Beschaffung eines Niedrigenergieelektronenmikroskops (DFG-GZ: A 624). Gerätebeschreibung. Low-energy electron microscope (LEEM, deutsch: Niederenergieelektronenmikroskop) zur Untersuchung von Festkörperoberflächen und dynamischen Oberflächenprozessen in verschiedenen Messmodi (Hellfeld-LEEM, Dunkelfeld-LEEM, MEM, TEEM, PEEM, LEEN, μLEED und Selected Area LEED). Die Apparatur muss die folgenden Eigenschaften und Ausstattungsmerkmale erfüllen: — Komplette Apparatur zur Durchführung von LEEM inkl. aller notwendigen Vorrichtungen zur Erzeugung des Elektronenstrahls, Linsen, magn. Ablenkeinheiten, Detektor und Versorgungselektroniken, — Ortsauflösung ≤ 5 nm im LEEM-Modus, — Gesichtsfeld 2-100 μm im LEEM-Modus, — Kontrastblenden zur Realisierung von Beugungskontrast (Hell- und Dunkelfeld), — Beleuchtungsblenden für μLEED, — Feldemissionskathode, — Energiefilter oder Analysator für energieaufgelöste Abbildung mit einer Energieauflösung besser als 250 meV inkl. ggf. notwendiger Versorgungselektroniken, — Komplettes Ultrahochvakuumsystem bestehend aus Analysenkammer und separat gepumpter Probepräparationslammer mit zugehörigen Pumpen und Druckmessgeräten sowie Vorrichtungen zum Ausheizen der Apparatur, — Basisdruck ≤ 10-10 mbar, — Schwingungsdämpfung, — Präzisionsprobenaufnahme (Manipulator oder äquivalente Vorrichtung) mit 5 Freiheitsgraden, elektronisch gesteuert, — Probenhalter mit Probenheizung und Temperatursensor für eine maximale Probentemperatur von mind. 1 500 °C, — Loadlock mit notwendigen Pumpen und Transfereinrichtungen, — Software für Datenaufnahme und Analyse, — PC mit Monitor für Datenaufnahme und Analyse, — Komplette Stromversorgung, — Hochfluss-He-Gasentladungslampe mit einem Photonenfluss von mind. 1x1016 s-1 sterad-1 bei einer Spotgröße von max. 500 μm inkl. notwendiger Pumpen, Gaseinlasssystem, Vakuummesstechnik, Versorgungselektronik und ggf. Anschlüssen für Kühlwasser, — Quecksilber-UV-Lampe, — Argonionenkanone zur Probenpräparation inklusive Versorgungselektronik und Gaseinlasssystem.
Deadline
Die Frist fĂĽr den Eingang der Angebote war 2010-12-22.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2010-12-09.
Auftragsbekanntmachung (2010-12-07) Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Elektronenmikroskope
Volltext:
Beschaffung eines Niedrigenergieelektronenmikroskops (DFG-GZ: A 624). Gerätebeschreibung. Low-energy electron microscope (LEEM, deutsch: Niederenergieelektronenmikroskop) zur Untersuchung von Festkörperoberflächen und dynamischen Oberflächenprozessen in verschiedenen Messmodi (Hellfeld-LEEM, Dunkelfeld-LEEM, MEM, TEEM, PEEM, LEEN, μLEED und Selected Area LEED). Die Apparatur muss die folgenden Eigenschaften und Ausstattungsmerkmale erfüllen: — Komplette Apparatur zur Durchführung von LEEM inkl. aller notwendigen Vorrichtungen zur Erzeugung des Elektronenstrahls, Linsen, magn. Ablenkeinheiten, Detektor und Versorgungselektroniken, — Ortsauflösung ≤ 5 nm im LEEM-Modus, — Gesichtsfeld 2-100 μm im LEEM-Modus, — Kontrastblenden zur Realisierung von Beugungskontrast (Hell- und Dunkelfeld), — Beleuchtungsblenden für μLEED, — Feldemissionskathode, — Energiefilter oder Analysator für energieaufgelöste Abbildung mit einer Energieauflösung besser als 250 meV inkl. ggf. notwendiger Versorgungselektroniken, — Komplettes Ultrahochvakuumsystem bestehend aus Analysenkammer und separat gepumpter Probepräparationslammer mit zugehörigen Pumpen und Druckmessgeräten sowie Vorrichtungen zum Ausheizen der Apparatur, — Basisdruck ≤ 10-10 mbar, — Schwingungsdämpfung, — Präzisionsprobenaufnahme (Manipulator oder äquivalente Vorrichtung) mit 5 Freiheitsgraden, elektronisch gesteuert, — Probenhalter mit Probenheizung und Temperatursensor für eine maximale Probentemperatur von mind. 1 500 °C, — Loadlock mit notwendigen Pumpen und Transfereinrichtungen, — Software für Datenaufnahme und Analyse, — PC mit Monitor für Datenaufnahme und Analyse, — Komplette Stromversorgung, — Hochfluss-He-Gasentladungslampe mit einem Photonenfluss von mind. 1x1016 s-1 sterad-1 bei einer Spotgröße von max. 500 μm inkl. notwendiger Pumpen, Gaseinlasssystem, Vakuummesstechnik, Versorgungselektronik und ggf. Anschlüssen für Kühlwasser, — Quecksilber-UV-Lampe, — Argonionenkanone zur Probenpräparation inklusive Versorgungselektronik und Gaseinlasssystem.
