Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien
Technische und berufliche Leistungsfähigkeit: Folgende Mindest-Qualitätskriterien (Muss-Kriterien) sind zu erbringen / nachzuweisen:
STM and AFM
▪ Kombiniertes Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskop Das angebotene Gerät muss ein kombiniertes Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskop mit qPlus basierten Sensoren sein.
▪ Nanos SPM-Controller Eine kompatible Ansteuerung und Signalverarbeitung mittels der im Feld üblicherweise genutzten Software und Controller „Nanonis“ muss möglich sein.
▪ Rauschniveau Das Rauschniveau (Integral über einen Frequenzbereich von 0.01 Hz bis 100 Hz der quadrierten Rauschdichte in vertikaler Richtung bei geschlossenem Feedback (konstanter Tunnelstrom)) muss unter (2 pm)^2 liegen.
▪ Performance Das gelieferte System muss nachweislich die Probensysteme Si(111)-7x7 und ein Edelmetall (z.B. Cu(111)) mit atomarer Auflösung abbilden können.
▪ Präparation Die Möglichkeit zur Präparation CO-funktionalisierter Spitzen muss existieren.
▪ Einkopplung von Licht Der Durchmesser der Fenster für die Ein- und Auskopplung von Strahlung muss mindestens 2 cm betragen.
▪ Optischer Zugang Es muss neben den zwei optischen Zugängen zur Ein- und Auskopplung von Licht einen weiteren optischen Zugang für die Einjustage mittels optischem Mikroskop sowie Proben- und Sensortransfer geben.
▪ Sensoren Es müssen qPlus-Sensoren mit mindestens 5 elektrischen Kontakten (für Strommessung, Lateral- und Normalkraft-Messung) verwendet werden können.
Probensystem
▪ Kompatibilität mit Probenhaltern Das System muss kompatibel sein mit „plate-type“ Probenhaltern, wie beispielsweise Createc plate-type, Omicron sample plate, SPECS Standard Probenhalter, oder vergleichbaren Probenhaltern.
▪ Heizbare Proben Die Proben müssen in der Präparationskammer bis 1300°C heizbar sein.
▪ Gegenkühlbare Proben Die Proben müssen während der Probenpräparation gegengekühlt werden können, z.B. durch LN2 oder ähnlichem.
▪ Temperaturmessung Das Auslesen der Probentemperatur während der Probenpräparation muss möglich sein.
▪ Gaseinlass Die Mikroskopkammer muss ein Leckventil zum Gaseinlass, sowie ein Gas-Handhabungssystem besitzen.
▪ Probenpräparation Das gelieferte System muss nachweislich für die Präparation von Si(111)-7x7 sowie von Edelmetallen (z.B. Cu(111)) mit Hilfe einer mitgelieferten Sputterkanone geeignet sein.
▪ Präparation dünner Schichten In der Präparationskammer muss ein Verdampfer und eine Quarzkristall-Mikrowaage für das Aufdampfen dünner Schichten vorhanden sein.
▪ Aufdampfen von Molekülen In der Mikroskopkammer muss ein Verdampfer bzw. eine Heizstation für das Aufdampfen von
sub-Monolagen individueller Moleküle direkt auf die sich im Mikroskop befindende Probe vorhanden sein.
▪ Sonstiges Im Zubehör müssen zwei zweifach-Probenhalter (Wafer-Metall), ein Massenspektrometer und ein Verdampfer für Atome wie Ag oder Au inbegriffen sein.
UHV-System
▪ 2.5-Kammer UHV System Das System muss aus einer Präparationskammer, einer Mikroskopkammer (STM/AFM) sowie einem Loadlock für schnellen Proben- und Sensortransfer bestehen.
▪ Pumpen Es muss sich bei allen Pumpen um ölfreie Geräte handeln, und die Turbomolekularpumpe(n) müssen magnetgelagert sein.
▪ Sensor-Austausch Das Austauschen des Sensors in situ bei tiefen Temperaturen muss möglich sein.
▪ Vakuum Präparations- und Mikroskopkammer Der Druck in der Präparations- und Mikroskopkammer von <2e-10 mbar muss erreichbar sein (inkl. Ionenpumpe(n) und Titansublimationspumpe(n)).
▪ Vakuum Loadlock Der Druck im Loadlock von <5e-8 mbar muss erreichbar sein (inkl. Turbomolekularpumpe mit mind. 250 l/s).
▪ Ausheizen Präparations- und Mikroskopkammer Die Vakuumkammer muss bei ca. 120°C ausgeheizt werden können (Ausstattung zum Ausheizen im Zubehör inklusive).
▪ Garantierte Minimaltemperatur Eine Minimaltemperatur des Mikroskopkopfes von 7K bei geöffneten optischen Zugängen muss garantiert werden. (siehe hierzu auch „Kann-Kriterien“)
▪ Standzeit Das Zeitintervall zwischen Nachfüllen der kryogenen Flüssigkeiten während des Betriebs bei Arbeitstemperatur und mit geöffneten optischen Zugängen muss mindestens 48h betragen. (siehe hierzu auch „Kann-Kriterien“)
▪ Temperaturmessung Es muss eine Temperaturmessung am Mikroskopkopf mit einer Genauigkeit von mindestens ±0.25 K möglich sein.
▪ Mikroskopkopf Der Mikroskopkopf mit Probe muss bis mind. 20 K heizbar sein, während alle Tanks mit Kühlmittel gefüllt sind.
▪ Probenablagen Es müssen Probenablagen für die Aufbewahrung von mindestens 10 Proben im Vakuum vorhanden sein.
▪ Kryostat Das System muss über einen Helium-Badkryostaten verfügen. Dies ist nötig um Temperaturschwankungen an Mikroskopkopf und Probe zu vermeiden. Sollte das Verbauen eines Helium-Badkryostaten aus technischen oder finanziellen Gründen nicht möglich sein, muss die Temperaturstabilität z.B. durch Nutzung eines entsprechenden Regelkreises im Temperaturbereich von ≤ 7 K durch die Angabe von Referenzen, die ein entsprechendes System bei einem baugleichen Mikroskop erfolgreich in diesem Temperaturbereich verwenden, zweifelsfrei bestätigt werden.
▪ Ausstattung Thermometer Das System muss mit Thermometern an dem Manipulator in der Präparationskammer, dem Mikroskopkopf sowie dem Kryostatboden ausgestattet sein.
Abmessungen und Rahmen
▪ Maße Abmessungen und Gewicht müssen vor der Lieferung spezifiziert werden und müssen eine Anlieferung durch die Labortüren erlauben.
▪ Pneumatische Lagerung Das Rastersondenmikroskop muss auf vibrationsgedämpften Halterungen gelagert sein.