Beschaffungen: Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. - Max-Planck-Institut für Intelligente Systeme
2 archivierte Beschaffungen
Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. - Max-Planck-Institut für Intelligente Systeme war in der Vergangenheit ein Käufer von laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) und messinstrumente.
In der Vergangenheit waren die Lieferanten von Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. - Max-Planck-Institut für Intelligente Systeme Bruker AXS GmbH und Sentech Gesellschaft für Sensortechnik mbH.
Jüngste Beschaffungen durch Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. - Max-Planck-Institut für Intelligente Systeme
2012-11-26
Plasma-unterstützte Atomic Layer Deposition (ALD) Anlage (Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. - Max-Planck-Institut für Intelligente Systeme)
Lieferung und Installation einer Plasma unterstützte Atomic Layer Deposition (ALD) Anlage. Die Anlage ist so konzipiert, dass sowohl Plasma-unterstützte (PE) als auch Thermische (T) ALD möglich sind. Abgeschieden werden Dünnschichten insbesondere aus Oxyden, Nitriden und Metallen. Ansicht der Beschaffung »
Lieferung und Installation einer Plasma unterstützte Atomic Layer Deposition (ALD) Anlage. Die Anlage ist so konzipiert, dass sowohl Plasma-unterstützte (PE) als auch Thermische (T) ALD möglich sind. Abgeschieden werden Dünnschichten insbesondere aus Oxyden, Nitriden und Metallen. Ansicht der Beschaffung »
2011-07-19
Röntgendiffraktometer zur Realisierung zweier Messmethoden: Beugungsmessung in Parallelstrahlgeometrie und in Hochauflösung (Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. - Max-Planck-Institut für Intelligente Systeme)
Röntgendiffraktometer zur Durchführung von Hochauflösungs- und Reflektometriemessungen sowie zur Untersuchung der kristallographischen Textur und der Spannungszustände von polykristallinen Proben. Ansicht der Beschaffung »
Röntgendiffraktometer zur Durchführung von Hochauflösungs- und Reflektometriemessungen sowie zur Untersuchung der kristallographischen Textur und der Spannungszustände von polykristallinen Proben. Ansicht der Beschaffung »