3 Elektronenmikroskope für das TEM-Zentrum der TU Chemnitz

Technische Universität Chemnitz

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2024-03-12. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2024-02-09.

Wer?

• Technische Universität Chemnitz

Wie?

• Mikroskope › Elektronenmikroskope

Wo?

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2024-02-09	Auftragsbekanntmachung
2024-03-25	Auftragsbekanntmachung

Auftragsbekanntmachung (2024-02-09)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: 3 Elektronenmikroskope für das TEM-Zentrum der TU Chemnitz
Referenznummer: 3.5-005/24
Kurze Beschreibung:
“3 Elektronenmikroskope für das TEM-Zentrum der TU Chemnitz”
Art des Vertrags: Lieferungen
Produkte/Dienstleistungen: Elektronenmikroskope 📦
Beschreibung
Interne Kennung: LOT-0001
Beschreibung der Beschaffung:
“Es handelt sich um die Beschaffung folgender Großgeräte für das TEM-Zentrum der TU Chemnitz: 1) Focused Ion Beam Rasterelektronenmikroskop (folgend...”

Beschreibung der Beschaffung

Es handelt sich um die Beschaffung folgender Großgeräte für das TEM-Zentrum der TU Chemnitz:

1) Focused Ion Beam Rasterelektronenmikroskop
(folgend „FIB-REM“)
2) 200kV Transmissionselektronenmikroskop
(folgend „TEM-200kV“)
3) 300kV doppelt-korrigiertes Transmissionselektronenmikroskop
(folgend „TEM-300kV“)

In den folgenden Ausführungen wird für Beschreibungen, Anforderungen und Leis-tungen, die sich auf die Einheit der drei Elektronenmikroskope beziehen, der Begriff „Messsystem“ verwendet. Die Spezifizierung von Anforderungen und Leistungen an eines der Elektronenmikroskope wird anhand der Begriffe „FIB-REM“, „TEM-200kV“ und „TEM-300kV“ konkretisiert.

Das FIB-REM muss die hochwertige und schnelle TEM-Probenpräparation in Form von elektronentransparenten Lamellen gewährleisten. Dafür werden leistungsfähige Elektronen- und Ionenoptik, integrierter Nanomanipulator, sowie Gasinjektions-systeme (GIS) mit Pt, W, C und XeF2 benötigt. Für die Auswahl geeigneter Proben-stellen für die Zielpräparation und zur Abbildung der Lamellen werden umfassende Detektoren benötigt. Für ein effizientes Arbeiten mit optimaler Auslastung wird eine weitgehende Automatisierung der Herstellung von TEM-Lamellen benötigt.

Das TEM-200kV wird für die Abbildung und Charakterisierung von Strukturen im Nanometerbereich, 3D-Vermessung von Defektstrukturen in Struktur- und Funktions-werkstoffen sowie zur in-situ-Beobachtung von Phasenübergängen zum Einsatz kommen. Das Gerät muss alle klassischen TEM- und STEM-Verfahren über einen weiten Vergrößerungsbereich ermöglichen. Dies beinhaltet insbesondere auch STEM mit atomar aufgelöster Elementanalyse, 4D-STEM sowie die Abbildung per DPC („differential Phase contrast“). Darüber hinaus sind Kernfunktionen des TEM-200kV die Tomographie zur 3D-Rekonstruktion von Mikrostrukturen und Elementver¬teilun-gen, die in-situ-Transmissionselektronenmikroskopie im Zusammenhang mit einem MEMS-basierten Heiz- und Biasing-Probenhalter, sowie die Möglichkeit zur funktions¬fähigen Installation von Systemen zur Orientierungs- und Phasenanalyse, insbesondere der Firma NanoMEGAS.

Das TEM-300kV muss mittels doppelter Korrektur (probe-corrected und image-corrected) für höchstauflösende TEM und STEM ausgelegt sein. Es werden umfas-sende Möglichkeiten für Analytik benötigt, inklusive atomar aufgelöste Analyse von Elementverteilung und elektronischen Eigenschaften mittels EDXS und EELS. Ebenso wird 4D-STEM, Lorentz-Mikroskopie und Abbildung per DPC („differential Phase contrast“) benötigt. Da zusätzlich zur Untersuchung von metallischen Werkstoffen auch empfindliche Proben wie Graphen und Nanopartikel untersucht werden, muss die Möglichkeit zur Untersuchung bei geringer Dosis (low-dose) und zur weitge-fassten Kontrolle des Strahlstroms (beam current) gegeben sein. Darüber hinaus muss das TEM-300kV über einen schnellen und empfindlichen Detektor zur Aufnahme von Beugungsmustern verfügen („pixelated detector“). Weiterhin muss das TEM-300kV für die funktionsfähige Einbindung von Systemen zur Orientierungs- und Phasen¬analyse, insbesondere der Firma NanoMEGAS, vorbereitet sein.

