Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (DFG-GZ: A 618). SEM/FIB – Zweistrahlgerät zur 3D-Untersuchung biologischer Proben. Digitalisiertes FE - Rasterelektronenmikroskop mit Schottky – Feldemissionskathode, optimiert für hochaufgelöste Abbildung und Analytik. (Beschleunigungsspannung 0,1-30 kV; Auflösung mind. 1 nm bei 15 kV und 1,9 nm bei 1 kV mittels Elektronenquelle und 5-7 nm mittels Ionenquelle), 2. Um auch nicht leitfähige biologische Proben ohne Metallbeschichtung abbilden und elementspezifisch analysieren zu können, sollte das Gerät über ein lokales Gaseinlass-System verfügen um elektrische Aufladungen an nicht leitfähigen Oberflächen zu kompensieren, 3. Um das Gerät zusammen mit am Fachbereich vorhandenen Lichtmikroskopen einsetzen zu können, indem eine zu untersuchende Stelle im Lichtmikroskop automatisch im Rasterelektronenmikroskop des Zweistrahlgerätes wieder gefunden wird (CLEM, Correlative Light and Electron Microscopy), soll das Gerät über die entsprechenden Hard- und Softwareschnittstellen verfügen, auch um sämtliche licht- und elektronenoptische Informationen automatisch miteinander zu korrelieren zu können, 4. Zur großflächigen Abbildung von Gewebeschnitten und Oberflächen, soll das Gerät mit einem erweiterten Rastergenerator ausgestattet sein, der eine Pixelauflösung von bis zu 32 000 x 32 000 bietet, 5. Das Gerät soll einen 6-achsigen motorisierten Probentisch mit supereuzentrischer Genauigkeit besitzen (Kippung = -10-60°; Rotation = 360°, kontinuierlich). InLens BSE - Detektor für höchstauflösende Abbildungen von Rückstreu und Low Loss – Elektronen. Hocheffizienter Szintillatordetektor mit optisch gekoppeltem Photomultiplier zur Energie- und Winkel-Selektion von Rückstreueletronen, welcher insbesondere bestmögliche Abbildungen des Z-Kontrastes bei niedrigen Spannungen (0,1-3kV) erlaubt, 2. InLens SE – Detektor. Dieser Detektor sollte es ermöglichen nahezu 100 % SE 1 Elektronen zu detektieren, d.h. Elektronen, die ausschließlich Informationen der wahren Probenoberfläche enthalten. Dieses soll die Möglichkeit bieten, Aussagen über die ersten Atomlagen zu treffen und weniger über die tieferen Bereiche der sog. Anregungsbirne. Eine simultane Darstellung der InLens - SE - Abbildungen und InLens - BSE - Abbildungen soll möglich sein, 3. Das Gerät sollte zusätzlich über einen Everhart und Thornley – SE2–Detektor - seitlich der elektronenoptischen Achse positioniert - verfügen, 4. STEM-Detektor zur Aufnahme transmittierter Elektronen an dünnen Proben. Hell- und Dunkelfeldabbildungen sollten möglich sein. Deren Signale sollen in jedem beliebigen Mischungsverhältnis abzubilden sein. Das Gerät sollte ein energiedispersives Röntgenanalysesystem (EDX-Detektor) besitzen (Detektion und Quantifizierung von Elementen ab Bor; Aufnahme vollqualitativer und quantitativer EDX-Spektren; automatischer als auch manuell korrigierbarer Untergrund; Mappingprogramm zum Einlesen von SE- bzw. von BSE-Bildern; Anfertigen qualitativer und quantitativer Linescans; Programm zur Aufnahme quantitativer Elementverteilungsbilder). Das Gerät soll die Möglichkeit bieten, eine definierte Signalmischung von 2 beliebig. FIB-System (Focussed Ion Beam): 1. Das FIB-System sollte folgende Spezifikationen besitzen: Quelle: Gallium Liquid Metal Ion Source; Beschleunigungsspannung: 3 kV bis 30 kV; Auflösung: 7 nm bei 30 kV; Einstellung und Abspeicherung jeglicher Strahlströme zwischen 1 pA und 50 nA.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2010-11-10.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2010-10-28.
