Anbieter: KLA-Tencor Corporation
2 archivierte Beschaffungen
KLA-Tencor Corporation war in der Vergangenheit ein Lieferant von elektrische Maschinen, Geräte, Ausstattung und Verbrauchsartikel; Beleuchtung, industrielle Maschinen und maschinen für allgemeine und besondere Zwecke.
Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter KLA-Tencor Corporation erwähnt wird
2018-05-15
Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines automatischn Oberflächeninspektionssystems (Forschungsverbund Berlin e. V.)
Zerstörungsfreies optisches System für die Inspektion von Halbleiteroberflächen, das zur Detektion und Klassifizierung von Partikeln und Oberflächendefekten im Sub-Mikrometerbereich eingesetzt werden soll. Die konkrete Leistungsbeschreibung finden Sie unter dem link: http://www.fv-berlin.de/administration/einkauf-bau-liegenschaften-1/ausschreibungen/ausschreibungen Ansicht der Beschaffung »
Zerstörungsfreies optisches System für die Inspektion von Halbleiteroberflächen, das zur Detektion und Klassifizierung von Partikeln und Oberflächendefekten im Sub-Mikrometerbereich eingesetzt werden soll. Die konkrete Leistungsbeschreibung finden Sie unter dem link: http://www.fv-berlin.de/administration/einkauf-bau-liegenschaften-1/ausschreibungen/ausschreibungen Ansicht der Beschaffung »
2016-04-14
Partikelmessgerät (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Partikelmessgerät Das Partikelmeßgerät dient zur Bestimmung der Anzahl und Größe von unerwünschten Partikeln von hochreinen Siliziumwafern. Durch das Abscannen der Waferoberfläche mittles Laserstrahl können auch Defekte wie Kratzer oder eine zu hohe Öberflächenrauhigkeit erfasst werden. Das Gerät soll für blanke, beschichtete oder strukturierte Wafer mit einem Durchmesser von 200mm und 150mm eingesetzt werden. Die Partikelmessung ist unerlässlich für die Kontaminationsüberwachung unserer Anlagen … Ansicht der Beschaffung »
Partikelmessgerät Das Partikelmeßgerät dient zur Bestimmung der Anzahl und Größe von unerwünschten Partikeln von hochreinen Siliziumwafern. Durch das Abscannen der Waferoberfläche mittles Laserstrahl können auch Defekte wie Kratzer oder eine zu hohe Öberflächenrauhigkeit erfasst werden. Das Gerät soll für blanke, beschichtete oder strukturierte Wafer mit einem Durchmesser von 200mm und 150mm eingesetzt werden. Die Partikelmessung ist unerlässlich für die Kontaminationsüberwachung unserer Anlagen … Ansicht der Beschaffung »