Art des Vertrags: Lieferungen
Produkte/Dienstleistungen: Elektronenmikroskope 📦
Land: Deutschland 🇩🇪
Ort der Leistung: Chemnitz, Kreisfreie Stadt 🏙️
Titel
Los-Identifikationsnummer: LOT-0001

Verfahren
Art des Verfahrens
Offenes Verfahren ✅
Rechtsgrundlage: Richtlinie 2014/24/EU
Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2024-03-12 14:00:00 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2024-03-12 14:01:00 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote (Informationen über die befugten Personen und das Öffnungsverfahren):
“Nach § 55 Abs. 2 VgV sind Bieter nicht zugelassen”
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Bedingungen für die Einreichung eines Angebots
Die Bieter können mehrere Angebote einreichen
Eröffnungstermin: 2024-03-12 14:01:00 📅
Zusätzliche Informationen:
“Nach § 55 Abs. 2 VgV sind Bieter nicht zugelassen”
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Elektronische Rechnungsstellung: Erforderlich
Die elektronische Bestellung wird verwendet ✅
Elektronische Zahlung wird verwendet ✅
Zusätzliche Informationen:
“entfällt”
Begründung der Verfahrenswahl:
“Aus gegebenem Anlass weisen wir darauf hin, dass eine Einreichung der elektronischen Angebote via E-Mail nicht zugelassen ist. Zur Einreichung der Angebote...”

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Liste und kurze Beschreibung der Regeln und Kriterien:
“Die Befähigung und Erlaubnis zur Berufsausübung, die wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit sowie die technische und berufliche...”
Ausschlussgrund: bankruptcy
Beschreibung der Ausschlussgründe:
“Die Befähigung und Erlaubnis zur Berufsausübung, die wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit sowie die technische und berufliche...”

Öffentlicher Auftraggeber
Name und Adressen
Name: Technische Universität Chemnitz
Nationale Registrierungsnummer: DE140857609
Postanschrift: Straße der Nationen 62
Postleitzahl: 09111
Postort: Chemnitz
Region: Chemnitz, Kreisfreie Stadt 🏙️
Land: Deutschland 🇩🇪
Kontaktperson: Abteilung 3.5 Beschaffung
E-Mail: ausschreibung@verwaltung.tu-chemnitz.de 📧
Telefon: +49 37153112350 📞
Art des öffentlichen Auftraggebers
Agentur/Amt auf regionaler oder lokaler Ebene
Haupttätigkeit
Bildung
Kommunikation
Dokumente URL: https://www.evergabe.de/unterlagen/018d8395-e876-4895-ab0f-7ed1875a35cc/zustellweg-auswaehlen 🌏
Teilnahme-URL: https://www.evergabe.de/unterlagen/018d8395-e876-4895-ab0f-7ed1875a35cc/zustellweg-auswaehlen 🌏
Sprache des Beschaffungsdokuments: Deutsch 🗣️
Elektronische Einreichung: Zulässig

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Freistaates Sachsen bei der Landesdirektion
Nationale Registrierungsnummer: DE287064009
Postleitzahl: 04107
Postort: Leipzig
Region: Leipzig, Kreisfreie Stadt 🏙️
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: vergabekammer@lds.sachsen.de 📧
Telefon: 0341 977 - 3800 📞
Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:
“Nach §160 Abs. 3 GWB ist ein Nachprüfungsantrag unzulässig, soweit: 1. der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor...”
Informationen über elektronische Arbeitsabläufe
Die elektronische Rechnungsstellung wird akzeptiert
Die elektronische Bestellung wird verwendet
Elektronische Zahlung wird verwendet
Notice information
Bevorzugtes Datum der Veröffentlichung: 2024-02-09+01:00 📅
Quelle: OJS 2024/S 030-089022 (2024-02-09)

Auftragsbekanntmachung (2024-03-25)
Verfahren
Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2024-03-26 14:00:00 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2024-04-05 14:01:00 📅
Bedingungen für die Einreichung eines Angebots
Eröffnungstermin: 2024-04-05 14:01:00 📅

Ergänzende Informationen
Notice information
Bevorzugtes Datum der Veröffentlichung: 2024-03-25+01:00 📅

Änderungen
Andere zusätzliche Informationen
Hauptgrund für die Änderung: Aktualisierte Informationen
Information about modifications
Fassung der zu ändernden vorigen Bekanntmachung: 018d8396-cd85-4051-a76e-d34e3c13470c-01
Quelle: OJS 2024/S 061-180983 (2024-03-25)

Neue Beschaffungen in verwandten Kategorien 🆕

Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) (>20 neue Beschaffungen)

Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen (15)

Mikroskope (4)

Elektronenmikroskope (1)