Anbieter: Createc Fischer & Co. GmbH

9 archivierte Beschaffungen

In der Vergangenheit waren die konkurrierenden Bieter Amplitude Laser Group, Edwards GmbH, EFG GmbH, Kleindiek Nanotechnik, SIOS Meßtechnik GmbH und TESCAN GmbH.

Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter Createc Fischer & Co. GmbH erwähnt wird

2022-12-08   Rastersondenmikroskop (Universität Regensburg)
Die Universität Regensburg (Auftraggeber) plant für das interdisziplinäre Forschungszentrum „Regensburg Center for Ultrafast Nanoscopy“ (RUN), die Beschaffung eines neuen Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Rastersondenmikroskops inklusive optischer Zugänge, das bei kryogenen Temperaturen und im Ultrahochvakuum (UHV) betrieben werden kann. Die geplante Anwendung stellt sehr hohe Ansprüche an die Stabilität bzgl. Vibrationen. Bitte beachten Sie, dass wegen Schließung der Universität Regensburg zwischen … Ansicht der Beschaffung »
2022-06-08   Low-Temperatur STM / AFM (Max-Planck-Institut für Mikrostrukturphysik)
Beschaffung eines Low-Temperatur STM / AFM Ansicht der Beschaffung »
2021-06-03   Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop und Rasterkraftmikroskop (Technische Universität Dresden, Dezernat Finanzen und Beschaffung, Sachgebiet Zentrale Beschaffung und Anlagenbuchhaltung)
Gegenstand des Vergabeverfahrens ist die Lieferung eines leistungsstarken LT-STM / AFM-Systems sowie Aufstellung, Inbetriebnahme, Einweisung und Schulung. Ansicht der Beschaffung »
2020-07-28   Beschaffung eines Systems zur Nanomanipulation im Vakuum in 3 Losen (Eberhard Karls Universität Tübingen)
Beschaffung eines Systems zur Nanomanipulation im Vakuum In 3 Losen — Los 1: Ultrahochvakuum-Rasterelektronenmikroskop Säule; — Los 2: Nanomanipulatoren zum Betrieb im Ultrahochvakuum; — Los 3: 4-fach Effusionszelle zum Aufbringen von dünnen Schichten. Ansicht der Beschaffung »
2020-03-09   STM-AFM mit Optikeinheit (Freie Universität Berlin Abteilung II: Finanzen, Einkauf und Stellenwirtschaft Referat II C – Zentraler Einkauf)
Beschaffung eines kombinierten Tieftemperatur-Rastertunnel-Rasterkraftmikroskops (STM/AFM) mit fs-Laser, gekoppelt mit optischem parametrischen Verstärker und Lasertisch. Ansicht der Beschaffung »
2016-02-26   Beschaffung eines LT-STM/AFM Systems (DFG-GZ: A 722) (Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle)
LT-STM/AFM System Das System soll für hochauflösende STM sowie Q-plus AFM und Spektroskopie Messungen verwendet werden. Die grundlegende Anforderung an ein LT-STM/AFM System ist die Möglichkeit zur atomaren Auflösung der Messung auf oxidischen Oberflächen. 1. Atomare Auflösung der Messung a. Messkopf Der schwingungsisoliert aufgehängte Messkopf sollte über eine Grobpositionierung und einen feinen Scanbereich verfügen. Die laterale Driftrate im thermischen Gleichgewicht bei 6 K sollte 4 pm/min nicht … Ansicht der Beschaffung »
2011-11-14   Großgerätebeschaffung: MK 11.07 (Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg)
Röntgendiffraktometer mit Zusatzausrüstungen für in-situ Prozesscharakteristik. Ansicht der Beschaffung »