Auftragsbekanntmachung (2010-10-26) Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Rasterelektronenmikroskope
Volltext:
Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (DFG-GZ: A 618). SEM/FIB – Zweistrahlgerät zur 3D-Untersuchung biologischer Proben. Digitalisiertes FE - Rasterelektronenmikroskop mit Schottky – Feldemissionskathode, optimiert für hochaufgelöste Abbildung und Analytik. (Beschleunigungsspannung 0,1-30 kV; Auflösung mind. 1 nm bei 15 kV und 1,9 nm bei 1 kV mittels Elektronenquelle und 5-7 nm mittels Ionenquelle), 2. Um auch nicht leitfähige biologische Proben ohne Metallbeschichtung abbilden und elementspezifisch analysieren zu können, sollte das Gerät über ein lokales Gaseinlass-System verfügen um elektrische Aufladungen an nicht leitfähigen Oberflächen zu kompensieren, 3. Um das Gerät zusammen mit am Fachbereich vorhandenen Lichtmikroskopen einsetzen zu können, indem eine zu untersuchende Stelle im Lichtmikroskop automatisch im Rasterelektronenmikroskop des Zweistrahlgerätes wieder gefunden wird (CLEM, Correlative Light and Electron Microscopy), soll das Gerät über die entsprechenden Hard- und Softwareschnittstellen verfügen, auch um sämtliche licht- und elektronenoptische Informationen automatisch miteinander zu korrelieren zu können, 4. Zur großflächigen Abbildung von Gewebeschnitten und Oberflächen, soll das Gerät mit einem erweiterten Rastergenerator ausgestattet sein, der eine Pixelauflösung von bis zu 32 000 x 32 000 bietet, 5. Das Gerät soll einen 6-achsigen motorisierten Probentisch mit supereuzentrischer Genauigkeit besitzen (Kippung = -10-60°; Rotation = 360°, kontinuierlich). InLens BSE - Detektor für höchstauflösende Abbildungen von Rückstreu und Low Loss – Elektronen. Hocheffizienter Szintillatordetektor mit optisch gekoppeltem Photomultiplier zur Energie- und Winkel-Selektion von Rückstreueletronen, welcher insbesondere bestmögliche Abbildungen des Z-Kontrastes bei niedrigen Spannungen (0,1-3kV) erlaubt, 2. InLens SE – Detektor. Dieser Detektor sollte es ermöglichen nahezu 100 % SE 1 Elektronen zu detektieren, d.h. Elektronen, die ausschließlich Informationen der wahren Probenoberfläche enthalten. Dieses soll die Möglichkeit bieten, Aussagen über die ersten Atomlagen zu treffen und weniger über die tieferen Bereiche der sog. Anregungsbirne. Eine simultane Darstellung der InLens - SE - Abbildungen und InLens - BSE - Abbildungen soll möglich sein, 3. Das Gerät sollte zusätzlich über einen Everhart und Thornley – SE2–Detektor - seitlich der elektronenoptischen Achse positioniert - verfügen, 4. STEM-Detektor zur Aufnahme transmittierter Elektronen an dünnen Proben. Hell- und Dunkelfeldabbildungen sollten möglich sein. Deren Signale sollen in jedem beliebigen Mischungsverhältnis abzubilden sein. Das Gerät sollte ein energiedispersives Röntgenanalysesystem (EDX-Detektor) besitzen (Detektion und Quantifizierung von Elementen ab Bor; Aufnahme vollqualitativer und quantitativer EDX-Spektren; automatischer als auch manuell korrigierbarer Untergrund; Mappingprogramm zum Einlesen von SE- bzw. von BSE-Bildern; Anfertigen qualitativer und quantitativer Linescans; Programm zur Aufnahme quantitativer Elementverteilungsbilder). Das Gerät soll die Möglichkeit bieten, eine definierte Signalmischung von 2 beliebig. FIB-System (Focussed Ion Beam): 1. Das FIB-System sollte folgende Spezifikationen besitzen: Quelle: Gallium Liquid Metal Ion Source; Beschleunigungsspannung: 3 kV bis 30 kV; Auflösung: 7 nm bei 30 kV; Einstellung und Abspeicherung jeglicher Strahlströme zwischen 1 pA und 50 nA.
Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (DFG-GZ: A 618). SEM/FIB – Zweistrahlgerät zur 3D-Untersuchung biologischer Proben. Digitalisiertes FE - Rasterelektronenmikroskop mit Schottky – Feldemissionskathode, optimiert für hochaufgelöste Abbildung und Analytik. (Beschleunigungsspannung 0,1-30 kV; Auflösung mind. 1 nm bei 15 kV und 1,9 nm bei 1 kV mittels Elektronenquelle und 5-7 nm mittels Ionenquelle), 2. Um auch nicht leitfähige biologische Proben ohne Metallbeschichtung abbilden und elementspezifisch analysieren zu können, sollte das Gerät über ein lokales Gaseinlass-System verfügen um elektrische Aufladungen an nicht leitfähigen Oberflächen zu kompensieren, 3. Um das Gerät zusammen mit am Fachbereich vorhandenen Lichtmikroskopen einsetzen zu können, indem eine zu untersuchende Stelle im Lichtmikroskop automatisch im Rasterelektronenmikroskop des Zweistrahlgerätes wieder gefunden wird (CLEM, Correlative Light and Electron Microscopy), soll das Gerät über die entsprechenden Hard- und Softwareschnittstellen verfügen, auch um sämtliche licht- und elektronenoptische Informationen automatisch miteinander zu korrelieren zu können, 4. Zur großflächigen Abbildung von Gewebeschnitten und Oberflächen, soll das Gerät mit einem erweiterten Rastergenerator ausgestattet sein, der eine Pixelauflösung von bis zu 32 000 x 32 000 bietet, 5. Das Gerät soll einen 6-achsigen motorisierten Probentisch mit supereuzentrischer Genauigkeit besitzen (Kippung = -10-60°; Rotation = 360°, kontinuierlich). InLens BSE - Detektor für höchstauflösende Abbildungen von Rückstreu und Low Loss – Elektronen. Hocheffizienter Szintillatordetektor mit optisch gekoppeltem Photomultiplier zur Energie- und Winkel-Selektion von Rückstreueletronen, welcher insbesondere bestmögliche Abbildungen des Z-Kontrastes bei niedrigen Spannungen (0,1-3kV) erlaubt, 2. InLens SE – Detektor. Dieser Detektor sollte es ermöglichen nahezu 100 % SE 1 Elektronen zu detektieren, d.h. Elektronen, die ausschließlich Informationen der wahren Probenoberfläche enthalten. Dieses soll die Möglichkeit bieten, Aussagen über die ersten Atomlagen zu treffen und weniger über die tieferen Bereiche der sog. Anregungsbirne. Eine simultane Darstellung der InLens - SE - Abbildungen und InLens - BSE - Abbildungen soll möglich sein, 3. Das Gerät sollte zusätzlich über einen Everhart und Thornley – SE2–Detektor - seitlich der elektronenoptischen Achse positioniert - verfügen, 4. STEM-Detektor zur Aufnahme transmittierter Elektronen an dünnen Proben. Hell- und Dunkelfeldabbildungen sollten möglich sein. Deren Signale sollen in jedem beliebigen Mischungsverhältnis abzubilden sein. Das Gerät sollte ein energiedispersives Röntgenanalysesystem (EDX-Detektor) besitzen (Detektion und Quantifizierung von Elementen ab Bor; Aufnahme vollqualitativer und quantitativer EDX-Spektren; automatischer als auch manuell korrigierbarer Untergrund; Mappingprogramm zum Einlesen von SE- bzw. von BSE-Bildern; Anfertigen qualitativer und quantitativer Linescans; Programm zur Aufnahme quantitativer Elementverteilungsbilder). Das Gerät soll die Möglichkeit bieten, eine definierte Signalmischung von 2 beliebig. FIB-System (Focussed Ion Beam): 1. Das FIB-System sollte folgende Spezifikationen besitzen: Quelle: Gallium Liquid Metal Ion Source; Beschleunigungsspannung: 3 kV bis 30 kV; Auflösung: 7 nm bei 30 kV; Einstellung und Abspeicherung jeglicher Strahlströme zwischen 1 pA und 50 nA.
Ort der Leistung Konstanz🏙️ Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferauftrag
Verordnung: Europäische Gemeinschaften
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Verfahren
Verfahrensart: Beschleunigtes Verhandlungsverfahren
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot
Angebotsart: Gesamtangebot
Art des öffentlichen Auftraggebers: Andere
Haupttätigkeit: Sonstiges
Öffentlicher Auftraggeber Identität
Name des öffentlichen Auftraggebers: Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V., Zentrale Beschaffungsstelle
Land: Deutschland 🇩🇪 Kontakt
Internetadresse: www.dfg.de🌏