Beschaffung eines Niedrigenergieelektronenmikroskops (DFG-GZ: A 624). Gerätebeschreibung. Low-energy electron microscope (LEEM, deutsch: Niederenergieelektronenmikroskop) zur Untersuchung von Festkörperoberflächen und dynamischen Oberflächenprozessen in verschiedenen Messmodi (Hellfeld-LEEM, Dunkelfeld-LEEM, MEM, TEEM, PEEM, LEEN, μLEED und Selected Area LEED). Die Apparatur muss die folgenden Eigenschaften und Ausstattungsmerkmale erfüllen: — Komplette Apparatur zur Durchführung von LEEM inkl. aller notwendigen Vorrichtungen zur Erzeugung des Elektronenstrahls, Linsen, magn. Ablenkeinheiten, Detektor und Versorgungselektroniken, — Ortsauflösung ≤ 5 nm im LEEM-Modus, — Gesichtsfeld 2-100 μm im LEEM-Modus, — Kontrastblenden zur Realisierung von Beugungskontrast (Hell- und Dunkelfeld), — Beleuchtungsblenden für μLEED, — Feldemissionskathode, — Energiefilter oder Analysator für energieaufgelöste Abbildung mit einer Energieauflösung besser als 250 meV inkl. ggf. notwendiger Versorgungselektroniken, — Komplettes Ultrahochvakuumsystem bestehend aus Analysenkammer und separat gepumpter Probepräparationslammer mit zugehörigen Pumpen und Druckmessgeräten sowie Vorrichtungen zum Ausheizen der Apparatur, — Basisdruck ≤ 10-10 mbar, — Schwingungsdämpfung, — Präzisionsprobenaufnahme (Manipulator oder äquivalente Vorrichtung) mit 5 Freiheitsgraden, elektronisch gesteuert, — Probenhalter mit Probenheizung und Temperatursensor für eine maximale Probentemperatur von mind. 1 500 °C, — Loadlock mit notwendigen Pumpen und Transfereinrichtungen, — Software für Datenaufnahme und Analyse, — PC mit Monitor für Datenaufnahme und Analyse, — Komplette Stromversorgung, — Hochfluss-He-Gasentladungslampe mit einem Photonenfluss von mind. 1x1016 s-1 sterad-1 bei einer Spotgröße von max. 500 μm inkl. notwendiger Pumpen, Gaseinlasssystem, Vakuummesstechnik, Versorgungselektronik und ggf. Anschlüssen für Kühlwasser, — Quecksilber-UV-Lampe, — Argonionenkanone zur Probenpräparation inklusive Versorgungselektronik und Gaseinlasssystem.
Ort der Leistung Erlangen, Kreisfreie Stadt🏙️ Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferauftrag
Verordnung: Europäische Gemeinschaften
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Verfahren
Verfahrensart: Beschleunigtes Verhandlungsverfahren
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot
Angebotsart: Gesamtangebot
Art des öffentlichen Auftraggebers: Andere
Haupttätigkeit: Sonstiges