2018-10-29Transmissionselektronenmikroskopie (Universitätsklinikum Aachen AöR)
Es soll ein voll funktionsfähiges hochauflösendes 120 kV TEM (Transmissionselektronenmikroskop) mit spezieller Kryo-Einheit (Kryo-Transfereinheit für TEM) als Gesamtsystem angeschafft werden. Mit diesem System sollen sowohl native als auch Proben aus Lehre, Forschung und Diagnostik untersucht werden.
Das TEM muss als Neugerät angeboten werden, es darf sich nicht um ein Gebraucht- oder sogenanntes „Refurbished" System handeln.
Die Lieferung, Installation, Einweisung, Abnahme und Rechnungstellung muss …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Hitachi High-Technologies Europe GmbH
2016-09-13CD-SEM (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe)
Teil 1 von 2:
Das Fraunhofer IMS benötigt ein neues oder generalüberholtes („refurbished“) CD-SEM. In diesem CD-SEM werden 8“ (200 mm) Wafer.Das CD-SEM wird als Rasterelektronenmikroskop (SEM) und als Messgerät für das kritische Maß (CD) in unserer Standard Produktion verwendet.
Die Wafer werden automatisch durch einen Robot-Handler von Kassette beladen. Das Messgerät beinhaltet eine Software, die das CD sowohl automatisch als auch manuell misst.
Das System soll vom Hersteller als “stand-alone-tool” oder …
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2012-05-08Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
REM zur Analyse und Charakterisierung von Nanopartikeln, Polymer-Nanokompositen, Nano- und Mikrostrukturen eingesetzt werden. Es soll verschiedene leitende Materialien und Materialkombinationen (Metalle, Legierungen, ...) hochauflösend und mit gutem Kontrast abbilden können, desweiteren hochauflösende Untersuchungen der Morphologie von Nanopartikeln ermöglichen.
Es können auch Gebraucht- oder Vorführgeräte angeboten werden.
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