2012-08-20Critical Dimension Scanning Electron Microskop (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Im Bereich Mikrosystemtechnik soll zur Inspektion und Prozesskontrolle ein hochauflösendes CDSEM eingesetzt werden.
Es sollen mikromechanische Strukturen verschiedener Materialen schnell und mit hoher Präzision vermessen werden.
Das Beladen des Geräts mit Wafern soll vollautomatisch mittels Wafercarriern erfolgen. Die Wafer sollen mit zuvor programmierten Messaufgaben vollautomatisch vermessen werden. Es kommen auch Gebrauchtgeräte in die Auswahl.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Hitachi High-Technologie
2012-08-14Bestücker mit Dispenser (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Benötigt wird ein Präzisions Flip-Chip Bestückautomat zum Platzieren von elektronischen und optischen Bauteilen von 6"- und 8"-Bauteilträgern. Der Bestückautomat soll primär für die Präzisionsbestückung von Quarzglasblenden für die Augenheilkunde eingesetzt werden und mit einem Dosiersystem für hochviskose Materialien für geringe Klebstoffmengen ausgelegt sein. Ergänzend soll die Maschine flexibel für weitere Pilotserienfertigungen mit großen Trägersubstraten und für zukünftige F+E - Projekte geeignet sein.
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2012-03-16Errichtung einer Dampfturbine T6 mit Generator und Nebenanlagen (SWN Stadtwerke Neumünster GmbH)
Vom Kraftwerksstandort Bismarckstraße wird derzeit ein umfangreiches Dampfnetz versorgt. In den nächsten Jahren wird das Dampfnetz schrittweise in eine Wärmeversorgung mit Heizwasser als Wärmeträger umgebaut. Die derzeit am Standort in Betrieb befindlichen Dampfturbinen unterschiedlicher Bauart und Leistung sind für eine solche Umstellung nur zum Teil geeignet. Daher sollen die vorhandenen Turbinen durch eine neue Turbine ergänzt werden, die optimal für den Umstellungsprozess ausgelegt wurde.
Dabei soll …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:MAN Diesel & Turbo SE
2012-03-14Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Im Bereich Mikrosystemtechnik soll zur Inspektion und Analyse von mikrotechnischen Bauelementen ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop in Kombination mit einer fokussierten Ionenstrahlsäule (FIB) eingesetzt werden. Es sollen verschiedene Materialen und Materialkombinationen, wie z.B. Si, SiOx, SiNx, Ni, Au, PZT, Polymere..., hochauflösend und mit gutem Kontrast ohne weitere Beschichtung abgebildet werden. Nichtleitende Proben sollen auch ohne Bedampfung und aufladungsfrei mit genügend hohen …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Microscopy GmbH
2011-12-14ALD-Anlage (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Mit einer Anlage zur „atomic layer deposition“ ist es möglich, schichtweise Material auf einer Oberfläche abzuscheiden, wobei jede Schicht durch einen besonderen chemischen Mechanismus nur eine Molekül- oder Atomlage umfasst. Mit diesem Verfahren ist es möglich, sehr dünne Schichten abzuscheiden, gerade auch, wenn das Substrat gestuft oder sogar tiefe Gruben aufweist.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Beneq Oy
2011-12-08Jahresabschlußprüfung nach HGB, KPG, HGrG (SWN Stadtwerke Neumünster Beteiligungen GmbH)
Rahmenvertrag über die Prüfung der Jahresabschlüsse der SWN Stadtwerke Neumünster Beteiligungen GmbH und der unter VI.3) genannten Tochterunternehmen incl. Konzernabschluß für die Jahre 2012 bis 2016. Die Beauftragung erfolgt jeweils für ein Jahr. Es ist beabsichtigt, für die Dauer von 5 Jahren (2012 bis 2016) die Bestellung der Jahresabschlußprüfer auf der Grundlage der Ausschreibung vorzunehmen. Eine verbindliche Zusage, den Auftrag für den gesamten Zeitraum an den mit der Ausschreibung ausgewählten …
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