 🏙️
Land: Deutschland 🇩🇪
Kontaktperson: Abteilung 3.5 Beschaffung
E-Mail: ausschreibung@verwaltung.tu-chemnitz.de 📧
Telefon: +49 37153112350 📞
Art des öffentlichen Auftraggebers
Agentur/Amt auf regionaler oder lokaler Ebene
Haupttätigkeit
Bildung
Kommunikation
Dokumente URL: https://www.evergabe.de/unterlagen/018d8395-e876-4895-ab0f-7ed1875a35cc/zustellweg-auswaehlen 🌏
Teilnahme-URL: https://www.evergabe.de/unterlagen/018d8395-e876-4895-ab0f-7ed1875a35cc/zustellweg-auswaehlen 🌏
Sprache des Beschaffungsdokuments: Deutsch 🗣️
Elektronische Einreichung: Zulässig

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Freistaates Sachsen bei der Landesdirektion
Nationale Registrierungsnummer: DE287064009
Postleitzahl: 04107
Postort: Leipzig
Region: Leipzig, Kreisfreie Stadt 🏙️
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: vergabekammer@lds.sachsen.de 📧
Telefon: 0341 977 - 3800 📞
Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:

Nach §160 Abs. 3 GWB ist ein Nachprüfungsantrag unzulässig, soweit: 1. der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 GWB bleibt unberührt, 2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 4. mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Die Unwirksamkeit der Zuschlagserteilung kann nach § 135 Abs. 2 GWB nur festgestellt werden, wenn sie im Nachprüfungsverfahren innerhalb von 30 Kalendertagen nach der Information der betroffenen Bieter und Bewerber durch den öffentlichen Auftraggeber über den Abschluss des Vertrags, jedoch nicht später als sechs Monate nach Vertragsschluss geltend gemacht worden ist. Hat der Auftraggeber die Auftragsvergabe im Amtsblatt der Europäischen Union bekannt gemacht, endet die Frist zur Geltendmachung der Unwirksamkeit 30 Kalendertage nach Veröffentlichung der Bekanntmachung der Auftragsvergabe im Amtsblatt der Europäischen Union.

Informationen über elektronische Arbeitsabläufe
Die elektronische Rechnungsstellung wird akzeptiert
Bekanntmachungsangaben
Bevorzugtes Datum der Veröffentlichung: 2024-02-09+01:00 📅
Quelle: OJS 2024/S 030-089022 (2024-02-09)

Auftragsbekanntmachung (2024-03-25)
Verfahren
Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2024-03-26 14:00:00 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2024-04-05 14:01:00 📅
Bedingungen für die Einreichung eines Angebots
Eröffnungstermin: 2024-04-05 14:01:00 📅

Ergänzende Informationen
Bekanntmachungsangaben
Bevorzugtes Datum der Veröffentlichung: 2024-03-25+01:00 📅

Änderungen
Zu berichtigender Text in der ursprünglichen Bekanntmachung
Los-Identifikationsnummer: LOT-0001
Andere zusätzliche Informationen
Hauptgrund für die Änderung: Aktualisierte Informationen
Angaben zu Änderungen
Fassung der zu ändernden vorigen Bekanntmachung: 018d8396-cd85-4051-a76e-d34e3c13470c-01
Quelle: OJS 2024/S 061-180983 (2024-03-25)

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