Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope
Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V., Zentrale Beschaffungsstelle
Beschaffung eines hochauflösenden Feldemissionstransmissionselektronenmikroskops (DFG-GZ: A 614). Die Anschaffung eines hochauflösenden Feldemissions-Transmissions-Elektronenmikroskops (HRTEM) mit in-column Energiefilter ist geplant. Die Leistung des Bieters umfasst die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme als komplettes, funktionsfähiges System gem. Feldemissionstransmissionselektronenmikroskop; 2. Beschleunigungsspannung mind. 200 kV oder höher; 3. Energiebreite des Emitter mind. 0.8 eV oder besser; 4. Punktauflösung mind. 0.23 nm oder besser; 5. Linienauflösung mind. 0.1 nm oder besser; 6. Blickkammer mit Binokular; 7. Bildaufnahme durch eine Hochleistungs-CCD Kamera (Auslesegeschwindigkeit 4.0 Mpix/sec; Ausleserauschen < 20DCC-@1MHz; Dunkelstrom < 6 counts/pixel/sec) incl. Software; 8. Film-Magazin und Satz Photoplattenhalter; 9. Voll motorisierte Blenden; 10. Motorisiertes Goniometer; 11. Probenschleuse; 12. Ausstattung für Elektronenbeugung; 13. Steuerbarer Primärstrahlfänger; 14. Piezoelement-gesteuerte Probenbühne; 15. Einfachkipp-Probenhalter; 16. Doppelkipp-Probenhalter; 17. Vakuum-Pumpensystem; 18. Kühlmobil; 19. In-Column Energiefilter mit Isochromatizität < 1eV und Filter-Energieauflösung < 0.15 eV; 20. Ausstattung für analytischen Modus: Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS); hochaufgelöste Elementverteilung (ESI) Aufnahme von EELS Spektren; 21. 1 Rechner-Ausstattung inkl. zwei Monitoren; vollständige Steuer- und Auswertesoftware für das System; 22. STEM Zusatz; STEM-Auflösung mind. 0.136 nm oder besser; 23. Installation und Inbetriebnahme des gesamten Systems, sowie Schulung für das gesamte System vor Ort für mind. 2 Mitarbeiter. TEM-Tomographie Messungen (mind. Erweiterungsmöglichkeit muss z. B. in Form eines Nebenangebots bestätigt werden). Cryo-TEM und Cryo-Präparation (mind. Erweiterungsmöglichkeit muss z. B. in Form eines Nebenangebots bestätigt werden). EDX-Messungen (mind. Erweiterungsmöglichkeit muss z. B. in Form eines Nebenangebots bestätigt werden). Einbau von aktiven Komponenten zur Dämpfung (mind. Erweiterungsmöglichkeit muss z. B. in Form eines Nebenangebots bestätigt werden). Wartungsvertrag (mind. Erweiterungsmöglichkeit muss z. B. in Form eines Nebenangebots bestätigt werden).
DeadlineDie Frist für den Eingang der Angebote war 2010-10-27. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2010-10-14.
Wer? Wie? Wo?| Datum | Dokument |
|---|---|
| 2010-10-12 | Auftragsbekanntmachung |
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope
Volltext:
“Beschaffung eines hochauflösenden Feldemissionstransmissionselektronenmikroskops (DFG-GZ: A 614). Die Anschaffung eines hochauflösenden...”
Ort der Leistung
Konstanz 🏙️
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferauftrag
Verordnung: Europäische Gemeinschaften
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Verfahren
Verfahrensart: Beschleunigtes Verhandlungsverfahren
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot
Angebotsart: Gesamtangebot
Art des öffentlichen Auftraggebers: Andere
Haupttätigkeit: Sonstiges
Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Name des öffentlichen Auftraggebers: Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V., Zentrale Beschaffungsstelle
Land: Deutschland 🇩🇪
Kontakt
Internetadresse: www.dfg.de 🌏
Referenz
Daten
Veröffentlichungsdatum: 2010-10-14 📅
Absendedatum: 2010-10-12 📅
Einreichungsfrist: 2010-10-27 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer (Legacy): 305236-2010
ABl. S-Ausgabe: 200/2010
Objekt
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope 📦
Quelle: OJS 2010/S 200-305236 (2010-10-12)